「semiconductor sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SAMPLE-HOLD CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びサンプルホールド回路 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR ANALYZING SAMPLE例文帳に追加

半導体分析試料の製造方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

サンプルホールド回路および半導体装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR PACKING FLAT SAMPLE, SUCH AS SEMICONDUCTOR WAFER, OR THE LIKE, AND SAMPLE PACKING MECHANISM例文帳に追加

半導体ウェハ等の板状の試料を装填する試料ホルダおよび試料装填機構 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING RESISTIVITY OF SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の抵抗率測定装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING IMPURITY IN SEMICONDUCTOR SAMPLE, AND IMPURITY CONCENTRATOR OF SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の不純物分析方法および半導体試料の不純物濃縮装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の調製方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER HOLDING MECHANISM OF SAMPLE STAGE例文帳に追加

試料ステージにおける半導体ウエハ保持機構 - 特許庁

MASK PATTERN, EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加

マスクパターン、半導体装置の評価サンプル作成方法および半導体評価サンプルの評価方法 - 特許庁

PROCESSOR OF SEMICONDUCTOR SAMPLE AND PROCESSING METHOD例文帳に追加

半導体試料の処理装置及び処理方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の欠陥評価方法及び装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING MACHINE, SAMPLE HOLDING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

試料保持機と試料の保持方法、並びに、それを用いた半導体製造装置 - 特許庁

ANALYSIS SAMPLE PREPARING APPARATUS, ANALYSIS SAMPLE PREPARING METHOD AND SEMICONDUCTOR SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

分析用試料の調整装置及び分析用試料の調整方法、並びに半導体試料の分析方法 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT BUILT BY SEMICONDUCTOR SILICON PROCESS TECHNIQUE例文帳に追加

半導体シリコンプロセス技術によって作製した試料台 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

半導体装置およびそれを用いたサンプルホールド回路 - 特許庁

EVALUATING SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR COMPOUND SEMICONDUCTOR LAYER例文帳に追加

化合物半導体層の評価用サンプル作製方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LIFE TIME OF SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

半導体試料のライフタイム測定方法及びその装置 - 特許庁

POWER SUPPLY RELAY CIRCUIT FOR SAMPLE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

試料用電源中継回路及び半導体試験装置 - 特許庁

A voltage is impressed to the semiconductor device sample 10 to be scanned on the sample by a laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス試料１０に電圧を印加し、試料１０上をレーザービームで走査する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR LOADING PLATE-LIKE SAMPLE SUCH AS SEMICONDUCTOR WAFER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

半導体ウェハ等の板状の試料を装填する試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

Consequently, the semiconductor layer of the sample 10 is etched and etch pits are produced on the surface of the semiconductor layer.例文帳に追加

これにより、試料１０の半導体層はエッチングされ、その表面にエッチピットが出る。 - 特許庁

The cut sample is an insulating tape used for the semiconductor package.例文帳に追加

切断試料は半導体パッケージに用いられる絶縁テープである。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE INSPECTED AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

被検試料の作製方法及び半導体装置の検査方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR OBSERVING FAULT PLACE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良箇所観察のためのサンプル作製方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS AND SAMPLE PROCESSING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、半導体検査装置及び試料加工方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR IMPURITY STANDARD SAMPLE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体不純物標準試料及びその作製方法並びに半導体基板の分析方法 - 特許庁

To prepare a sample for TEM observation directly from a semiconductor wafer or a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体ウェハまたは半導体チップから直接、ＴＥＭ観察用試料を得ることができる。 - 特許庁

DLTS SAMPLE STRUCTURE, DLTS MEASURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ＤＬＴＳサンプル構造、ＤＬＴＳ測定方法および半導体デバイス - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁

To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE FOR OBSERVING SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE CRYSTAL DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とその作製方法 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device capable of suppressing dust emission that may occur when an inspected sample is separated from a sample stage, and a semiconductor inspection method.例文帳に追加

試料台から被検査試料を離脱する際の発塵を抑制することができる半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR OBSERVING CRYSTAL DEFECT IN SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

半導体単結晶中の結晶欠陥観察用試料の作製方法 - 特許庁

To automate a process for thinning a sample taken out from a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハから取り出された試料を薄くするプロセスを自動化する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SAMPLE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

試料の分離装置及び分離方法並びに半導体基板の製造方法 - 特許庁

To measure one or a plurality of electrical properties of semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハ又はサンプルの単数又は複数の電気特性を測定する。 - 特許庁

METHOD FOR ANNEALING SOLID STATE SAMPLE AND METHOD FOR FORMING SEMICONDUCTOR DOPED LAYER例文帳に追加

固体試料のアニール方法および半導体不純物ドーピング層形成方法 - 特許庁

To provide a sample stage enabling emission analysis from the backside of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの裏面から発光解析が可能なサンプルステージを提供する - 特許庁

PHYSICAL PROPERTY EVALUATION METHOD OF SAMPLE, AND PHYSICAL PROPERTY EVALUATING DEVICE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL例文帳に追加

試料の物性評価方法及び半導体材料の物性評価装置 - 特許庁

The minute sample stand 100 has a minute sample loading membrane 20 formed to and integrated with one side of a minute sample stand base part 10 consisting of a semiconductor substrate.例文帳に追加

微小試料台１００は、半導体基板よりなる微小試料台基部１０の一面に成膜により一体化された微小試料搭載用薄膜２０を有する。 - 特許庁

ANALYZING SAMPLE PRODUCING METHOD, ANALYZING METHOD OF SUBSTANCE PRESENT ON SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND ANALYZING SAMPLE PRODUCING APPARATUS例文帳に追加

分析用試料生成方法、半導体基板表面に存在する物質の分析方法および分析用試料生成装置 - 特許庁