| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加
フラットベルト式走行試験装置100がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ32をオン操作する。 - 特許庁
To provide a seal kit suitable for a leak test device enabling an accurate leak test while including a mechanism of simple and low-power type.例文帳に追加
簡易かつローパワータイプの機構を含みながらも、正確にリークテストを行えるリークテスト装置に適したシールキットを提供する。 - 特許庁
To provide a test piece and a crack development behavior monitoring device for the test piece capable of grasping and recognizing crack development behavior in advance.例文帳に追加
事前にき裂進展挙動を把握、認識できる試験片および試験片のき裂進展挙動モニタリング装置を提供する。 - 特許庁
A TEG (Test Element Group) forms an electric characteristic evaluation pattern that is provided with a plurality of unit transistors T11, T12, T13, T21, T22, T23, T31, T32, and T33.例文帳に追加
TEG(Test Element Group)1は、格子状に配列された複数の単位トランジスタT11,T12,T13,T21,T22,T23,T31,T32,T33を備えた電気特性評価パターンである。 - 特許庁
To provide a test telephone set capable of performing a test even without a permanently installed repeater system or 1.5MPDH apparatus.例文帳に追加
常設されたレピータ装置や1.5MPDH装置がなくても、試験を行うことが可能な試験用電話機を提供する。 - 特許庁
To provide a rotor swinging adjusting tool performing a subtle adjustment work easily, and shortening greatly a test time of a drag test.例文帳に追加
微妙な調整作業が容易で、引摺り試験の試験時間も飛躍的に短縮できるロータ振れ調整治具を提供する。 - 特許庁
To provide a test method for a RAM by which a test time of a semiconductor device incorporating plural RAMs can be shortened.例文帳に追加
複数のRAMを搭載する半導体装置のテスト時間を短縮することができるRAMのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide an IC tester which performs an accurate test even when a pin of a test object is switched by a switch.例文帳に追加
スイッチにより、被試験対象のピンを切り替えても、正確に試験が行えるICテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁
To use a tool in a such a state that the performance of a test class is stopped in debugging the test class by a debugger.例文帳に追加
デバッガにてテストクラスのデバッグをするときに、テストクラスの実行を停止したままの状態でツールを使用できるようにする。 - 特許庁
After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).例文帳に追加
ウエハ状態でのデータ保持特性試験(ステップS4)終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える(ステップS6)。 - 特許庁
To realize a semiconductor device capable of initial operation test even in the situation where a program for the test cannot be stored in a ROM.例文帳に追加
ROMに試験用プログラムを記憶させることができない場合にも初期動作の試験が可能な半導体装置の実現。 - 特許庁
To provide a semiconductor device including a test circuit capable of making unnecessary dedicated wiring for each test signal and reducing writing regions.例文帳に追加
テスト信号毎の専用配線を不要とし、配線領域を削減できるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁
To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加
時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁
Then, the test signal T is reproduced from the test area at predetermined timing to calculate the quality deterioration of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加
所定のタイミングで、テスト領域のテスト信号Tを再生し、その評価結果からユーザデータUの品質劣化を推定する。 - 特許庁
To test a semiconductor integrated circuit with no restrictions on the number of test patterns without preliminarily preparing an expected value.例文帳に追加
期待値を予め準備することなく、またテストパターンの数が制限されることなく半導体集積回路のテストを行う。 - 特許庁
First communication equipment receives the test signal and adjusts an antenna matching adjustment circuit to maximize the receiving level of the test signal.例文帳に追加
第1の通信装置が該テスト信号を受信し、その受信レベルが最大になるように前記アンテナ整合回路を調整する。 - 特許庁
To provide a CPU board with the online test function of a peripheral device part, and to provide an online test method thereof.例文帳に追加
周辺デバイス部のオンラインテスト機能を備えたCPUボード、及びそのオンラインテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
Then, the complex hypotheses of the classifier are applied to features in a test image to detect whether or not the test image contains the object.例文帳に追加
次に、テスト画像内の特徴に識別器の複合仮説を適用して、テスト画像がオブジェクトを含むか否かを検出する。 - 特許庁
To provide a memory test circuit which can perform surely a high speed test of a whole user circuit including an on-chip-memory in a short time.例文帳に追加
オンチップメモリを含むユーザ回路全体の高速テストを短時間で確実に行うことができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁
Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加
この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁
To provide a testing apparatus which brings about further accurate test results by enabling a test to be performed even in a small piece of land by a self-propelled testing machine.例文帳に追加
狭い土地であっても自走式試験機による試験を可能とし、より正確な試験結果を得る試験装置の提供。 - 特許庁
To provide an IC test system capable of quickly retrieving a desired measurement result file, in debugging a test program for IC testers.例文帳に追加
ICテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なICテストシステムを提供。 - 特許庁
A test solution, for example, a hybridization solution or the like being a target object is allowed to flow to the flow channel of the detector 1 to perform a test.例文帳に追加
この検出体1の流路に試験対象の、例えばハイブリダイゼーション溶液等の試験液を流し試験を行う。 - 特許庁
A test value 14 installed in the water flow detecting device has an angle valve structure, and the installation height of the test valve 14 is lowered.例文帳に追加
流水検知装置に設置される試験弁14をアングル弁構造として、試験弁14の設置高さを低くする。 - 特許庁
After that, generates a test pattern A again (S7 and S8), and measures and stores the image density Da1 to Da4 of the test pattern A (S9).例文帳に追加
その後、再度テストパターンAを生成し(S7、S8)、テストパターンAの画像濃度Da1〜Da4を測定し記憶する(S9)。 - 特許庁
To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加
PLL回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁
A test pattern generating device 2 reads and writes a test pattern with regard to each address of semiconductor memories to be tested.例文帳に追加
テストパターン発生装置2は、試験対象とする半導体メモリの各アドレスに対してテストパターンの書き込み,読み出しを行う。 - 特許庁
To provide a temperature indicator with high detection sensitivity to the temperature of objects under test by making easy heat transfer from objects under test to a case.例文帳に追加
被測定物の熱がケースに伝わり易くして、被測定物の温度の検出感度が高い温度表示器を提供する。 - 特許庁
To reduce a cost required for a test by shortening the time required for the test, and by suppressing increase of a chip area.例文帳に追加
テストに要する時間を短縮し、かつチップ面積の増加を抑えることにより、テストに要するコストを低減することである。 - 特許庁
The elongate strip also includes a large area of contact with the object under test allowing efficient irradiation to the object under test.例文帳に追加
細長いストリップは、試験対象物との大きな接触面積も有し、試験対象物への効率的な照射が可能になる。 - 特許庁
A route delay test is executed to an practically effective route based on information of the logic constitution from inside the route delay test.例文帳に追加
この経路遅延テストのうち論理構成の情報をもとに実効的に有効な経路に対して経路遅延テストを実施する。 - 特許庁
To speedily grasp a result of the test to a telecommunications network without requiring technical knowledge on a test device.例文帳に追加
テレコミュニケーション・ネットワークに対する各試験結果を迅速に、且つ試験装置の専門知識を必要しないで把握できるようにする。 - 特許庁
When a tension test is executed, an operator moves a gripping teeth holder 12 to grip an end part of a test piece by a gripping teeth.例文帳に追加
引張試験を実行するときには、オペレータがつかみ歯ホルダー12を移動させて試験片の端部をつかみ歯により把持する。 - 特許庁
By this, the test of the optical disk device 1 can easily carried out without using the test optical disk or a host PC.例文帳に追加
これにより、光ディスク装置1の試験をテスト用のコンパクトディスクやホストPCを使用せずに容易に行うことができる。 - 特許庁
The communication section 10 receives image data of the first test chart 42T and a second test chart 41T photographed by the digital camera 40.例文帳に追加
通信部10は、デジタルカメラ40が撮影した第1テストチャート42T及び第2テストチャート41Tの画像データを受信する。 - 特許庁
The offset voltage and the differential voltage of the differential buffer are evaluated by the tester based on a test pattern by using the test circuit.例文帳に追加
このテスト回路を用いて、テスタにより、テストパターンに基づいて、差動バッファのオフセット電圧と差動電圧の評価を行う。 - 特許庁
During carriage of the article 9 on the conveyor belt 40, a test metal inserting/removing section 60 throws a test metal 61 into the magnetic field.例文帳に追加
コンベヤベルト40による物品9の搬送中に、テスト金属挿脱部60が磁界中にテスト金属61を投入する。 - 特許庁
To conduct tests of built-in DA converter and AD converter without using a test device for analog test.例文帳に追加
内蔵されたDAコンバータおよびADコンバータの試験を、アナログ試験用の試験装置を用いることなく行えるようにする。 - 特許庁
A test fuel is irradiated with epithermal neutrons (S22), and the intensity of the gamma rays emitted from the test fuel is measured (S23).例文帳に追加
試験燃料に熱外中性子を照射し(S22)、その試験燃料から放出されるガンマ線強度を測定する(S23)。 - 特許庁
Firstly, the main unit 30 becomes an active unit, applies test signals to the cable 32 under test and makes a set of measurements.例文帳に追加
最初は、主ユニット30が能動ユニットとなって、被試験ケーブル32に試験信号を印加するとともに一連の測定を行う。 - 特許庁
An input delay test of the client designed circuit 14 is conducted by performing a delay test between the scan flip-flop 21, 24.例文帳に追加
顧客側設計回路14の入力遅延試験をスキャンフリップフロップ22、24間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁
SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, ANIMAL ANALYZER, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
動物検査情報提供システム、中央装置、動物用分析装置、動物検査情報提供方法およびコンピュータプログラム - 特許庁
To provide a turning angle test auxiliary tool for efficiently performing a turning angle test of a vehicle having an air suspension device.例文帳に追加
エアサスペンション装置を備えた車両の転角試験を能率良く実施することができる転角試験補助具を提供する。 - 特許庁
The method body of each generated test is provided solely as a guide and needs to be modified to be an actual test case.You can deselect Default Method Bodies in the Create Tests dialog if you do not want the code generated for you.例文帳に追加
コードを生成しない場合は、「テストを作成」ダイアログの「デフォルトのメソッド本体」を選択解除します。 - NetBeans
To provide a software component test system and method for accurately performing the test of software components.例文帳に追加
ソフトウェアコンポーネントのテストを正確に行うことが可能なソフトウェアコンポーネントテストシステム及びソフトウェアコンポーネントテスト方法を提供する。 - 特許庁
Even when snow happened to fall and a small amount of snow accumulation was observed, the snow melted before starting test runs, not constituting a test. 例文帳に追加
まれに降雪があり、若干の積雪が観測された際も、試運転の開始時には雪が溶けてしまい、テストにならなかった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To provide a test method which can switch multistage test states only by the use of a few external connection terminals.例文帳に追加
僅かの外部接続端子の使用だけで多段のテスト状態の切り換えができるテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To prevent effect on a network by a transmission test even when executing the transmission test of a digital control system connected to the network.例文帳に追加
ネットワークに接続されたデジタル制御システムの伝送試験を行っても、伝送試験によるネットワークへの影響を防止する。 - 特許庁
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