「picking defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An influence of the deformation of the inspection image caused by fluctuation of the image picking-up environment is removed to discriminate the inherent defect in the inspection image.例文帳に追加

撮像環境の変動による検査画像の変形の影響を除去して検査画像の本質的な欠陥を区別することが可能になる。 - 特許庁

To easily and surely inspect a dot-like defect articulately existent on an inspection image, which is obtained by picking up the image of printed matter, together with a picture.例文帳に追加

印刷物を撮像して得られる検査画像上に絵柄と共に明瞭に存在する点状欠陥を容易且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

To provide printing equipment which enables adequate determination of a defect of an illuminating light source, in regard to the printing equipment having an image pickup part for picking up an image of printed matter.例文帳に追加

印刷物を撮像する撮像部を有する印刷装置において照明光源の不良を適切に判定することができる印刷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device that can cope with a defective pixel even in the case of picking up an image arranged through pixel shift while notifying the arrangement of each color and to provide a pixel defect compensation method.例文帳に追加

各色の配置に着目しながら、画素をずらして配した撮像でも画素欠陥に対応することのできる固体撮像装置および画素欠陥補償方法の提供。 - 特許庁

A projection acquiring means 403 performs a prescribed direction projection operation of image data obtained by picking up the image of the defect inspection object (photoreceptor, etc., of copying machine) of this time.例文帳に追加

射影取得手段４０３は、今回の欠陥検査対象物（複写機の感光ドラム等）を撮像して得られた画像データに対して、所定方向の射影演算を行なう。 - 特許庁

To provide an apparatus to detect defects on the upper surface (6a), the edge surface (6b) and the lower surface (6c) in the edge portion of a wafer (6) by a simple method, and a defect image picking-up method.例文帳に追加

ウエハ（６）縁部の上部表面（６ａ）、端面（６ｂ）及び下部表面（６ｃ）の欠陥を簡単な方法で検査できる装置及び欠陥画像撮像方法を提供すること。 - 特許庁

When a defect exists in the substrate 0, light from the illumination system is irregularly reflected in a defect position, light quantity to a corresponding picture element on the image picking-up means 6 corresponding to the position is changed and magnified on the monitor 9 to be reflected.例文帳に追加

透光性基板Ｏに欠陥が存在する場合、照明系からの光は該欠陥位置で乱反射され、その位置に対応する撮像手段６上の対応画素への光量が変化し、これがモニタ９上に拡大して反映されることとなる。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of determining a defect with a proper criterion in accordance with the proportion of included colors, even when the defect includes a pixel of a plurality of colors, in a technique for detecting defects of a display panel, by picking up by a camera an image displayed on the display panel, including pixels of a plurality of colors such as a color LCD panel.例文帳に追加

本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関し、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The imaging device 10 includes: a camera 12 for picking up the image of the surficial defect in the object S to be inspected; and at least one leg part 14 arranged in the camera 12 and extended toward the image pickup direction of the camera 12.例文帳に追加

撮像装置１０は、被検査物Ｓにおける表面欠陥の撮像を行うカメラ１２と、カメラ１２に設けられると共にカメラ１２の撮像方向に向けて延びる、少なくとも一つの脚部１４とを備える。 - 特許庁

Since the light reflected from the substrate 0 is absorbed by the filter 11 in this case, the image image-formed in the image picking-up means 6 is brought into a dark field to make the defect distinct on the monitor 9.例文帳に追加

この場合において、透光性基板から反射された光は、光吸収フィルタ１１によって吸収されるので、撮像手段に結像される像は暗視野となりモニタ上で該欠陥が明瞭となる。 - 特許庁

This defect inspection device is provided with a camera 12 picking up an image of a transparent sheet film 1 and an image processing device 14 detecting foreign matter 19 of the transparent film 1 by processing the pick-up image.例文帳に追加

透明シート状の透明フィルム１の画像を撮像するカメラ１２と、撮像された画像を画像処理を行うことにより透明フィルム１の異物１９を検出する画像処理装置１４とを有する欠陥検査装置である。 - 特許庁

Three-dimensional image data are obtained through operation from pieces of two-dimensional image data obtained by picking up an image more than one and the mean value of height, the volume, the plain-view shape, etc., of the cream solder 280 are found to detect a defect in printing.例文帳に追加

複数回の撮像による複数の２次元像データから演算により３次元像データを取得し、クリーム半田３８０の高さの平均値，体積，平面視の印刷形状等を求め、印刷不良を検出する。 - 特許庁

An inspection device 1 gets a reference image obtained by picking up an image of a model having no defect prior to inspection, executes extension processing and reduction processing and stores obtained extended and reduced images in an image memory 3 built in the device 1.例文帳に追加

検査装置１は、検査に先立ち、欠陥のないモデルを撮像して得られた基準画像を取り込み、膨張処理および収縮処理を行い、得られた膨張画像および収縮画像を装置内の画像メモリ３内に保存する。 - 特許庁

To provide an image composition method by which images with different exposure times in time division is obtained, an image with a wide dynamic range is obtained by compositing the images and a defect of the composited image caused by deviations in the composited images is corrected when picking up moving object.例文帳に追加

時分割で露光時間の異なる画像を得て、これらを合成することにより広ダイナミックレンジ画像を得る画像合成方法において、移動する被写体を撮像した場合に、合成する画像のズレによって発生する合成画像の不具合を補正する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for picking up the optical image of an object using a solid state image sensor and outputting a video signal in which a white blemish is corrected immediately upon occurrence in a working solid state image sensor to create a video signal of good image quality in which defect due to the white blemish is inconspicuous.例文帳に追加

固体撮像素子を用いて被写体光像を撮像し映像信号を出力する撮像装置において、使用中の固体撮像素子に白キズが新たに発生しても、直ちに補正して、この白キズによる欠陥が目立たない良好な画質の映像信号を生成する撮像装置を提供する。 - 特許庁