| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
But he was the unfortunate consequence of a successful test.例文帳に追加
だが 彼は不運な結果だ 成功したテストの - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The result of the endurance test will be out in 28 hours.例文帳に追加
28時間後に 耐久テストの結果が出ます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The Japanese navy has stood the test of actual warfare. 例文帳に追加
日本の海軍は実戦の試験に堪えた - 斎藤和英大辞典
The Japanese navy has been put to the test of actual warfare. 例文帳に追加
日本の海軍は実戦の試しに逢った - 斎藤和英大辞典
And it has stood the test (of actual warfare). 例文帳に追加
そして実戦の試しに堪えた(及第した) - 斎藤和英大辞典
a test that measures the level of ca 19-9 in the blood. 例文帳に追加
血中のca 19-9の濃度を測定する検査。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
Difficulty is sometimes a test of affection.例文帳に追加
困難が愛情の試金石になることがある - Eゲイト英和辞典
TEST DEVICE OF TERMINAL FOR FIRE ALARM EQUIPMENT例文帳に追加
火災報知設備用端末機器の試験装置 - 特許庁
The Japanese navy has stood the test of actual warfare. 例文帳に追加
日本の海軍は実戦の試練を経ている - 斎藤和英大辞典
The test instruction sequence constitution information 61 and test execution information 62 are information generated according to the purpose of the test.例文帳に追加
試験命令列構成情報61と試験実行情報62は、試験の目的に応じて作成される情報である。 - 特許庁
By correcting the image data of the test pattern by using the correction table, the test pattern is printed (second test pattern output).例文帳に追加
補正テーブルを用いて上記テストパターンの画像データを補正してテストパターンを印刷する(第2のテストパターン出力)。 - 特許庁
The outer periphery of a test air-pressure chamber 27 for supplying test air to a test piece 1 is surrounded by a sealing pressure chamber 35.例文帳に追加
試験片1に試験空気を供給する試験空気圧室27の外周を、シール圧室35で囲む構成とした。 - 特許庁
To suppress test costs by enabling a DC burn-in test using an equalizer circuit in place of a dynamic burn-in test.例文帳に追加
ダイナミックバーンイン試験に代えてイコライズ回路を使用したDC的なバーンイン試験を可能としてテストコストを抑制する。 - 特許庁
To realize a memory test circuit capable of changing test contents by adding necessary minimum external terminals for a test and a circuit.例文帳に追加
必要最低限のテスト用外部端子と回路追加により、テスト内容が変更可能なメモリのテスト回路を実現する。 - 特許庁
To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加
リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁
CLINICAL TEST INFORMATION DISTRIBUTION SYSTEM CORRESPONDING TO INDIVIDUAL ATTRIBUTE FOR PLANNING CLINICAL TEST EXECUTION SCHEDULE AND ADJUSTING NUMBER OF CLINICAL TEST PARTICIPANTS例文帳に追加
治験実施計画の立案と治験参加者数調整のための個人属性に応じた治験情報配信システム - 特許庁
The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.例文帳に追加
柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁
The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加
試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁
To perform a JTAG test without requiring a test device of another configuration and without including a test-only device in an information processor.例文帳に追加
JTAGテストを別構成のテスト装置を必要とせず、またテスト専用の装置を内蔵せずに実行する。 - 特許庁
If you perform a Test Run on one of the Test Scenarios before having added the JBI module or deployed the project, the test run will fail. 例文帳に追加
JBI モジュールを追加する前、またはプロジェクトを配備する前にテストシナリオの 1 つをテスト実行すると、テストは失敗します。 - NetBeans
A frame reception processing part 11 delivers the test frame to a test frame transmission/reception part 12 at the time of receiving the test frame.例文帳に追加
フレーム受信処理部11は試験フレームの受信時に、その試験フレームを試験フレーム送受信部12に渡す。 - 特許庁
To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加
限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、DUT当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁
This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
A characteristic of the test piece processed by the test piece processing apparatus 12 is measured by a material test apparatus 13 in the field.例文帳に追加
そして、材料試験装置13は試験片加工装置12で加工された試験片の特性をその場で測定する。 - 特許庁
To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加
スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁
VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁
A test suite is a collection of test cases, test suites, or both. It is used to aggregate tests that should be executed together.例文帳に追加
テストスイートはテストケースとテストスイートの集まりで、同時に実行しなければならないテストをまとめる場合に使用します。 - Python
This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加
被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁
To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition.例文帳に追加
本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。 - 特許庁
To solve the problem that it takes a tester controller of a test apparatus to read data from a plurality of test modules when the test controller receives the data from modules of each test and issues a next read instruction.例文帳に追加
試験装置のテスタコントローラが、各試験モジュールからデータを受け取ってから、次のリード命令を発行すると、多数の試験モジュールからデータを読み出す場合に、時間がかかる。 - 特許庁
To reduce development costs for a test and an evaluation process by creating a script for test of high test precision and lightening the burden of work needed for the creation of the script for test.例文帳に追加
テスト精度の高いテスト用スクリプトを作成すると共に、テスト用スクリプト作成時に要する作業負荷を軽減することで、テスト及び評価工程における開発コストを軽減する。 - 特許庁
The setting means divides the read test image into a plurality of test image blocks, and sets density correction values corresponding to the respective test image blocks on the basis of density values of the respective test image blocks.例文帳に追加
前記設定手段は、読取テスト画像を複数テスト画像ブロックに分割し、各テスト画像ブロックの濃度値に基づき、各テスト画像ブロックに対応する濃度補正値を設定する。 - 特許庁
To enable a test element equal in characteristics to the semiconductor element of a main chip to be formed in a test chip of a semiconductor wafer, possessing the main chip and the test chip without affecting the measurement of the test element.例文帳に追加
本チップ及びテストチップを有する半導体ウエハのテストチップに、テスト素子の測定に影響を与えないで本チップの半導体素子と特性が揃ったテスト素子を形成する。 - 特許庁
When a user selects a name of the standard of the test signal on a display screen, the video test signal generator is shifted to a test signal priority mode and displays a list of video formats wherein the selected test signal exists (step 54).例文帳に追加
表示画面上のテスト信号の規格名を選択すると、テスト信号優先モードとなり、選択したテスト信号の存在するビデオ・フォーマットの一覧が表示される(ステップ54)。 - 特許庁
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