「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microreactor container for a blood test capable of simply and accurately performing the blood test.例文帳に追加

簡便且つ正確に検査が可能である血液検査用マイクロ反応容器を提供する。 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

An optical pulse test apparatus 1 displays a measured waveform of the test result to a display device 24a.例文帳に追加

光パルス試験装置１は、試験結果の測定波形を表示装置２４ａに表示する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND VERIFICATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND/OR TEST METHOD USING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、並びに、それを用いた半導体検査装置および／または方法の検証方法 - 特許庁

GATED CLOCK CELL, SCAN TEST CONTROL CIRCUIT, AND METHOD FOR DESIGNING RTL LEVEL OF SCAN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

ゲーテッドクロックセル、スキャンテスト制御回路及びスキャンテスト制御回路のＲＴＬレベルの設計方法 - 特許庁

ELECTRICAL CONNECTION APPLIANCE FOR TEST USED FOR MAINTENANCE OF APPARATUS, REMOVABLE COVER AND ELECTRICAL TEST METHOD例文帳に追加

機器の保守に用いられる試験用電気接続器具、着脱カバー体及び電気試験方法 - 特許庁

To reduce energy consumption of a device while maintaining a test environment for a test object.例文帳に追加

試験対象物に対する試験環境を維持しつつ装置の消費エネルギーを低減させる。 - 特許庁

To provide a method, a test chamber and a test setup for leak testing of a closed container.例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成を提供する。 - 特許庁

When starting a radio wave propagation test, the test switch of a wireless base unit 6 is turned on (step 30).例文帳に追加

無線電波伝搬試験開始時、無線親機６の試験スイッチをオン作動にする（ステップ３０）。 - 特許庁

A=ΔH/D^1/2 (wherein, ΔH is the amount of increase between the hardness before the tensile test and that after the tensile test (HRC); and D is elongation (%) at the tensile test).例文帳に追加

Ａ＝ΔＨ／Ｄ^１／２ …(1) 但し、ΔＨ：引張試験前後の硬度の上昇量（Ｈ_ＲＣ）、Ｄ：引張試験での伸び（％） - 特許庁

To create and edit a test specification while grasping the whole image of a test by visualizing a relationship between individual test specifications.例文帳に追加

個々のテスト仕様間の関係性を可視化し、テストの全体像を把握しながらテスト仕様の作成編集を行えるようにする。 - 特許庁

To enable test contents to be changed even after production without restricting test contents in a built-in self test of a memory.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テストにおいて、テスト内容に制限を加えることなく、製品化後にもテスト内容を変更できるようにする。 - 特許庁

To provide an automatic test method for preparing for file creation for execution of a test or establishing test environments easily.例文帳に追加

試験の実施のためのファイル作成等の準備や、試験環境構築が簡単な自動試験方法を提供することを目的する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit that executes a memory test during operation of a computer system and without providing an area exclusive for a memory test.例文帳に追加

メモリテスト専用領域を設けずに、かつ、コンピュータシステム稼働中にメモリテストを実行することが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a handler which applies a proper pressure to a test tray so as to connect a semiconductor element to a test socket of a test board.例文帳に追加

半導体素子をテストボードのテストソケットに接続させるためにテストトレイに適正な圧力を加えることができるハンドラを提供する。 - 特許庁

To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁

Provided are a test signal source 39 which generates the test signal of high frequency and a test signal supply circuit 23 which performs input switching.例文帳に追加

高周波のテスト信号を発生するテスト信号源３９および入力切換えを行うテスト信号供給回路２３を設ける。 - 特許庁

To reduce human cost and a test time to be required for a scanning test when the scanning test is performed for a part of a gate array block.例文帳に追加

ゲートアレイブロックの一部に対してスキャンテストを実施する場合に、テストに要する人的なコストおよびテスト時間を短縮化できる。 - 特許庁

To provide a test pattern generation apparatus capable of automatically generating a test pattern conforming to test constraints based on simulation results.例文帳に追加

シミュレーション結果からテスター制約条件に合致したテストパターンを自動的に生成することのできるテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

To easily fit a test board different in thickness to a test head and facilitate the fitting work of the test board different in thickness.例文帳に追加

板厚の異なるテストボードを容易にテストヘッドに装着できるとともに板厚の異なるテストボードを取り付ける作業を容易にする。 - 特許庁

The mobile terminal performs test connection to the adjacent radio base station to be a test target on the basis of the test connection request.例文帳に追加

前記移動端末は、前記試験接続要求に基づき、前記試験対象とする隣接無線基地局に試験接続を行う。 - 特許庁

To provide a scan test circuit with a multiplication circuit for performing a test by changing the speed of a clock by N-multiplication, and to provide a scan test method.例文帳に追加

クロックのスピードをＮ逓倍変化させてテストを行う逓倍回路を設けたスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

The test circuit 100 performs the test of the circuit to be tested, and outputs the test result for a tester.例文帳に追加

本発明におけるテスト回路１００は、テスト対象回路のテストを行ってテスタに対してテスト結果を出力するテスト回路である。 - 特許庁

A test server registers more test questions in a database than those to be set to one testee before the starting time of the test.例文帳に追加

試験サーバは、試験開始時刻以前に、一人の受験者に対する出題数よりも多くの試験問題をデータベースに登録する。 - 特許庁

A test pattern information preparation part 4 prepares test pattern information including at least the total number of failures detectable by all the test patterns.例文帳に追加

テストパターン情報作成部４は、全てのテストパターンで検出できる全故障数を少なくとも含んだテストパターン情報を作成する。 - 特許庁

To provide a biaxial testing device and a biaxial test method capable of enlarging a test space and reducing test cost.例文帳に追加

試験スペースの拡大化及び試験コストの低減化を実現することが可能である二軸試験装置及び二軸試験方法を提供する。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁

When the test is to be performed, the probe of a test device should be directly brought into contact with the test pad 31-2.例文帳に追加

そして、テスト時にはテストパッド３１−２に直接テスト装置のプローブを接触させることにより行うことを特徴としている。 - 特許庁

To detect a test pattern of a projector even if the test pattern is superimposed on an input video image when detecting the test pattern.例文帳に追加

プロジェクタのテストパターン検出にあたり、入力映像にテストパターンを重畳しても、そのテストパターンの検出を可能にすることにある - 特許庁

A test output obtained by printing a predetermined test pattern is read by a scanner on the network and correction data is formed on the basis of the test output and stored.例文帳に追加

所定のテストパターンを印字したテスト出力をネットワーク上のスキャナで読み込み、それをもとに補正データを作成し、記憶する。 - 特許庁

A plurality of test resist patterns are formed (S2, S6) by transferring the test patterns by a lithographic process including pattern exposure using the test mask.例文帳に追加

テストマスクを用いたパターン露光を含むリソグラフィー処理により、テストパターンを転写した複数のテスト用レジストパターンを形成する（Ｓ２，Ｓ６）。 - 特許庁

In this method (900) for assigning the test number, present test flow context information is maintained during execution of a test flow 200 (902).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（９００）において、現在のテストフローコンテキスト情報は、テストフロー２００の実行中維持される（９０２）。 - 特許庁

To prevent data processing from performing overhead operation in a test of a semiconductor device without providing a test result memory in a semiconductor test device.例文帳に追加

半導体試験装置に試験結果メモリを設けることなく、半導体装置の試験にデータ処理がオーバーヘッドしないようにする。 - 特許庁

The setUp function can access the test globals as the globs attribute of the test passed.Optional argument tearDown specifies a tear-down function for the test suite.例文帳に追加

setUp はglobs 属性を介してテストのグローバル変数にアクセスできます。 オプション引数 tearDown には、テストを解体 (tear-down) するための関数を指定します。 - Python

The first test coupon and the second test coupon which is longer than the first test coupon are prepared, and each signal attenuation amount of the first test coupon and the second test coupon is measured, respectively, under identical condition, and the difference between measured values of each attenuation amount of the second test coupon and the first test coupon is used as a measured value of the signal attenuation amount.例文帳に追加

第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself.例文帳に追加

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。 - 特許庁

To provide a test support system capable of conducting a test with test specifications independent of a program language and a mounted source code and efficiently conducting the test by using the test specifications corresponding to a plurality of program languages.例文帳に追加

プログラム言語に依存しないテスト仕様書と実装済みのソースコードより、テストを実施することができ、さらに、複数のプログラム言語に対応したテスト仕様書を用いて、効率よくテストを実施することができるテスト支援システムを提供する。 - 特許庁

To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.例文帳に追加

入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁

The storage unit also comprises a test and adjustment result analysis program to perform analysis of resultant data of the test and adjustment of the radio device.例文帳に追加

また、無線機の前記試験・調整の結果のデータの分析を行う試験調整結果分析プログラムを備える。 - 特許庁

To provide a decoder circuit capable of easily performing a test inclusive of the state of a transistor added for the test.例文帳に追加

テスト用に追加されたトランジスタの状態も含めてテストを容易に行うことができるデコーダ回路を提供する。 - 特許庁

A plurality of test pads 5 (first test pads) are connected individually to the collectors (first terminals) of the plurality of transistors 4.例文帳に追加

複数のトランジスタ４のコレクタ（第１端子）に、それぞれ個別に複数のテストパッド５（第１テストパッド）が接続されている。 - 特許庁

TESTING MACHINE SUPPORT TABLE, TENSILE TEST METHOD OF FASTENER, UNIT FOR TENSILE TEST, AND METHOD OF PERFORMING MOUNTING CONSTRUCTION OF PROPERTY TO BUILDING STRUCTURE例文帳に追加

試験機支持台、締結具の引張試験方法、引張試験用ユニット、建築構造物への器物取付施工方法 - 特許庁

Then, the image of the recorded test pattern is read and the width of each fine line is determined from the image of the read test pattern.例文帳に追加

そして、記録されたテストパターンの画像を読み取り、読み取ったテストパターンの画像から各細線の幅を求める。 - 特許庁

To provide a test print for evaluating eccentricity degree of a roller, the test print facilitating the observation and evaluation of the eccentricity degree of a print conveying roller.例文帳に追加

プリント搬送ローラの偏芯度が観察しやすく、評価しやすいローラ偏芯度評価用テストプリントを提供する。 - 特許庁