| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.例文帳に追加
局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁
VOLTAGE DIVIDER FOR MEASURING ARC VOLTAGE OF SWITCH INTERRUPTING TEST例文帳に追加
開閉器遮断試験アーク電圧計測用分圧器 - 特許庁
METHOD OF TRIGGERING, AND RF TEST AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
トリガをかける方法及びRF試験測定装置 - 特許庁
INTERACTION EVALUATION METHOD OF SHAKE TABLE AND TEST PIECE例文帳に追加
振動台と試験体との相互作用評価方法 - 特許庁
JUDGEMENT METHOD OF TEST TONE AND SOUND FIELD CORRECTION APPARATUS例文帳に追加
テストトーンの判定方法および音場補正装置 - 特許庁
NOISE REDUCTION DEVICE USED DURING ENGINE TEST OF AUTOMOBILE例文帳に追加
自動車のエンジンテスト時に用いる騒音低減装置 - 特許庁
The semiconductor test device 1 outputs a signal for a device 50 under test, and determines the quality of the device 50 under test on the basis of respective result signals obtained from the plurality of pins of the device 50 under test.例文帳に追加
半導体試験装置1は、被試験デバイス50に対して信号を出力し、被試験デバイス50の複数のピンから得られるそれぞれの結果信号に基づいて被試験デバイス50の良否を判定するものである。 - 特許庁
In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加
テストチャート再構成時には、テストチャート制御部204は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置10のテストチャートを更新する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ACCELERATED TEST OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の加速試験方法及びその装置 - 特許庁
To notify retention of communication packets to a test controller.例文帳に追加
通信パケットの滞留をテストコントローラへと通知する。 - 特許庁
TEST HEAD PROVIDED WITH FALL-OFF PREVENTION MECHANISM OF PERFORMANCE BOARD例文帳に追加
パフォーマンスボードの落下防止機構を備えたテストヘッド - 特許庁
COOLING METHOD OF TEST BEARING IN BEARING TESTING MACHINE例文帳に追加
軸受試験機に於ける供試軸受の冷却方法 - 特許庁
(b) Acoustic vibration test machines, the rated output of which is greater than 4 kilowatts 例文帳に追加
ロ 定格出力が四キロワット以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
(vi) The quantity of the test samples for which product inspections were conducted; 例文帳に追加
六 製品検査を行つた試験品の数量 - 日本法令外国語訳データベースシステム
EVALUATION TEST METHOD OF DETERIORATED STORAGE BATTERY AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
劣化蓄電池の評価試験方法と、その装置 - 特許庁
TEST METHOD AND PROGRAM OF COMMUNICATION BETWEEN PARALLEL PROCESSOR例文帳に追加
並列プロセッサ間通信の試験方法及びプログラム - 特許庁
CALIBRATION TEST PIECE FOR ULTRASONIC INSPECTION OF RAIL WELDED PART例文帳に追加
レール溶接部超音波探傷用校正試験片 - 特許庁
LINK POWER CONTROL TEST METHOD OF MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
移動通信システムのリンク電力制御試験方法 - 特許庁
METHOD FOR DESIGNING BURN-IN TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンインテスト設計方法 - 特許庁
To provide a wedge-shaped grip for a tensile test, capable of acquiring an accurate test result when being used in a high-speed tensile test or the like, while capable of improving the operability of a sandwiching/releasing work of a test piece.例文帳に追加
高速引張試験等に用いて正確な試験結果を得ることができながら、試験片の挟着/解放作業の操作性を向上させることのできる楔式の引張試験用グリップを提供する。 - 特許庁
He plans on finishing the test by the beginning of October. 例文帳に追加
彼は10月の初めまでに、テストを終える予定です。 - Weblio Email例文集
test someone's alcohol level in his blood by means of a breathalyzer 例文帳に追加
アルコール検知器で血中のアルコールレベルを検査する - 日本語WordNet
MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST EQUIPMENT例文帳に追加
半導体装置の製造方法及びそのテスト装置 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF MIXED SIGNAL INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
混成信号集積回路用半導体試験システム - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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