| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
To provide a test support device, a test device, a test support method and a computer program which can appropriately select a test node for obtaining a snapshot so that a test can be completed in the minimum time along all of test scenarios.例文帳に追加
全てのテストシナリオに沿ってテストを最小時間で完了させることができるよう、スナップショットを取得するテストノードを適切に選択することができるテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a successive approximation type A-D converter capable of reporting a defective circuit to the outside without awaiting the end of a test when the defective circuit is detected on the way of the test then stopping the test on the way of the test, thereby shortening the test time and reducing manpowers for the test.例文帳に追加
テストの途中で回路の不良が検出された場合、テストの終了を待たずに回路の不良が外部へ告知され、テストの途中でテストの中止ができ、テスト時間の短縮・省力を行えるようにした逐次比較型AD変換装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items.例文帳に追加
デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。 - 特許庁
To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.例文帳に追加
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁
Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.例文帳に追加
このようにテスト回路チップ21をプローブ端子12の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁
To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program.例文帳に追加
テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。 - 特許庁
IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁
To provide the novel test piece supply device of an impact resilience testing machine, capable of preliminarily incorporating a large number of test pieces to continuously supply the test pieces.例文帳に追加
予め多数の試験片を組み込み、連続して試験片を供給できる反発弾性試験機の新規な試験片供給装置を提供する。 - 特許庁
A 4-points supporting and 1-point pressing test is carried out by using a test piece of a panel for a furnace wall of a boiler fire furnace to measure an actual deflection quantity at the center of the test piece (S1).例文帳に追加
ボイラ火炉の炉壁用のパネルの試験体を用いて4点支持1点押し試験を行い、その中央の撓み量を実測する(S1)。 - 特許庁
To provide an evaluation test device capable of carrying out an evaluation test of a fuel battery efficiently and accurately, and to provide an evaluation test cell of the same.例文帳に追加
効率よくしかも正確に燃料電池用セルの評価試験を行うことのできる評価試験装置及びその評価試験セルの提供。 - 特許庁
To obtain a load test device for a man conveyor capable of being fixed in an arbitrary position of the man conveyor during a load test of the man conveyor such as a service life test.例文帳に追加
マンコンベアの寿命試験等における負荷試験時に、マンコンベアの任意の位置に固定することができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。 - 特許庁
To provide a range change-over controller that changes over the test regions of test devices, capable of implementing a broad range of characteristic test without including discontinuous characteristics.例文帳に追加
被試験装置の試験範囲を切替えるレンジ切替制御装置に関し、不連続的な特性を含むことなく、広範囲の特性試験を可能とする。 - 特許庁
By the use of oscillator of a DSS formula to generate test signal, frequency switching time of test signal is shortened to shorten the test time.例文帳に追加
テスト信号の生成にDDS方式の発振器を用いることにより、テスト信号の周波数切り替え時間が短縮し、テスト時間が短縮される。 - 特許庁
To provide a functional test assistance system to realize mechanical and reliable confirmation of the presence/absence of a test for each test item by execution of simulation.例文帳に追加
シミュレーション実行による各テスト項目のテスト有無を機械的かつ確実に確認することを可能とする機能テスト支援システムを提供する。 - 特許庁
To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.例文帳に追加
複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁
When a sub-test in the test flow 200 is executed, a database 400 of the test number is indexed by using index information including (1) an identifier of the sub-test and (2) the present test flow context information 300 (104).例文帳に追加
テストフロー200内のサブテストが実行されると、テスト番号のデータベース400が、(1)サブテストの識別子と(2)現行テストフローコンテキスト情報300とを含む索引情報を使用して索引付けされる(104)。 - 特許庁
When a scan test interruption request is received from the processor control unit during the execution of the scan test by the scan test control unit, the scan test is interrupted and, after the execution of the application, the scan test is resumed.例文帳に追加
そして、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。 - 特許庁
To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加
試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁
The test factor classification table generating part 12 analyzes design information of a class of software designed by object orientation and generates a test factor that affects the operation of a method of a test object and a model of a test factor classification table that enumerates conditions of the test factor.例文帳に追加
テスト因子分類表生成部12は、オブジェクト指向により設計されたソフトウェアのクラスの設計情報を解析して、テスト対象のメソッドの動作に影響するテスト因子とその条件を列挙したテスト因子分類表の雛型を生成する。 - 特許庁
METHOD FOR CHECKING OMISSION OF EXTRACTION FROM TEST ITEM OF EXCHANGE PROGRAM例文帳に追加
交換機プログラム試験項目抽出漏れチェック方法 - 特許庁
COMPUTATION OF 'VIRTUAL RANKING' IN SCORE EVALUATION OF TEST例文帳に追加
試験等の成績評価における「仮想的順位」の計算 - 特許庁
The flight was the second leg of a test flight of 2,500 kilometers. 例文帳に追加
その飛行は2500キロに及ぶ試験飛行の第2区間だった。 - 浜島書店 Catch a Wave
METHOD OF PREVENTING REUSE OF TEST STRIP AND METHOD OF PREVENTING REUSE OF TEST STRIP IN SPECIMEN MEASURING SYSTEM例文帳に追加
試験細片の再使用を防止する方法および検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法 - 特許庁
To prevent an overload of a transceiver on the occasion of a transceiver test.例文帳に追加
トランシーバ試験の際にレシーバの過負荷を防止すること。 - 特許庁
TEST METHOD OF DRIVING CIRCUIT AND DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加
駆動回路のテスト方法及び表示装置の駆動回路 - 特許庁
A plurality of copies of the test code are executed by a synchronizing system.例文帳に追加
テストコードの複数のコピーは同期方式で実行される。 - 特許庁
METHOD AND TEST MEASUREMENT INSTRUMENT OF SWITCHING OF WAVEFORM DISPLAY STYLE例文帳に追加
波形表示スタイル切り替え方法及び試験測定機器 - 特許庁
To conveniently conduct a burn-in test of wiring of a peripheral circuit.例文帳に追加
周辺回路の配線のバーイン試験を簡易に実施する. - 特許庁
(a) Methods of handling, maintenance, and test of airframe structure 例文帳に追加
イ 機体構造の取扱い、整備方法及び検査方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Candidates List of Review Members for the Results of Mutagenicity Test, etc. 例文帳に追加
変異原性試験等結果検討委員候補者名簿 - 日本法令外国語訳データベースシステム
test of the roadworthiness of a vehicle one is considering buying 例文帳に追加
買おうと思っている車の乗り心地を知るためのテスト - 日本語WordNet
METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁
METHOD OF MEASURING SILVER ION AND METHOD OF MEASURING TEST SUBSTANCE例文帳に追加
銀イオンの測定方法及び被検物質の測定方法 - 特許庁
METHOD OF DETERMINING NONSPECIFIC TURBIDITY OF TEST SAMPLE AND REAGENT例文帳に追加
被検試料の非特異的混濁の判別方法及び試薬 - 特許庁
Ca: so you would test a bunch of lengths of trends in time例文帳に追加
クリス:あなたは様々なトレンドの 周期を試したのですね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
the action of cutting a person's body a little bit as a test of bravery and stamina 例文帳に追加
試し切りとして体に少しづつ切りつけること - EDR日英対訳辞書
In this semiconductor integrated circuit test device having a test station 21 and a test station 31, when the test station 31 is in the standby state of being ready for testing during testing of the test station 21, testing of the test station 21 is forcibly ended, and then testing at the test station 21 and the test station 31 is simultaneously started.例文帳に追加
テストステーション21とテストステーション31とを備える半導体集積回路試験装置において、テストステーション21が試験を行っている最中にテストステーション31がテストをすることが可能な待機状態になった場合に、テストステーション21のテストを強制的に終了した後で、テストステーション21及びテストステーション31における試験を同時に開始する。 - 特許庁
To execute evaluation of all test results including the result of a step out test without intervention of persons.例文帳に追加
同期外れ試験の結果を含む全ての試験結果の評価を、人間が介在することなく、無人で実行する。 - 特許庁
To carry out a more precise lighting test in which a temperature of a panel itself is reflected at the time of lighting test of a plasma display panel.例文帳に追加
プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行う。 - 特許庁
To provide a test board capable of corresponding to the evaluation of many kinds of ICs by one test board.例文帳に追加
1枚のテストボードで多品種のIC評価に対応可能なテストボード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The control part 11 distinguishes the type of the test subject from the acquired behavior of both the knees of the test subject.例文帳に追加
そして、制御部11が、取得した被検者の両膝の挙動から、その被検者の類型を判別する。 - 特許庁
To provide a device for preparing the test pattern of a logic circuit capable of obtaining a high rate of failure detection with a compact test pattern.例文帳に追加
コンパクトなテストパターンで高い故障検出率を得る論理回路のテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁
To reuse a photomask for a test by enabling formation of a plurality of types of test patterns in different periods.例文帳に追加
複数種類のテストパターンを異なる時期に形成可能にできるようにしてテスト用フォトマスクを再利用する。 - 特許庁
METHOD OF COMPARING FEATURE OF TEST RECORD WITH FEATURE OF REFERENCE RECORD例文帳に追加
試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM OF STRESS TEST SIMULATION OF BEHAVIOR OF FINANCIAL PRODUCT例文帳に追加
金融商品の挙動のストレステスト・シミュレーションの方法およびシステム - 特許庁
Six pages of test files, 1 page of bootstrap, 1 page of bootstrap2. 例文帳に追加
内容は、テストファイルが6ページ、ブートストラップが1ページ、ブートストラップ2が1ページ。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.例文帳に追加
従来行っていたトラック中心へのSAT試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン(A,Bパターン)の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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原題:”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ” 邦題:『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. 日本語版の著作権保持者は ©1999 山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。 |
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