「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a measuring device which can predefine release position of a destructive origin in thermal shock test to enhance the accuracy of the thermal shock test, as the utility of the test is increasingly grown.例文帳に追加

熱衝撃試験において、破壊始点の発生位置を予め定めることができれば、熱衝撃試験の実験精度を上げることができ、熱衝撃試験の有用性は益々増加している。 - 特許庁

To provide a simple solution not requiring tracking/control of an inversion characteristic executed by a test developer in developing a test code, and capable of maintaining the algorithmic side of a test pattern.例文帳に追加

試験コードを開発する際に、試験開発者が反転特性の追跡・管理を行なう必要がなく、なおかつ試験パターンのアルゴリズム的側面を維持することができる単純なソリューションを提供する。 - 特許庁

Moreover, it can be utilized to a measurement, the antidust property test of various sorts of apparatuses, an environmental test, a mixing of medicines, the spray of a slaked lime to the inside of a dust incinerator, and the like.例文帳に追加

その他、計測、各種機器の対粉塵性能試験、環境試験、薬品の混合、ごみ焼却炉内部への消石灰の噴霧などに利用することができる。 - 特許庁

To provide a test procedure evaluation system allowing evaluation of a test procedure for supporting allocation of manual operation to a plurality of operators and estimation of the number of the operators.例文帳に追加

手動操作の複数オペレータへの割り当てと、オペレータ人数の見積りを支援するためのテスト手順の評価を可能とするテスト手順評価システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a cycling test of the number of times of guarantee for all devices can be performed at the time of a screening test and which is constituted of ferroelectric memories.例文帳に追加

スクリーニング試験時、全てのデバイスについて保証回数のサイクリング試験を行うことができる強誘電体メモリで構成された半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To lighten a burden on a test vector designer, to make it possible to input a test vector into a simulator without erroneous input, and also to shorten test vector generating time, by generating the test vector automatically in a short period of time.例文帳に追加

テストベクタを短時間で、かつ自動的に生成することにより、テストベクタ設計者の負荷の低減を図り、誤入力なく、テストベクタをシミュレータに入力に可能としテストベクタ生成時間の短縮化も図ること。 - 特許庁

The function blocks 10a-10C copy the test cell, separates the copied test cell from the original test cell, writes data denoting a loopback to the LBF-x fields of the separated test cell and inserts the resulting cell to a cell transmission line 15.例文帳に追加

各機能ブロック１０ａ〜１０ｃは、試験セルをコピーし、コピーした試験セルをもとの試験セルから分離し、分離した試験セルのＬＢＦ_xフィールドに折返しを示すデータを書き込んでセル伝送路１５に挿入する。 - 特許庁

In the test method for the LSI, the test pattern 25 is created from the source file 27 and a scramble format 28 and the right and wrong of a response signal from the LSI 23 relative to the test pattern is determined by the test plan 24.例文帳に追加

またＬＳＩのテスト方法においては、ソースファイル２７とスクランブル書式２８とからテストパタン２５を作成し、ＬＳＩ２３からのテストパタンに対する応答信号の良否をテストプラン２４に基づいて判定する。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

A test writing control circuit 12 operates in a test mode and in each regular cell array CA 1-4, writes test data in a regular memory cell at a position corresponding to the position of the parity memory cell where test parity data are written.例文帳に追加

試験書き込み制御回路１２は、試験モード中に動作し、各レギュラーセルアレイＣＡ１−４において、試験データを、試験パリティデータが書き込まれるパリティメモリセルの位置に対応する位置のレギュラーメモリセルに書き込む。 - 特許庁

Similarly, registered test cases can be collectively deleted and the registered test cases can be collectively copied by specifying the range to be registered while considering the combination of the test target screen and the test condition.例文帳に追加

また、同様に登録されているテストケースを一括で削除、登録されているテストケースをテスト対象画面とテスト条件の組み合わせを考慮して登録する範囲を指定し、一括でコピーすることが可能である。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

Then, the stored program modules are read, a test point extracting part 4 extracts test points, and test items are outputted from a test point list generating and outputting part 5 on the basis of the extracted results.例文帳に追加

そして、記憶されたこれらのプログラムモジュールを読み出して試験ポイント抽出部４で試験ポイントを抽出し、この抽出結果に基づいて試験項目を試験ポイント一覧生成・出力部５から出力する。 - 特許庁

To efficiently test a case that a branching operation to an address outside a range of an on-chip memory is generated, in an LSI to perform a self-test by a built-in test function based on a test program to be stored in the on-chip memory.例文帳に追加

オンチップメモリに格納されるテストプログラムに基づき、ビルトインテスト機能によりセルフテストを行うＬＳＩにおいて、オンチップメモリの範囲外のアドレスへの分岐動作が発生するケースを効率よくテストする。 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁

The test is conducted by using a tester having a test mask and an radiator to emit light and an objective lens to observe the test mask and a reference grid provided in a pattern observing area of the test mask.例文帳に追加

テストマスクと、テストマスクの、パターンを観察する領域に、光を照射する照射手段と、テストマスクを観察するための対物レンズと、基準格子と、観察手段とを備える検査装置を用いて、検査を行う。 - 特許庁

A test plug 3 is configured so that, when a plug part 31 is inserted into a test terminal port 10, a protective cover 5 covers a test plug body 30 except a plurality of connection plugs 32 protruding to the side opposite to the test terminal port 10.例文帳に追加

テストプラグ３は、プラグ部３１がテスト端子口１０に挿入された場合に、テスト端子口１０とは反対側に突出する複数の接続プラグ３２を除くテストプラグ本体３０が保護カバー５で覆われる。 - 特許庁

The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加

情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁

When a test personnel conducts a test and a mobile terminal 11 dials a test use special number, an exchange 13 sends display and announcement to urge entry of a test personnel ID and a password to the mobile terminal 11.例文帳に追加

試験者が試験実行の際に、移動端末１１から試験用の特殊番号に発信すると、交換機１３は試験者ＩＤと暗証番号の入力を促す表示およびアナウンスを移動端末１１に行う。 - 特許庁

While rear faces of fractured test pieces 2 which are fractured by a tensile test are being illuminated with a first lighting device 30, the two test pieces 2 are imaged by a CCD camera 20, and an image is acquired regarding the test pieces 2.例文帳に追加

引張り試験によって破断した試験片２の背面を第一照明装置３０で照らしながら、ＣＣＤカメラ２０で二つの試験片２を撮像することにより、試験片２についての画像を取得する。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate test item extraction omission and to improve test quality by comprehensively extracting all running routes of a program in test item extraction work.例文帳に追加

試験項目抽出作業においてプログラムの全ての走行ルートを網羅的に抽出することで試験項目抽出漏れを皆無とし、試験品質の向上をはかる。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

Therefore, a sufficient burn-in test can be executed for the digit line being a current line, while a test time of the burn-in test can be shortened.例文帳に追加

したがって、電流線であるデジット線に対して十分なバーンイン試験を実行することができるとともに、いわゆるバーンイン試験の試験時間も短縮することができる。 - 特許庁

An instruction generation parameter required for generating a test instruction stream is generated (201), and on the basis of the parameter, the test instruction stream generated (202) by test instruction string generating processing.例文帳に追加

試験命令列を生成するために必要な命令生成パラメータを作成（２０１）し、試験命令列生成処理が前記パラメータを基に試験命令列を作成（２０２）する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト（ＤＭＡ）を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A test control reception signal means 21 of the communication equipment receives the test control signal frame and a test control signal storage means 22 stores the received frame for a prescribed period.例文帳に追加

試験制御受信信号手段２１により、試験制御信号フレームが受信され、受信されたフレームは、試験制御信号記憶手段２２で一定の期間、記憶される。 - 特許庁

Then, during debugging of the test class 30, the test system 100 controls the test class thread 31 to a stopped state, and controls the tool thread 11 to an operating state.例文帳に追加

そして、この試験システム１００は、テストクラス３０のデバッグ中に、テストクラス・スレッド３１を停止状態に制御するとともに、ツール・スレッド１１を動作状態に制御する。 - 特許庁

Information for identifying the processes carried out on respective test substrates and reusable processes selected for respective test substrates is stored in a history database of the test substrates.例文帳に追加

各々のテスト基板上で行なわれたプロセス及び各々のテスト基板に対して選択された再生利用プロセスを識別する情報がテスト基板の履歴データベースにストアされる。 - 特許庁

The first to m-th control circuits test respective defects of the first to m-th circuit devices, using the test signal, and stop the test when the defect is observed.例文帳に追加

第１乃至第ｍ制御回路は、前記テスト信号を用いて前記第１乃至第ｍ回路装置の各々の欠陥をテストし、欠陥が発見されればテストを止める。 - 特許庁

To provide a simulated transformer and a withstand voltage simulated test device capable of attaining a withstand voltage test in simulation with low voltage and easily changing test conditions.例文帳に追加

低い電圧で耐電圧試験を模擬的に実現することができ、且つ試験条件を容易に変更することができる模擬変圧器及び耐電圧模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

The test data is inputted to the OR element 17, and the OR element 17 masks the second test data on the basis of a mask signal asynchronous with a clock signal and outputs the first test data.例文帳に追加

ＯＲ素子１７は、テストデータが入力され、クロック信号とは非同期であるマスク信号に基づいて、第２のテストデータをマスクして、第１のテストデータを出力する。 - 特許庁

An operation test control means 14 controls the operation tests of processors which are in test run states to conduct a specified operation test.例文帳に追加

そして、動作試験制御手段１４は、動作状態が試験走行状態となっているものについての動作試験を制御し、所定の動作試験を実行させる。 - 特許庁

The test circuits are made operable by a test enable signal 150, and the row driver sequentially makes the rows of the detector operable, along with the individual test circuits.例文帳に追加

テスト回路はテストイネーブル信号（１５０）によって動作可能にされ、また、行ドライバーは、個々のテスト回路と協力して検出器の行を連続的に動作可能にする。 - 特許庁

To provide a mobile terminal device in which a test terminal is disposed at a position where the test terminal is not visible for eyes of a user ordinarily but can be easily connected with a measuring instrument in the test.例文帳に追加

携帯端末装置において、試験用端子を、通常時にはユーザの目に触れることがなく、テスト時には容易に測定装置と接続可能な位置に配置する。 - 特許庁

To provide a test plate for an analyzer which can solve the problems of conventional test paper used in an analyzer, and an analyzer using the test plate.例文帳に追加

分析機で用いられる従来の試験紙の持つ問題点を解決することができる分析機用試験プレート及び該試験プレートを使用する分析機を提供すること。 - 特許庁

If a test interrupting order 62 is input when the test is performed by an external signal, the target value of the test force allowed to act on the testpiece is stored.例文帳に追加

外部信号により試験を行っている時、試験中断指令６２が入力されると、そのとき供試体に作用させる試験力の目標値を記憶する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a structure for passing supersonic working fluid capable of safely performing a test in a lower temperature area than an actual operating temperature area.例文帳に追加

実際の動作温度域よりも低い温度域で安全に試験できる超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および試験装置を提供すること。 - 特許庁

At first, the pickup 24 is moved to the test recording area of a disk 22, with the test pattern signal recorded on the disk 22 by switching to the test pattern generating circuit with a switching circuit.例文帳に追加

まず、ピックアップ２４をディスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テストパターン信号をディスク２２に記録する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

After the completion of the test on the relay, the slave station 9 connects the test switch SW1 to a terminal T1, and the test switch SW2 to a terminal T3 by a switch signal.例文帳に追加

リレー試験が終了すれば、子局９は、切替信号により、試験用スイッチＳＷ１を端子Ｔ１に接続し、試験用スイッチＳＷ２を端子Ｔ３に接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device allowing the high density mounting of a driver circuit for switching test voltage to one or two times to apply the voltage to a device under test.例文帳に追加

本発明は、試験電圧を１倍と２倍とに切り換えて被試験デバイスに電圧印加するドライバ回路を高密度実装できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test light intensity setting means 12 sets test light intensity data D15 on the basis of the reflectivity data D13, the test region data D14 and correction data D18.例文帳に追加

検査光強度設定手段１２は、反射率データＤ１３、検査領域データＤ１４及び補正データＤ１８に基づき検査光強度データＤ１５を設定する。 - 特許庁

The test part 301 outputs test data during the invalid period of a bus transfer permission signal 23 and the inspection part 10 inspects the test data by comparing it with an existing value.例文帳に追加

試験部３０１はバス転送許可信号２３が有効でない間は試験データを出力し、検査部１０において既値と比較することにより検査される。 - 特許庁