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bit bltの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 31



例文

Gates of the transistors N10, N11 are connected to the bit lines /BLt, BLt, and drains are connected to the bit lines BLt, /BLt.例文帳に追加

トランジスタN10,N11のゲートはビット線/BLt,BLtに接続し、ドレインはビット線BLt,/BLtに接続する。 - 特許庁

The complementary bit line includes first and second bit lines BLT and BLB.例文帳に追加

相補ビット線は、第1ビット線BLTと第2ビット線BLBからなる。 - 特許庁

A read transistor MRT and a write transistor MWT are connected to a bit line BLT side via a transfer transistor MTT.例文帳に追加

ビット線BLT側には、トランスファトランジスタMTTを介して、リード用トランジスタMRT及びライト用トランジスタMWTが接続される。 - 特許庁

A bit line equalizer BLE equalizes the potential of the bit line pairs BLt and Blc.例文帳に追加

ビット線イコライザBLEは、ビット線対BLt,BLcの電位をイコライズする。 - 特許庁

例文

During the reading operation, a potential higher than that of the first bit line BLT appears in the second bit line BLB.例文帳に追加

読み出し動作時、第2ビット線BLBには第1ビット線BLTよりも高い電位が現れる。 - 特許庁


例文

A sense amplifier S/A is connected to bit line pairs BLt and BLc to read/write data.例文帳に追加

センスアンプS/Aは、データの読み/書きを行うためにビット線対BLt,BLcに接続される。 - 特許庁

Bit line pre-charge circuits PCt, PCb pre-charging bit lines BLt, /BLt to ground voltage GND are arranged, and reference word lines RWLo, RWLe and a reference memory cell RMC are arranged so that potential difference is caused surely between bit lines BLt and /BLt when a word line WL is activated.例文帳に追加

ビット線BLt,/BLtを接地電圧GNDにプリチャージするビット線プリチャージ回路PCt,PCbを設け、ワード線WLが活性化されたときビット線BLt,/BLt間に必ず電位差が生じるように参照ワード線RWLo,RWLe及び参照メモリセルRMCを設ける。 - 特許庁

At timing when the potential of the replica bit line RBL reaches a predetermined value, the bootstrap circuit 3 drives the bit line BLt to the negative potential.例文帳に追加

ブートストラップ回路3は、レプリカビット線RBLの電位が所定の値となったタイミングでビット線BLtを負電位に駆動する。 - 特許庁

Selection of a write column is performed in the non- activation state of the sense amplifier 3, write data are written in the pair of bit lines BLt/BLc belonging to a selected column when the sense amplifier 3 is in a non-activation state.例文帳に追加

そして、書き込みカラムの選択をセンスアンプ3が非活性状態のときに行い、書き込みデータを選択されたカラムに属するビット線対BLt/BLcに、センスアンプ3が非活性状態のときに書き込む。 - 特許庁

例文

A shift word line SWL and a shift memory cell SMC are arranged so that the N type sense amplifier NSAt can amplify potential difference of the bit lines BLt, /BLt.例文帳に追加

N型センスアンプNSAtがビット線BLt,/BLtの電位差を増幅できるようにシフトワード線SWL及びシフトメモリセルSMCを設ける。 - 特許庁

例文

The semiconductor memory is provided with a sense amplifier SA, a pair of bit lines BLT, BLB, a transfer switch SW provided between the sense amplifier SA and the pair of bit lines BLT, BLB, a pre-charge circuit PC pre-charging the sense amplifier SA and the pair of bit lines BLT, BLB to the same potential, and a control circuit CTL.例文帳に追加

センスアンプSAと、ビット線対BLT,BLBと、センスアンプSAとビット線対BLT,BLBとの間に設けられたトランスファースイッチSWと、センスアンプSAとビット線対BLT,BLBを同電位にプリチャージするプリチャージ回路PCと、制御回路CTLとを備える。 - 特許庁

The bootstrap circuit 3 controls the timing to drive the bit line BLt to the negative potential, based on a boost enable signal boost_en.例文帳に追加

ブートストラップ回路3は、ブーストイネーブル信号boost_enに基づいてビット線BLtを負電位に駆動するタイミングを制御する。 - 特許庁

The latch type sense amplifier 70 senses the complementary data based on potential difference of the complementary bit lines BLT, BLB.例文帳に追加

ラッチ型センスアンプ70は、その相補ビット線BLT,BLBの電位差に基づいて、相補データをセンスする。 - 特許庁

A first transistor TR2 is provided between a true node A of a SRAM memory cell 102 and the true bit line (BLT).例文帳に追加

第1トランジスタTR2は、SRAMメモリセル102の真ノードAと真ビットライン(BLT)の間に設けられる。 - 特許庁

LYSW 20_1 to 20_4 perform connection control between bit lines (BLT/BLB) and local I/O lines (LIO).例文帳に追加

LYSW20_1〜20_4は、ビット線(BLT/BLB)とローカルI/O線(LIO)との間を接続制御を行っている。 - 特許庁

Not only common gates 11 and 12 are bent, but they are rotated with respect to the longitudinal direction of bit lines BLT and BLC by about 45 degrees.例文帳に追加

共通のゲート11,12が折り曲げられているだけでなく、ビットラインBLT,BLCの長手方向に対し約45゜旋回されている。 - 特許庁

A memory cell array 11 includes a bit line BL (BLT or BLN) to which a plurality of memory cells 21 are connected.例文帳に追加

メモリセルアレイ11は、複数のメモリセル21が接続されたビット線BL(BLT又はBLN)を有する。 - 特許庁

This memory device is provided with a pair of bit lines BLT/ BLB extending in a prescribed direction, a word line WL arranged to intersect with the pair of bit lines, and a memory cell 41 arranged between the pair of bit lines BLT/BLB and the word line WL and consisting of only two ferromagnetic capacitors 42a and 42b.例文帳に追加

このメモリ装置は、所定の方向に延びる1組のビット線対BLT/BLBと、ビット線対BLT/BLBと交差するように配置されたワード線WLと、ビット線対BLT/BLBとワード線WLとの間に配置され、2つの強誘電体キャパシタ42aおよび42bのみからなるメモリセル41とを備えている。 - 特許庁

In the same way, when data in a DRAM cell 102 is outputted to a bit line BLN, a pre-charge circuit 105 is activated and a bit line BLT and referring potential line 10 of referring potential Vref are made into a conducting state.例文帳に追加

同様に、DRAMセル102内のデータがビット線BLNに出力された場合は、プリチャージ回路105を活性化してビット線BLTと参照電位Vref の参照電位線10とを導通する。 - 特許庁

A ground terminal 204 of the inverter 20 is connected to a bit line BLT through a transistor TN3 of a bit switch 4 and a ground terminal 224 of the inverter 22 is connected to a bit line BLC through a transistor TN4 of the bit switch 4.例文帳に追加

インバータ20の接地端子204はビットスイッチ4のトランジスタTN3経由でビット線BLTに接続され、インバータ22の接地端子224はビットスイッチ4のトランジスタTN4経由でビット線BLCに接続される。 - 特許庁

This memory is provided with: a nonvolatile memory cell 11 for storing complementary data; a complementary bit line including first and second bit lines BLT and BLB connected to the nonvolatile memory cell 11; and a sense amplifier circuit connected to the complementary bit line.例文帳に追加

相補データを記憶する不揮発性メモリセル11と、不揮発性メモリセル11に接続された第1ビット線BLTと第2ビット線BLBからなる相補ビット線と、相補ビット線に接続されたセンスアンプ回路と、を備える。 - 特許庁

The semiconductor storage device is equipped with the bit line pair BLT, the equalizing circuit 10 connected to a BLN, and a current limiting circuit 11 to supply the current to the equalizing circuit 10.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、ビット線対BLT、BLNに接続されたイコライズ回路10と、イコライズ回路10に電流を供給する電流制限回路11を備える。 - 特許庁

The cell node stage potential setting circuit 121 is constituted of expansion word lines WLHLD<0>, <1>, and NMOS transistors QN21, QN22 controlled by this and fixing bit lines BLt, BLc to VSS.例文帳に追加

セルノード段電位設定回路121は、拡張ワード線WLHLD<0>,<1>と、これにより制御されてビット線BLt,BLcをVSSに固定するためのNMOSトランジスタQN21,QN22により構成される。 - 特許庁

During read-out operation, after the complementary bit lines BLT, BLB are charged to the prescribed potentials by a pre-charge circuit 60, they are discharged in accordance with each of complementary data.例文帳に追加

読み出し動作時、相補ビット線BLT,BLBは、プリチャージ回路60によって所定の電位に充電された後に、相補データのそれぞれに応じて放電される。 - 特許庁

A control method of the SRAM by which data is written in an antiparallel storage circuit of an SRAM memory cell via a true bit line (BLT) and a complementary bit line (BLC) or data is read from it and a SRAM cell are provided.例文帳に追加

真ビットライン(BLT)および相補ビットライン(BLC)を介して、SRAMメモリセルのアンチパラレル記憶回路にデータを書き込み、またはそれからデータを読み出すSRAMの制御方法およびSRAMセルが提供される。 - 特許庁

Until data in a DRAM cell 101 is outputted to a bit line BLT and a sense amplifier circuit 104 is activated, a pre-charge circuit 105 is activated and a bit line BLN and referring potential line 10 of referring potential Vref are made into a conducting state.例文帳に追加

DRAMセル101内のデータがビット線BLTに出力されてからセンスアンプ回路104が活性化されるまでの間、プリチャージ回路105を活性化してビット線BLNと参照電位Vref の参照電位線10とを導通する。 - 特許庁

A nonvolatile semiconductor memory 10 includes a memory cell 11 storing complementary data, complementary bit lines BLT, BLB connected to the memory cell 11, a pre-charge circuit 60 pre-charging the complementary bit line to the prescribed potential, a latch type sense amplifier 70, and a current control circuit 50 connected to the complementary bit lines.例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ10は、相補データを記憶するメモリセル11と、メモリセル11に接続された相補ビット線BLT,BLBと、その相補ビット線を所定の電位にプリチャージするプリチャージ回路60と、ラッチ型センスアンプ70と、相補ビット線に接続された電流制御回路50と、を備える。 - 特許庁

At the time of test mode, a defective cause point can be found from comparison of an expected value data and actual data by selecting the expansion word lines WLHLD<0>, <1> and performing data read-out in which a cell node, therefore, the bit lines BLt, BLc are fixed to VSS.例文帳に追加

テストモード時、拡張ワード線WLHLD<0>,<1>を選択してセルノード、従ってビット線BLt,BLcをVSSに固定したデータ読み出しを行うことにより、期待値データと実際のデータとの比較から、不良原因箇所を絞ることができる。 - 特許庁

The semiconductor device includes a sense amplifier SA including an equalizing circuit for equalizing a pair of bit lines BLT and BLB, an equalizing control circuit 64 for converting an amplitude of an equalizing signal EQB into a VDD level, and a word driver WD for controlling a sub-word line SWL according to a timing signal.例文帳に追加

ビット線対BLT,BLBをイコライズするイコライズ回路を含むセンスアンプSAと、イコライズ信号EQBの振幅をVDDレベルに変換するイコライズ制御回路64と、タイミング信号に基づいてサブワード線SWLを制御するワードドライバWDとを備える。 - 特許庁

The control circuit CTL turns the transfer switch off in a state before writing or reading data, and when writing or reading of data is performed via the pair of bit lines BLT, BLB, the transfer switch is turned on.例文帳に追加

制御回路CTLは、データの書き込み又は読み出しを行う前の状態においては、トランスファースイッチSWをオフ状態とし、ビット線対BLT,BLBを介してデータの書き込み又は読み出しを行う場合は、トランスファースイッチSWをオンさせる。 - 特許庁

例文

A control method of such a static random access memory (SRAM) cell is provided that an anti-parallel storage circuit storing a logic high level or a logic low level is included across a true node and a complementary node, and the true node and the complementary node are connected respectively to a true bit line (BLT) and a complementary bit line (BLC) by first and second transistors.例文帳に追加

真ノード、相補ノード間に論理ハイレベルまたは論理ローレベルを記憶するアンチパラレル記憶回路を含み、真ノードと相補ノードとは、それぞれ第1、第2のトランジスタによって真ビット線(BLT)と相補ビット線(BLC)とに接続されているスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)セルの制御方法が提供される。 - 特許庁

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