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OF testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 23309



例文

A terminal 13 provided with the I/F of the network having the test function transmits the character of a previously specified error to a terminal 11 by generating a test packet 12.例文帳に追加

テスト機能を有するネットワークのI/Fを設けた端末13は、予め特定のエラーの性質をテストパケット12を生成して端末11へ送信する。 - 特許庁

To provide a radio communication system capable of remarkably increasing test efficiency by enabling automatic testing of test items being specified not to be overlapped.例文帳に追加

重複がないように規定された試験項目を自動試験で実施可能とし、試験効率を非常に高くすることが可能な無線通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test device which can specify a memory cell in which read-out and write-in cannot properly be performed when a test of a memory cell of a DRAM is performed.例文帳に追加

DRAMのメモリセルのテストを行ったときに、読み出しおよび書き込みが適切に行われなかったメモリセルを特定できるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To completely automatize airtightness test process, obtain an optimum detection capability of the waste water trap and improve reliability of test results.例文帳に追加

気密性検査工程を完全自動化できることに加えて、排水トラップに最適な検出能力を得ることができ、検査結果の信頼性を向上できる。 - 特許庁

例文

Therefore, an electricity test of a state of conduction between the external electrode terminals 9a and 9b for test is conducted to determine whether the peeling is occurring.例文帳に追加

したがって、テスト用外部電極端子9aおよび9bの導通状態を電気テストすることによって、当該剥離の有無を判定できる。 - 特許庁


例文

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR PREVENTING OVERLOAD OF RECEIVER IN TRANSCEIVER TEST例文帳に追加

トランシーバ試験の際にレシーバの過負荷を防止する試験装置及び方法。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND TEST HANDLER FOR THE SAME例文帳に追加

半導体パッケージの電気特性測定方法およびこのためのテストハンドラ - 特許庁

To efficiently verify the functions of a DUT by making it possible to create test items, test specifications, and tests for the verification of the DUT functions with high quality and efficiency.例文帳に追加

DUTの機能検証用のテスト項目、テスト仕様、テストを高品質かつ高効率に作成可能とし、DUTの機能検証を効率よく行う。 - 特許庁

REFERENCE STANDARD FOR DIGITIZATION OF RADIOGRAPHIC TEST FILM AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

放射線透過試験フィルムのデジタル化用基準ゲージ及びその製造方法 - 特許庁

例文

To provide a test interface device for a semiconductor device of simple structure which prevents sockets from being damaged when engaging a contact terminal of the test socket with the adapter socket.例文帳に追加

構造が簡素で、テストソケットのコンタクト端子をアダプタソケットに係合する際にソケットの損傷を防いだ半導体装置のテストインタフェイス装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a road noise test road enabling the easy evaluation of road noise by increasing the sound pressure level of the road noise and also provide a road noise test method.例文帳に追加

新設した試験路においてロードノイズの音圧レベルを増加させ、ロードノイズを評価し易くすることが可能なロードノイズ試験路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Data (test data) are recorded so that all of a data region is filled up with the data and border-out including information showing that addition of data is impossible is recorded following the test data.例文帳に追加

データ領域の全てが埋まるようにデータ(テストデータ)を記録し、且つ、このテストデータに続いて、追記不可を示す情報を含むボーダ・アウトを記録する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of reducing external noises as much as possible when performing duration test or acceleration test of an electronic equipment, electronic component, etc.例文帳に追加

電子機器、電子部品等の寿命試験又は加速試験を実行するに際し、外部からのノイズを出来る限り減少し得る試験装置を提供すること - 特許庁

The cause of its death is still not known, but a test for bird flu was negative. 例文帳に追加

死因はまだわかっていないが,鳥インフルエンザの検査は陰性だった。 - 浜島書店 Catch a Wave

More than 91 percent of the examinees, about 510,000 people, took the English test. 例文帳に追加

受験者の91%以上にあたる約51万人が英語の試験を受けた。 - 浜島書店 Catch a Wave

In fact, Sony Corporation uses them to test the performance of its microphones. 例文帳に追加

実際に,ソニーは明珍火箸を自社マイクの性能検査に使用している。 - 浜島書店 Catch a Wave

A total of more than 100 people in Okayama Prefecture will participate in the test. 例文帳に追加

岡山県内の計100人以上の人々がこの試験に参加する予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide an emulation device capable of transmitting test data based on actual operation data in flexible transmission timing according to a purpose of a test.例文帳に追加

実際の運用データに基づくテストデータを、テストの目的に応じた柔軟な送信タイミングで送信可能なエミュレーション装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method of generating a test pattern capable of conducting a dynamic test for each path in a semiconductor integrated circuit including a memory circuit.例文帳に追加

メモリ回路を含む半導体集積回路の各パスの動的な試験を行うことが可能となるテストパターン生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to precisely inspect pixels by an array test of an array substrate having a built-in driving circuit since the test is influenced by characteristics difference of analog switches.例文帳に追加

駆動回路を内蔵したアレイ基板のアレイテストでは、アナログスイッチの特性差の影響を受けるために画素の検査を精度良く行うことが難しい。 - 特許庁

To provide a test method capable of detecting oil separability of lubricating grease more accurately than hitherto, and a testing device for executing the test method.例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を以前よりも正確に検出することができる試験方法及び当該試験方法を実施する試験装置を提供する。 - 特許庁

ADHESION STRENGTH EVALUATION METHOD OF FLOOR POLISH FILM AND TEST TOOL FOR THE SAME例文帳に追加

フロアーポリッシュ皮膜の密着強度評価方法、及びそれ用の試験治具 - 特許庁

Information regarding the tilt of a recording head is detected on the basis of the test pattern by recording the test pattern with a scanning rate slower than that in normal recording.例文帳に追加

通常の記録よりも遅い走査速度によりテストパターンを記録し、このテストパターンに基づき記録ヘッドの傾きに関する情報を検出する。 - 特許庁

Test of the GPS reception part 110 and changes of test voltage are repeatedly performed to determine the voltage to be supplied to the GPS reception part 110.例文帳に追加

そして、GPS受信部110の検査と、検査用電圧の変更とを繰り返し実行して、GPS受信部110への供給電圧を決定する。 - 特許庁

To provide a carrier disassembler capable of disassembling a carrier for test.例文帳に追加

試験用キャリアを分解することができるキャリア分解装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tool capable of efficiently performing a fuel resistance test.例文帳に追加

耐燃料性試験を効率的に行うことができる治具を提供する。 - 特許庁

A test pad 7 (second test pad) is connected commonly to the bases (control terminals) of the plurality of transistors 4 via wiring 6 which passes through the dicing line 3.例文帳に追加

複数のトランジスタ4のベース(制御端子)に、ダイシングライン3内を通る配線6を介して、共通にテストパッド7(第2テストパッド)が接続されている。 - 特許庁

A memory circuit stops application of write-in voltage to the memory cell during the test period, and applies wrote-in voltage to the memory cell after finish of the test period.例文帳に追加

記憶回路は、テスト期間中にメモリセルへの書き込み電圧の印加を停止し、テスト期間終了後に書き込み電圧をメモリセルに印加する。 - 特許庁

To shorten a test time for setting a threshold voltage of a reference memory cell.例文帳に追加

リファレンスメモリセルの閾値電圧を設定するための試験時間を短縮する。 - 特許庁

JIG FOR INSTALLATION OF CONNECTING PIPE IN WIND TUNNEL MODEL, AND MODEL FOR WIND TUNNEL TEST例文帳に追加

風洞模型の導圧管取付用治具及び風洞試験用模型 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING CREATION OF TEST VIEWPOINT FOR PROGRAM例文帳に追加

プログラムのテスト観点作成支援方法およびテスト観点作成支援システム - 特許庁

Test terminals 21-4 correspond to the data program terminals of FPGA.例文帳に追加

テスト用端子21−4は、FPGAのデータプログラム用端子に対応している。 - 特許庁

To provide a test plug excellent in working easiness and free of risk to damage threads in a groove formed in a joint provided at the piping outlet or the threaded portion of the test plug.例文帳に追加

作業性に優れ、またテストプラグの螺子部や配管出口に設けられた継ぎ手の凹溝の螺条を傷めることのないテストプラグを提供する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING ANALYTE TEST STRIP FOR ACCEPTING DIVERSE SAMPLE VOLUMES例文帳に追加

種々のサンプル量を受容するための検体試験片を製造する方法 - 特許庁

An off-set of the test result histogram HCUT to the reference histogram HEXP is also found.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

To provide a tensile test method and a device capable of performing inexpensively a test in a low speed area, in a tensile tester of a Hopkinson bar system.例文帳に追加

ホプキンソンバー方式の引張り試験機において、安価に低速域の試験も行える引張り試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A characteristic line extraction unit 105 extracts a characteristic line of a test object from data of a test object image taken by an imaging device being in a predetermined attitude.例文帳に追加

特徴線抽出部105は、撮像装置が所定の姿勢で検査対象を撮像した画像データから検査対象の特徴線を抽出する。 - 特許庁

To develop a creep testing machine capable of performing a creep test in a state of keeping actual stress constant by adjusting the tensile force acting on a test piece.例文帳に追加

試験片に作用する引張力を調整して、真応力を一定に維持しながらクリープ試験を実施できるクリープ試験機を開発すること。 - 特許庁

TEST METHOD OF CONCRETE WATERPROOF LAYER, AND TESTING MACHINE USING SAME例文帳に追加

コンクリート防水層の試験方法およびこの方法で使用する試験装置 - 特許庁

To make the result of a test more accurate by inhibiting the driving force of the vehicle under running test from becoming different value at running on the actual road.例文帳に追加

走行試験中の車両の駆動力が実路走行時と異なる値になることを抑制し、その走行試験の試験結果をより正確なものとする。 - 特許庁

To improve alignment accuracy between an electrode pad and a probe pin in an electric characteristic test of a semiconductor element, and work efficiency of the electric characteristic test.例文帳に追加

半導体素子の電気的特性試験における、電極パッドとプローブピンとの位置あわせの精度、電気的特性試験の作業効率を向上させる。 - 特許庁

CREATION OF TEST ANIMAL IN WHICH MUTATED CELL TWINKLES, AND UTILIZATION THEREOF例文帳に追加

突然変異を起こした細胞が光る実験動物の作製とその利用 - 特許庁

To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加

BOST及びBISTを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester advantageous in terms of cost while it can rapidly and surely execute a test for authenticity of a test object having a hologram.例文帳に追加

ホログラムを備えた被検査物の真偽のための検査を迅速かつ確実に行えるものでありながら、コスト面において有利な検査器を提供する。 - 特許庁

To reduce test cost in each digital processing circuit by minimizing the frequency of a logic test of a logic circuit on the digital processing circuit on which an LSI or the like is mounted.例文帳に追加

LSI等を実装したデジタル処理回路上の論理回路のロジックテストの回数を最小化してデジタル処理回路ごとのテストコストを削減する。 - 特許庁

A manhour operating part 43 performs estimation processing of test manhour about an evaluator and a test designated according to display contents of a display part 20.例文帳に追加

工数演算部43は、表示部20の表示内容にしたがって指定された評価者およびテストに関して、テスト工数を見積もる処理を実行する。 - 特許庁

One test pattern is divided into a plurality of blocks and deployed, optimal block layout is performed in accordance with a size of a recording medium, and the test pattern is deployed.例文帳に追加

1つのテストパターンを複数ブロックに分割して展開し、記録媒体のサイズに応じて最適なブロックレイアウトを行い、テストパターンを展開する - 特許庁

To make it possible to perform a functional test and a performance test reflecting a user's data and a setup of the user's device before a firmware of an image formation device is distributed.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェア配信前に、ユーザーのデータや機器の設定を反映した形で機能テスト及びパフォーマンステストをできるようにする。 - 特許庁

To improve observability and controllability of analog LSI in a test.例文帳に追加

アナログLSIの試験における観測性および制御性を向上させる。 - 特許庁

例文

A relation between the concentration of calcium sulphate and the wear rate (metal wear rate) of the block test piece in the wear test is found as an increasing relation expression (exponential relation expression).例文帳に追加

該摩耗試験の際における硫酸カルシウム濃度とブロック試験片の摩耗率(メタル摩耗率)との関係を増加関係式(指数関係式)として求める。 - 特許庁




  
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