「semiconductor sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The sample formed with an insulation film 105 on a surface where upper faces of the diffusion area 103, a well area 102 and a silicon substrate 101 are exposed is prepared by working a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を加工して拡散領域103 およびウエル領域102 およびシリコン基板101 の上面を露呈させた表面に絶縁膜105 を形成した試料を作成する。 - 特許庁

To perform sample evaluation with efficiency and in a short period of time by means of general-purpose software by varying a register library according to the register configuration of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置のレジスタ構成にあわせてレジスタライブラリを変更することにより、汎用のソフトウェアにより短期間で、効率よくサンプル評価を行う。 - 特許庁

To provide a method for minimizing dark current errors with respect to an electronic sample image formed by sampling the response of a CMOS photosensitive semiconductor element array.例文帳に追加

CMOS感光半導体素子アレイの応答をサンプリングすることによって形成される電子的サンプルイメージに関する暗電流エラーを最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁

Infrared light is condensed on the sample such as the semiconductor board, the liquid crystal board and the like and a mirror for reflecting the infra-red light is provided on a back face of the testpiece and then scan is executed.例文帳に追加

半導体基板や液晶基板などの試料上に赤外光を集光し、試料裏面には赤外光を反射するミラーを配置した上で走査する。 - 特許庁

To provide a polymerase chain reaction device having integrated microwells capable of carrying out many DNA analyses at a micro sample by forming an assemblage composed of plural microwells on a semiconductor base plate and composing it so as to carry out polymerase chain reaction in each well.例文帳に追加

微量のサンプルにより、多数のＤＮＡ試料を一度に増幅して解析を行う事を可能とする、ポリメラーゼ連鎖反応の装置を開発する。 - 特許庁

To provide an evaluating sample manufacturing and evaluating method for a compound semiconductor, which can evaluate impurity density, etc., of an intermediate layer, in a short time.例文帳に追加

短時間で中間層の不純物密度評価等の評価を行い得るようにした化合物半導体の評価用サンプルの作製方法並びに評価方法を提供する。 - 特許庁

In a preparation of the measured sample, the platelets in an antibody are dyed by a fluorescent pigment excited by the semiconductor laser.例文帳に追加

測定用試料の調製においては、半導体レーザーによって励起可能な蛍光色素を用いて検体中の血小板を染色し、測定用試料を調製する。 - 特許庁

To allow positioning precision of high level such as required in a sample stage of an electron microscope device used in a field of manufacturing a semiconductor, and to allow reduction of a drift.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる電子顕微鏡装置の試料ステージで要求されるような高いレベルでの位置決め精度やドリフトの低減を可能とする。 - 特許庁

This semiconductor device inspection apparatus 1 is equipped with a stage 141 disposed in a vacuum chamber 11 for setting the semiconductor device (sample S), a femto-second laser device 12 for generating a femto-second laser beam FSLB for cutting the semiconductor device, and a scanning electron microscope (SEM 17) for observing the cut face W of the semiconductor device cut by the laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス検査装置１は、半導体デバイス（試料Ｓ）をセットする真空チャンバー１１内に配設されたステージ１４１と、半導体デバイスを切削するフェムト秒レーザビームＦＳＬＢを生成するフェムト秒レーザ装置１２と、当該レーザビームにより切削した半導体デバイスの切削面Ｗを観察する電子顕微鏡（ＳＥＭ１７）とを備えている。 - 特許庁

This method of processing a sample for inspection in inspecting the quality of the semiconductor crystal includes at least an automatic cleaning process 400 for automatically cleaning the sample for inspection, and an automatic heat treatment process 500 for automatically performing the heat treatment to the cleaned sample for inspection.例文帳に追加

半導体結晶の品質を検査する際の検査用サンプルを処理する方法であって、少なくとも、前記検査用サンプルを自動的に洗浄する自動洗浄工程４００と、該洗浄された検査用サンプルを自動的に熱処理する自動熱処理工程５００とを含むことを特徴とする半導体結晶検査用サンプルの自動処理方法。 - 特許庁

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope.例文帳に追加

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

A kind of the wafer W is automatically recognized based on X-ray fluoroscopic information of the semiconductor wafer W conveyed on a sample table 3, a map of a position to be inspected such as the each semiconductor bump is automatically prepared based on the same fluoroscopic information, and the sample table 3 is automatically moved based on the map to conduct fluoroscopic inspection.例文帳に追加

試料テーブル３上に搬送された半導体ウエハＷのＸ線透過情報から、そのウエハＷの種類を自動的に認識し、同じくそのＸ線透過情報から各半導体バンプなどの検査すべき位置のマップを自動的に作成し、そのマップに基づいて試料テーブル３を自動的に移動させて透視検査を行う。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam system, wherein a primary charged particle beam is radiated to an insulating material or a semiconductor sample and a signal obtained from the specimen is detected, by which an electrification phenomenon of the sample is markedly reduced.例文帳に追加

絶縁物、あるいは、半導体試料に一次荷電粒子ビームを照射して試料から得られる信号を検出する走査荷電粒子ビーム装置において、試料の帯電現象を著しく少なくすることができる走査荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method.例文帳に追加

イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。 - 特許庁

This detection and determination device of oxygen molecules wherein a wavelength-changeable semiconductor laser is used as an excitation light source, is characterized by being constituted of a holding part of a sample including oxygen molecules, a spectral part for measuring an emission spectrum from the excited sample, and a photodetection part.例文帳に追加

波長可変半導体レーザーを励起光源とし、酸素分子を含む試料の保持部、励起された該試料からの発光スペクトルを測定する分光部、及び光検出部、から構成されることを特徴とする酸素分子検出及び定量装置。 - 特許庁

A thin-film part 16 for allowing electrons from a transmission- type electron microscope to be transmitted is formed at a part where a semiconductor is observed, and a specific etching treatment is made to the thin-film part 16, thus preparing a semiconductor sample 13 for the transmission-type electron microscope.例文帳に追加

半導体１０の観察を受ける部分に透過型電子顕微鏡からの電子の透過を許す薄膜部１６を形成し、該薄膜部に所定のエッチング処理を施して透過型電子顕微鏡用半導体試料１３を作成する方法。 - 特許庁

To provide a method and device for evaluating the crystallizability of a semiconductor thin film which can carry out sensitive evaluation of the crystallizability of the semiconductor thin film formed on a base material while facilitating the arrangement of the base material on a sample stand.例文帳に追加

試料台への基材の配置が容易でありながら基材上に成膜された半導体薄膜の結晶性を高感度で評価可能な半導体薄膜の結晶性評価方法及び結晶性評価装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of being used as a wide- band high-frequency switch by suppressing an increase in a conduction loss in a high-frequency without lowering the switching characteristics of a semiconductor switching element and to provide a sample-and-hold circuit using the same.例文帳に追加

半導体スイッチ素子のスイッチング特性を低下させることなく高周波での導通損失の増大を抑制できて広帯域の高周波スイッチとして利用できる半導体装置およびそれを用いたサンプルホールド回路を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing, an analytical sample from which detailed information on a defective portion, in particular, a defective portion positioned in the vicinity of the surface of a semiconductor substrate, among the defective portion generated in a semiconductor device, can be obtained.例文帳に追加

半導体装置において発生した不良個所のうち、特に半導体基板の表面近傍に位置する不良箇所について、この部分の詳細な情報を得ることができる試料を作製する分析用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

The resist and the single-crystal semiconductor layer can also be grounded together with the foundation semiconductor layer through a grounding terminal by fixing the SOI substrate under the state on a sample table having the grounding terminal on a surface by using an electrostatic attraction method.例文帳に追加

この状態のＳＯＩ基板を、表面に接地端子を備えた試料台に静電吸着法を用いて固定することで、接地端子を介して下地半導体層とともにレジストおよび単結晶半導体層も接地することが可能となる。 - 特許庁

An aromatic low molecular weight nematic liquid crystal is purified and its purity is guaranteed by comparison of the mobility of the sample purified by the time-of-flight method with that of a sample diluted with a solvent thereby to realize properties as an organic semiconductor.例文帳に追加

芳香族低分子ネマティック液晶を精製し、ｔｉｍｅ−ｏｆ−ｆｌｉｇｈｔ法を用いて精製した試料と溶媒によって希釈した試料の移動度を比較することによって、純度を保証することにより、有機半導体としての特性を実現する。 - 特許庁

The imaging apparatus having a sample hold type APC function for keeping a constant quantity of light of a semiconductor laser comprises a writing unit section having a function for measuring the time required for the voltage of an APC hold capacitor to reach some reference level and determining an optimal APC sample hold timing for each machine.例文帳に追加

半導体レーザの一定光量を保持するサンプルホールド型ＡＰＣ機能を持つ画像形成装置において、ＡＰＣホールドコンデンサの電圧が、あるリファレンス電圧になるまでの時間を測定し、機械毎に最適なＡＰＣサンプルホールドタイミングを決定する機能を有する書き込みユニット部を備えた。 - 特許庁

During CPM measurement, a photoexcited carrier generated by irradiating with light a sample having low optical responsivity, such as a wide-bandgap semiconductor is instantaneously excluded by applying positive bias voltage to a third electrode provided in the sample in addition to a second electrode for measurement.例文帳に追加

ＣＰＭ測定の際、ワイドバンドギャップ半導体などの光応答性の低い試料に光を照射することで生成される光励起キャリアを、試料に設けられた測定用の２電極に加えて設けられた第３の電極に正のバイアス電圧を印加することにより瞬時に追い出す。 - 特許庁

To prepare, in short time, a sample for total reflection fluorescent X-ray analysis, when the sample for the total reflection fluorescent X-ray analysis is prepared by concentrating, or evaporated to dryness in some cases, a HF solution drop used for collection and recovery of surface impurities on a semiconductor substrate such as an Si wafer.例文帳に追加

Ｓｉウエハ等の半導体基板の表面不純物を捕集回収したＨＦ液滴を濃縮し、場合により蒸発乾固させて全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製する際に、短時間で全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for simply producing an analyzing sample of the substance present on the surface of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板表面に存在する物質の分析用試料を簡単に生成することが可能な半導体基板表面に存在する物質の分析用試料生成方法を提供する。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

The identification and quantification of the α-rays emission nuclides uses a method which determines the stopping power of the sample with respect to α-rays and determines from an α-ray spectrum measured by a Si-semiconductor detector.例文帳に追加

α線放射核種の同定と定量は、試料のα線に対する阻止能を求め、Ｓｉ半導体検出器により測定したα線スペクトルから求める手法を用いる。 - 特許庁

To provide an angle measuring instrument capable of measuring accurately an angle of a sample without depending on manual work, and to provide a thickness measuring method for a diffusion layer of a semiconductor wafer using the angle measuring instrument.例文帳に追加

試料の角度を人手に頼らず、正確に測定できる試料の角度測定装置およびこれを用いた半導体ウェーハの拡散層の厚さ測定方法を提供する。 - 特許庁

A tilt of a sample stage 42 is adjusted using an adjusting means 40 so that the ratio of the distances becomes "1", and thus making the stencil mask 8 and semiconductor wafer 44 parallel to each other.例文帳に追加

この距離の比を「１」にするように調整手段４０を用いて試料ステージ４２の傾きを調整することで、ステンシルマスク８と半導体ウェーハ４４を平行にすることができる。 - 特許庁

A value of a current that flows in the substrate 12 of the semiconductor wafer or the sample 10 and across the dielectric 14 in the form of the tunneling current is measured in response to the applied electrical biases.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプル１０の基板１２、誘電体１４を横切って流れるトンネル電流としての電流の値が、印加された電気バイアスに応じて測定される。 - 特許庁

The control unit 14 obtains a change in resistivity of the semiconductor sample 22 for a change in illuminance on the basis of the measured results of the voltage measurement unit 17 for display on a display unit 19.例文帳に追加

制御部１４は、電圧測定部１７の測定結果に基づいて半導体試料２２の照度変化に対する抵抗率の変化を求め、表示部１９に表示する。 - 特許庁

Accordingly, since the impure substances adhered inside the sample chamber or the like can be removed, generation of defects at the semiconductor manufacturing processes, after the measurement and inspection, can be restrained.例文帳に追加

これによって、試料室内等で付着する不純物を除去することができるため、測定，検査後の半導体製造工程における不良発生を抑制することが可能となる。 - 特許庁

To provide a current measuring device and a current measuring method, wherein it is possible to easily set up an energy level of electronic beams to be irradiated on a measurement sample such as a semiconductor substrate, etc.例文帳に追加

半導体基板などの測定サンプルに対して照射する電子ビームのエネルギーレベルを容易に設定できる電流測定装置及び電流測定方法を提供する。 - 特許庁

A charged potential voltage measuring method is presented for measuring a charged potential voltage on the surface of an insulating film of a sample, (for example, a semiconductor substrate) comprising at least one layer of an insulating film.例文帳に追加

少なくとも一層の絶縁膜を有する試料（たとえば、半導体基板）における絶縁膜表面の帯電電位を測定する帯電電位測定方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor inspection device with a plurality of primary electron beams is provided with an adjustment means for setting a position where the plurality of primary electron beams are emitted to a sample for inspection.例文帳に追加

複数の一次電子ビームを有する半導体検査装置において、前記複数一次電子ビームが被検査試料を照射する位置を個別に設定調整手段を有する。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

Thereby, The clear absorption current image 7 can be obtained without including difference in amplification rate in input, and measurement efficiency in failure analysis of the semiconductor sample 2 can be improved.例文帳に追加

これにより、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像７を取得でき、半導体試料２の不良解析の測定効率を向上できる。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

The present invention relates to the semiconductor gas sensor for the gas chromatograph for detecting the component in gas led out from a separation column after sample gas is mixed with carrier gas to be introduced into the separation column.例文帳に追加

試料ガスがキャリアガスと混合されて分離カラムに導入された後に分離カラムから導出されたガス中成分を検出するガスクロマトグラフ用半導体ガスセンサに関する。 - 特許庁

To provide a method and a device for precisely evaluating two dimensional distribution of crystal structure defects of a semiconductor sample by a photoluminescence method in nondestructive and noncontact manner.例文帳に追加

フォトルミネッセンス法により、非破壊、非接触で半導体試料の結晶構造欠陥の２次元分布の評価を高精度で行うことを可能にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Chemical passivation for inhibiting surface recombination is executed by coating the semiconductor sample surface by wax or resin for setting the surface to a passivation state.例文帳に追加

表面再結合を抑制するためのケミカル・パッシベーションを、ワックス又は樹脂にて半導体試料の表面をコーティングして同表面を前記パッシベーション状態にすることで実施する。 - 特許庁

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To shorten the time required for automatic focusing in semiconductor defect automatic review by use of an electron beam type microscope to improve throughput for observing a sample.例文帳に追加

電子線式顕微鏡を用いた半導体欠陥自動レビューにおける自動焦点合わせに要する時間を短縮することができ、試料を観察するスループットを向上させる。 - 特許庁

The sampling method includes the following process: a pulse-like drive voltage equal to or higher than a level causing relaxation vibration is applied to a semiconductor laser, and laser beams with pulse-like peculiar peaks are emitted from the semiconductor laser and focused on a biological sample as a sampling target.例文帳に追加

緩和振動が生じる電圧値以上となるパルス状の駆動電圧を半導体レーザに印加し、パルス状の特異ピークをもつレーザ光を半導体レーザから出力させ、該パルス状の特異ピークをもつレーザ光を、サンプリング対象の生物サンプルに集光する。 - 特許庁

A sample table 313 in the implanting chamber 13 has a rotation- controllable semiconductor wafer WF mount 132 which is rotatably controlled to align an orientation flat of the semiconductor wafer WF and rotate the wafer WF at a specified rotation angle.例文帳に追加

イオン注入室１３内の試料台１３１に関し、回転制御可能な半導体ウェハＷＦの載置部１３２は、単なる半導体ウェハＷＦのオリフラ合わせだけでなく、所定の回転角で半導体ウェハＷＦが回転制御されるようになっている。 - 特許庁