「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

To provide a probe card which reduces parasitic capacitance of parts and wiring thereon and performs an optimum AC test in an AC test in a probe test, which is susceptible to neighboring circuitry.例文帳に追加

周辺回路の影響を受けやすいプローブ試験のＡＣ試験において、プローブカード上の部品、配線の寄生容量を軽減し、最適なＡＣ試験を行うプローブカードを提供する。 - 特許庁

During a test, at least one test program is executed which allows a flash controller on each flash controller die to test one or more flash memory dies of each flash device.例文帳に追加

テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。 - 特許庁

After a test resist film consisting of a chemically amplifying resist material is formed, the test resist film is subjected to pattern exposure and developing to form a test resist pattern 14A.例文帳に追加

化学増幅型レジスト材料よりなるテスト用レジスト膜を形成した後、該テスト用レジスト膜に対してパターン露光及び現像を行なって、テスト用レジストパターン１４Ａを形成する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

The test circuit 4 is set in a test operation mode including a plurality of modes by switching internal multiplexers 11a, 11b corresponding to a test signal TST[a:b] used as a mode switching signal.例文帳に追加

テスト回路４は、モード切替信号となるテスト信号ＴＳＴ［ａ：ｂ］に応じて内部のマルチプレクサ１１ａ、１１ｂが切り替えられ、複数のモードからなるテスト動作モードに設定される。 - 特許庁

If the RTT test of the other individual request authentication processing is passed, the RTT test for the AKE request being processed is regarded as passed, and authentication processing is continued without carrying out the RTT test.例文帳に追加

そして、当該他の個別リクエスト認証処理のRTTテストがパスした場合には、処理中のＡＫＥリクエストについてのRTTテストがパスしたものとして、RTTテストを実行せずに認証処理を進める。 - 特許庁

To provide a device for generating masking data for test which eliminates information leakage of production data in creating test data, and high consistency and validity with original data as a test data.例文帳に追加

テストデータを作成することにおいて、本番データの情報漏洩を無くし、なおかつテストデータとして元のデータとの整合性・有効性が高いテスト用マスキングデータ生成装置を提供する。 - 特許庁

To automatically and accurately inspect a test-target device without preparing reference images for judging images from the test-target device and expectation values of log output from the test-target device in advance.例文帳に追加

テスト対象装置の画像判定を行うための基準画像や、テスト対象装置のログ出力の期待値を予め準備することなく、テスト対象装置を正確に自動検証する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform an accurate vibration test by offsetting vibration coupled to the test vibration in an active vibration isolation device having a function of applying the test vibration to a supporting object.例文帳に追加

被支持体へ試験振動を付加する機能を有するアクティブ除振装置において、その試験振動に連成する振動を相殺し、正確な振動試験を行えるようにする。 - 特許庁

Voltage is applied to the test piece via an applying electrode, and resistivity in each portion of the test piece S is measured by electrically connecting between the test piece S and measuring electrodes P1-n.例文帳に追加

試験体に印加用電極を介して電位を与えると共に、測定用電極Ｐ１〜ｎと試験体Ｓとを導通させて試験体Ｓの各部位における比抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.例文帳に追加

コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

The test signal generating section 811a generating current, the absolute value of which increases for every one period, only for a predetermined period as the positive test current and the negative test current.例文帳に追加

また、検査信号生成部８１１ａは、正検査電流及び負検査電流として、その絶対値が１周期毎に増大する電流を所定周期分だけ生成するものである。 - 特許庁

To provide a method for detecting a test pattern capable of easily detecting the test pattern itself even for the test pattern recorded with ink with poor visibility, and an inkjet printer.例文帳に追加

視認性の悪いインクで記録されたテストパターンでも、そのテストパターンそのものを容易に検出することのできるテストパターンの検出方法及びインクジェットプリンタを提供すること。 - 特許庁

To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.例文帳に追加

正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁

To achieve creation or the like of a test flow including a test necessary for accurately detecting a good product as a good product and a defective product as a defective product, and not including an unnecessary test.例文帳に追加

良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成の実現等。 - 特許庁

To test by mixing at random individual instructions selected from test object instructions at random and a command string pattern constituted of pre-created test object instructions.例文帳に追加

試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする - 特許庁

The test circuit 50 stores a programmable test pattern 55 for inspecting the cache memory 40, and instructs reading/writing of data to the cache memory 40 according to the test pattern 55.例文帳に追加

このテスト回路５０は、キャッシュメモリ４０を検査するためのプログラマブルなテストパターン５５を格納し、そのテストパターン５５に従って、キャッシュメモリ４０に対するデータの読み書きを指示する。 - 特許庁

The server device estimates the quality of audio and/or video indicated by the test data received by the reception-side terminal unit, based on the received test data and stored test data.例文帳に追加

サーバ装置は、受信された試験データと、記憶されている試験データと、に基づいて、受信側端末装置が受信した試験データが表す音声及び／又は映像の品質を推定する。 - 特許庁

With this structure, the withstand voltage test and the electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel can be carried out without detaching the wire connection device from the block terminal stand.例文帳に追加

このように構成することによって、結線装置をブロック端子台から取り外すことなく、配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行うことができる。 - 特許庁

To provide a USB test circuit which generates and outputs packets for measurement for the test of signal quality and uses a USB function for the test in a USB device such as a system LSI having a USB function.例文帳に追加

USB機能を有するシステムLSIなどのUSB装置において、信号品質のテスト用の測定対象パケットを生成および出力して、そのUSB機能をテストに供するUSBテスト回路を提供。 - 特許庁

After receiving the loop control response frame, the transmission apparatus 1-31 transmits the test frame to the frame transmission interval and checks the returned test frame to test the quality of the lines.例文帳に追加

伝送装置１−３１はループ制御応答フレームを受信後、試験フレームをフレーム伝達区間に送出し、返送された試験フレームをチェックして回線の品質を試験する。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準（Ｖ_ｒｅｆ＿ｔｅｓｔ）を有する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

An automatic test generation means 13 generates a test nucleus changing the request of a target based on the classified communication log, and generates an automatic test 24 wherein the instruction string is combined.例文帳に追加

自動テスト生成手段１３は、分類された通信ログに基づいて対象のリクエストを改変するテスト核を生成し、命令列と組み合わせた自動テスト２４を生成する。 - 特許庁

In the branch prediction circuit test device 1, a random instruction generation part 11 generates a random instruction sequence, and a test execution control part 12 makes a device 2 of the test object execute the instruction sequence.例文帳に追加

分岐予測回路試験装置１のランダム命令生成部１１がランダム命令列を生成し、試験実行制御部１２が該命令列を被試験対象装置２に実行させる。 - 特許庁

(i) a plan for conducting test business concerning the employees, equipment, methods for conducting test business and other matters is appropriate for the proper and reliable implementation of test business; and 例文帳に追加

一　職員、設備、試験業務の実施の方法その他の事項についての試験業務の実施に関する計画が、試験業務の適正かつ確実な実施のために適切なものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A refractive index of the test object is calculated based on Z_1, Z_10, Z_2, Z_20, a spacing L_1 sandwiching the test object in the first container, and a spacing L_2 sandwiching the test object in the second container.例文帳に追加

Ｚ_１、Ｚ_１０、Ｚ_２、Ｚ_２０と、第１の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_１と、第２の容器の被検物を挟む面間隔Ｌ_２から被検物の屈折率を算出する。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range.例文帳に追加

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。 - 特許庁

The image data generation section 71 prepares test image data to be outputted to the image data generation section 71 on the basis of test data stored in a test data storage section 78 (EEPROM 65).例文帳に追加

画像データ生成部７１は、テストデータ記憶部７８(ＥＥＰＲＯＭ６５)に格納されるテストデータに基づいて、画像データ生成部７１に対して出力するテスト画像データを作成する。 - 特許庁

A communication node 2, which receives such a loop test signal LT, applies information P(2,1) 62 of the present receiving port to the received loop test signal LT and repeats the loop test signal LT.例文帳に追加

このループテスト信号ＬＴを受信した通信ノード２は、受信したループテスト信号ＬＴに自己の受信ポートの情報Ｐ（２、１）６２を付与してループテスト信号ＬＴをリピートして行く。 - 特許庁

The tester comprises a vibration part 1a for vibrating the test body, a drive control means (for example, CPU8 and the like) and is a vibration tester 100 for conducting the vibration test of a test body.例文帳に追加

供試体を加振する加振部１ａと、加振部の駆動を制御する駆動制御手段（例えば、ＣＰＵ８等）と、を備え、供試体の振動試験を行う振動試験装置１００である。 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.例文帳に追加

遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁

The pickup 24 is first moved to a test recording area of an optical disk 22, switching it to a test pattern generating circuit 64 by a switching circuit 62 and a test pattern signal is recorded in the optical disk 22.例文帳に追加

まず、ピックアップ２４を光ディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号を光ディスク２２に記録する。 - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

To provide a test environment adjusting device of a central air conditioner, reducing consumption energy required for forming a test environment and stabilizing the test environment.例文帳に追加

試験環境の形成にかかる消費エネルギーを低減するとともに、その試験環境を安定化させることができるセントラル空調装置の試験環境調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of a test with an irregular test pattern by adding a simple constitution to a semiconductor testing device for testing with a regular test pattern.例文帳に追加

規則的なテストパターンでテストを行うための半導体試験装置に簡易な構成を付加することで不規則テストパターンでのテストが可能となる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bus loading test device and a processing system by which a state of a bus loading is realized at optional set ratio and a bus test is easily performed with successful test efficiency.例文帳に追加

設定した任意の割合でバス負荷の状態を実現でき、しかも試験効率良く容易にバス試験を行うことができるバス負荷試験装置および処理システムを提供する。 - 特許庁

This device performs a confirmation test to confirm the subject's understanding ability to the test according to the contents of the reply and determines whether further performing the balance test or not.例文帳に追加

また、応答の内容に応じて被検者の検査に対する理解能力を確認するための確認テストを行い、そのままバランステストを行うかどうか判断するようになっている。 - 特許庁

A test mode signal generating circuit outputs a signal TMCE corresponding to the setting confirming mode in addition to test mode signals ZTM0-ZTMm corresponding respectively to a plurality of test modes.例文帳に追加

テストモード信号発生回路は、複数のテストモードにそれぞれ対応するテストモード信号ＺＴＭ０〜ＺＴＭｍに加えて設定確認モードに対応する信号ＴＭＣＥを出力する。 - 特許庁

The test die can be designed according to a design methodology for a test die and a product die that includes a step of concurrently designing test circuitry and product circuitry in a unified design.例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路及び製品回路を統合化された設計に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論に従って設計可能である。 - 特許庁