「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a burn-in test adapter and a burn-in test device which can suppress low, the cost of obtaining semiconductor chip and test a multitude of chips at once.例文帳に追加

半導体チップを得るコストを低く抑え、一度に多数のチップをテストできるバーンインテスト用アダプタおよびバーンインテスト装置を得ること。 - 特許庁

Thus, even if there are a large number of test signals, the size of the test signal output circuit 120 for outputting the test signals does not become large.例文帳に追加

よって、試験信号が多数あっても、試験信号を出力する試験信号出力回路１２０のサイズは大きくならない。 - 特許庁

To properly perform quality discrimination of a semiconductor device such that a test is performed in order of high temperature test and room temperature test.例文帳に追加

高温試験、常温試験の順に試験が行われる半導体装置の品質判別を適正に行うことができるようにする。 - 特許庁

ASSEMBLING DEVICE OF CUTTER FOR METALLIC MATERIAL TEST PIECE, CUTTER FOR PLATE TENSION TEST PIECE, AND MANUFACTURING METHOD OF PLATE TENSION TEST PIECE例文帳に追加

金属材料の試験片用カッタの組立装置、その平板引張試験片用カッタ及びその平板引張試験片の作製方法 - 特許庁

To provide an air-tight test system capable of efficiently performing air-tight test by shortening the time required to air-tight test of gas-holders.例文帳に追加

ガスタンクの気密試験に要する時間を短縮して、気密試験を効率的に行うことができる気密試験システムを提供する。 - 特許庁

Thereby, a test flow of the test plan program can be verified without loading a pattern program in the offline simulation environment of the test device.例文帳に追加

これにより、試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、パターンプログラムをロードすることなくテストプランプログラムのテストフローを検証できる。 - 特許庁

To provide a test head where a base unit is slidably mounted to a test head body from the directions of both the sides of the test head body.例文帳に追加

ベースユニットを、テストヘッド本体の両側方向からスライド可能にして、テストヘッド本体に搭載することができるテストヘッドを実現する。 - 特許庁

In the event of the mode of the handheld device 102 being changed from the test mode to the non-test mode, the handheld device 102 generates a non-test mode signal.例文帳に追加

携帯装置１０２のモードがテストモードから非テストモードへ変更される場合、携帯装置１０２は非テストモード信号を生成する。 - 特許庁

Nobody can compare with him among kyoryosho (scholarship students), tokugyosho (selected students), shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test), shusai (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test), jogo (a student who completed a course), and taigyo (one who passed the test to become an official). 例文帳に追加

現在の給料生・得業生・進士・秀才・成業・大業の者で肩を並べる者はない。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To perform an image test of a product to test exhaustively even when the product to test is a flexible packaging container of considerable flexibility.例文帳に追加

検査対象品が可撓性の高い軟包材容器であったとしても、検査対象品の画像検査を精緻に実行すること。 - 特許庁

The test piece subjected to the calcium corrosion test is set in a constant-temperature and constant-humidity environment, and a plurality of test piece images are photographed at intervals of time.例文帳に追加

カルシウム腐食法の試験片を恒温恒湿環境内におき、時間間隔をあけて複数の試験片画像を撮影する。 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

Out of one or a plurality of test case candidates generated by a conventional method and one or a plurality of test case candidates selected from the set of input test cases, test cases having the highest score are added to the set of output test cases (716).例文帳に追加

従来手法によって生成されたひとつ又は複数のテストケース候補と、入力テスト・ケースの集合から選択されたひとつまたは複数のテストケース候補のうち、最もスコアが高いものを出力テスト・ケースの集合に追加する（７１６）。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

In a load moving test apparatus 1, a test piece 2 is also moved along a running direction along with the rotational driving of a test wheel 51, and, by the combination of the motions of both of them, for example, the relative speed of the test wheel 51 to the test piece 2 is set to a wide range.例文帳に追加

試験車輪５１の回転駆動と共に供試体２も走行方向Ｌに沿って移動させ、両者の運動の組合せによって、例えば試験車輪５１の供試体２に対する相対速度を広い範囲で設定する。 - 特許庁

To enter efficiently super VIH(SVIH) conditions to a test mode by suppressing restriction of a test device and possibility of erroneous entry of a user side at the time of entry of serial test.例文帳に追加

シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパＶＩＨ（ＳＶＩＨ）条件のテストモードにエントリする。 - 特許庁

The test strip and the test meter include structures for verifying the integrity of the test strip traces, to measure the parasitic resistance of the test strip traces, and to provide compensation in the voltage applied to the test strip deemed as parasitic resistive losses in the test strip traces.例文帳に追加

試験片と試験計器が試験片トレースの一体化を確証し、試験片トレースの寄生抵抗を測定し、さらに試験片トレース内の寄生抵抗損と見なす試験片に印加される電圧の補償を提供する構造を含む。 - 特許庁

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

A person in charge of the test conducting server 304 previously sets test reservation terminating date and time which is the last date and time for a user to make a reservation for the test, test questions distribution start date and time, test questions distribution terminating date and time, test time, and test answer transmitting time.例文帳に追加

試験実施サーバ３０４の担当者は、ユーザが試験の予約を行う最後の日時である試験予約終了日時と、試験問題配布開始日時と、試験問題配布終了日時と、試験時間と、試験解答送信時間とを予め設定する。 - 特許庁

The WWW server 20 for a test decides the acceptance/ rejection of a test for a security hole test object, on the basis test contents from the terminal 1, performs a security hole test, when there is a system where a security hole test can be performed and generates security hole test results.例文帳に追加

検査用ＷＷＷサーバ２０は、端末１からの検査内容に基づいて、セキュリティホール検査対象に対する検査の可否を判断し、セキュリティホール検査が実施可能なシステムであれば、セキュリティホール検査を実施し、セキュリティホール検査結果を生成する。 - 特許庁

GENE FOR CONTROLLING NONMOVEMENT OF MOUSE IN TAIL SUSPENSION TEST AND FORCED SWIMMING TEST例文帳に追加

尾懸垂テストおよび強制水泳テストにおけるマウスの無動化を制御する遺伝子 - 特許庁

ARTIFICIAL TEST COMPUTER SYSTEM FOR LIVING BODY, COMPUTER PROGRAM THEREOF, AND ARTIFICIAL TEST METHOD OF LIVING BODY例文帳に追加

生体の疑似試験コンピュータシステム、そのコンピュータプログラム、及び生体の疑似試験方法 - 特許庁

When the test by each device is finished, an output device 5 displays the result of test.例文帳に追加

各装置による試験が終了すると、出力装置５は試験結果を表示する。 - 特許庁

To provide a fixture for shearing tests, which applies a test force uniformly on the side surface of a test piece.例文帳に追加

試験片の側面へ均一に試験力を加えるせん断試験治具を提供する。 - 特許庁

A test load is applied to the pile head part of the piled raft test object to measure the support performance.例文帳に追加

パイルド・ラフト試験体の杭頭部に試験荷重を加えて支持性能を測定する。 - 特許庁

DEVICE FOR PREPARING CIRCUIT, DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN, DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN, AND METHOD OF PREPARING TEST PATTERN例文帳に追加

回路作成装置、テストパターン作成装置、設計支援装置、及びテストパターン作成方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁

Then, the amount of the test gas in the environment wherein the test gas does not exist is detected.例文帳に追加

次に、該試験ガスが存在しない環境内における該試験ガスの量を検出する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING TEST SPECIFICATION FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION例文帳に追加

半導体集積回路のテスト仕様生成方法およびテスト仕様生成支援システム - 特許庁

FLEXURAL STRENGTH TEST METHOD AND FLEXURAL STRENGTH TEST DEVICE OF GLASS SUBSTRATE FOR MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置 - 特許庁

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.例文帳に追加

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁

A test system 100 is configured to test the operation of a semiconductor memory device.例文帳に追加

テストシステム１００は、半導体記憶装置の動作テストを実行するためのシステムである。 - 特許庁

To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加

ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁

To enable execution of test cases (items) for a test object program without omission.例文帳に追加

テスト対象プログラムに対するテストケース（項目）を漏れなく実施することを可能にする。 - 特許庁

To provide a parallel bit test method and a parallel bit test circuit of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及び並列ビットテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test circuit capable of generating a test signal without malfunction.例文帳に追加

テスト信号を誤動作なく発生するテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To test a communication apparatus with the use of a test apparatus compatible with an MAC frame format.例文帳に追加

ＭＡＣフレームフォーマット対応の試験装置を用いた、通信装置の試験を可能にする。 - 特許庁

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test.例文帳に追加

被試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内部メモリで試験する。 - 特許庁

To increase efficiency in throwing and collecting work of a test tube in a test tube carrier.例文帳に追加

試験管搬送装置において試験管の投入／回収作業の効率化を図る。 - 特許庁

To provide a method of integrating a vendor provision test module into a modular test system.例文帳に追加

ベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PIECE FOR CALIBRATION OF SEAM DEFECT INSPECTION MACHINE, AND TEST PIECE FOR CALIBRATION例文帳に追加

巻締め不良検査機の較正用試験片の作成方法および較正用試験片 - 特許庁

To provide a test tube carrying device capable of stably holding even a tapered test tube.例文帳に追加

テーパ付き試験管でも安定して把持できる試験管搬送装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a test cost of a synchronous semiconductor memory and to improve test quality.例文帳に追加

同期式半導体記憶装置のテストコストを削減し且つテスト品質を向上する。 - 特許庁

TEST TERMINAL, METHOD OF CONTROLLING TRIP COIL USING THE SAME, AND APPARATUS WITH TEST TERMINAL例文帳に追加

テストターミナル、それを用いたトリップコイルの制御方法及びそのテストターミナルを備えた装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF CONTROLLING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路及び半導体集積回路のテストの制御方法 - 特許庁