「defects per unit」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce the number of airtightness defects per unit of 1,000 manufactured light emitting display devices, in a method of sealing a light emitting display device.例文帳に追加

発光ディスプレイ装置を封止する方法において、製造される１０００の単位当たりの気密性欠陥の数を低くする。 - 特許庁

In a process 14, the defect distribution (number of defects per unit area) of insulating films is found from data provided in the process 13.例文帳に追加

過程１４は、過程１３で得られたデータから絶縁膜の欠陥分布（単位面積当たりの欠陥）を求める。 - 特許庁

During a process where temperature is elevated to a predetermined target temperature, the defects and abnormalities of first and second temperature detecting means are judged with a means for comparing a temperature increase per unit of time in the first temperature detecting means with a temperature increase per unit of time in the second temperature detecting means.例文帳に追加

既定目標温度へ昇温していく過程で、第１の温度検出手段における単位時間当たりの上昇温度と第２の温度検出手段における単位時間当たりの上昇温度を比較する比較手段により前記第１、第２の温度検出手段の故障及び異常を判断する。 - 特許庁

To provide a solar cell evaluation apparatus capable of measuring the characteristic distribution of light/electric conversion efficiency per unit area at respective positions of a solar cell, partial failures, partial defects and the positions, etc.例文帳に追加

太陽電池のそれぞれの位置における単位面積当たりの光・電気変換効率の特性分布や部分的な欠陥、部分不良及びその位置等を測定することができる太陽電池評価装置を得る。 - 特許庁

Hereupon, the number of silicon crystals having crystal defects near the surface of the silicon layer is made smaller than 8E14 in the silicon-ion injecting process, and the injecting quantity of silicon ions per unit volume which are injected into the vicinity of the interface between the sapphire substrate and the silicon layer is made not less than 3.0E19 ions/cm^3.例文帳に追加

そして、前記シリコンイオン注入工程において、前記シリコン層の表面付近の結晶欠陥を有するシリコンの数を8E14未満とし；前記サファイア基板と前記シリコン層との界面付近における前記シリコンイオンの単位容積当たりの注入量を3.0E19 ions/cm3 以上とする。 - 特許庁