「fatal problem」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Use this for a non-fatal warning of a potential problem situation. 例文帳に追加

これは、問題を起こす可能性のある、致命的ではない警告に対して使用します。 - PEAR

At this time, when the additional information is, for example, a BMP or WAV file, etc., low error correction capability is not a fatal problem in reproduction, so the information is encoded with low error correction capability.例文帳に追加

その際、付加情報が例えばＢＭＰやＷＡＶファイル等である場合には誤り訂正能力が低くても再現する際に致命的な問題とはなりずらいので、誤り訂正能力を低くして符号化する。 - 特許庁

To solve a problem that an image processor becomes inactive and a fatal fault results when specific information such as a serial number for each image processor stored in a nonvolatile memory is erased by the exhaustion of a backup power source of the nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリ内に格納されるシリアル番号などの画像処理装置毎の固有情報が、前記不揮発性メモリのバックアップ電源の消耗により消えてしまった場合は、不作動になり、致命的な故障に繋がる。 - 特許庁

To provide a concrete reinforcing member which combines metal reinforcing elements with each other firmly, is superior in dispersibility of metal reinforcing elements to concrete and mortal, and completely solves a problem of entraining air likely to be a fatal defect of concrete or mortal constructions.例文帳に追加

金属補強要素同志を強固に結合するとともに、コンクリート、モルタルに対する金属補強要素の分散性に優れ、且つコンクリート、モルタル構造物の致命的欠陥となる可能性がある空気連行性の問題が完全に解決されたコンクリート補強材を提供すること。 - 特許庁

To provide a variable rigidity type dynamic vibration absorbing device, capable of solving the problem of a pattern formation phenomenon if any generated due to vibration of a contact roll system, for example, to which there is no fundamental measure of prevention at site, giving fatal damage to the product, or causing a situation of setting an upper limit of line speed.例文帳に追加

例えば、接触ロール系の振動により発生するパターン形成現象に対する現場の根本的な対策方法はなく、このパターン形成現象が発生した場合、製品に致命的なダメージを与たり、ライン速度の上限を設定せざるを得ない状況に陥る。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to grasp occurrence tendency of a defect since a defect size becoming fatal is miniaturized with miniaturization of a pattern and manufacturing tolerance which is originally not a defect is detected when sensitivity of a fault inspecting device is improved for detecting the minimal defect in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造プロセスにおいて，パターン微細化に伴い，致命となる欠陥サイズも微小化しており，微細な欠陥を検出するために欠陥検査装置の感度を上げると，本来は欠陥ではない製造公差などを検出してしまい，欠陥の発生傾向を捕らえることが困難となる。 - 特許庁