「semiconductor sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a manual prober for analyzing a semiconductor reducing the effect of noise at the time of measurement and good in handleability or operability even in the case of a semiconductor sample requiring a light source in measurement.例文帳に追加

測定時のノイズの影響を低減し、測定に光源を必要とする半導体試料の場合でも取り扱いや操作性の良い解析用マニュアルプローバを提供する。 - 特許庁

To effectively remove a BN thin piece attaching to a rear face of a semiconductor substrate when the semiconductor substrate is subjected to process treatment while holding the semiconductor substrate in a sample base whose outermost surface layer is pyrolytic boron nitride (PBN).例文帳に追加

熱分解窒化ホウ素（ＰＢＮ）を最表面層とする試料台に半導体基板を保持して該半導体基板にプロセス処理を行ったときに、該半導体基板の裏面に付着したＢＮ薄片を効果的に除去する。 - 特許庁

To provide an ellipsometer with a self-calibrating capability regarding a system for measuring surface characteristics of a sample such as a semiconductor device.例文帳に追加

半導体のような試料の表面特性を測定するためのシステムに関し、自己較正機能を備えたエリプソメータを提供する。 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

This method is generally used for obtaining a sample for TEM observation from a wafer in a semiconductor industrial field.例文帳に追加

そのような方法は、半導体産業分野においてウェハからTEM観察用のサンプルを入手するために、一般的に使用されている。 - 特許庁

To provide a sample stage that has a movement stroke capable of observing whole face of the silicon wafer for semiconductor but has low vibration and low drift.例文帳に追加

半導体用のシリコンウェハの全面が観察できる移動ストロークを持ちながら、低振動かつ低ドリフトの試料ステージを提供する。 - 特許庁

PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF GaAs, GaN-BASED COMPOUND SEMICONDUCTOR AND LAMINATED STRUCTURE ANALYSIS BY USING IT例文帳に追加

ＧａＡｓ、ＧａＮ系化合物半導体の透過電子顕微鏡用試料の作製方法及びそれを用いる積層構造解析法 - 特許庁

In this sample structure, a Schottky electrode 23 is formed on the surface of a semiconductor substrate 22 where a field pattern 21 is formed.例文帳に追加

このサンプル構造では、フィールドパターン２１が形成された半導体基板２２の表面にショットキー電極２３が形成されている。 - 特許庁

To allow indirect observation under the condition where a desired voltage is impressed to a diffusion area of a sample surface part observed actually, without affected by sample structure, when a state of a local depletion layer in the diffusion area of a semiconductor sample is observed by an SCM.例文帳に追加

半導体試料の拡散領域の局所的な空乏層の状態をSCM により観察する際、試料構造の影響を受けることなく、実際に観察している試料表面部の拡散領域に所望の電圧を印加した状態で間接的に観察することを可能にする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample for measuring the impurity distribution of a semiconductor capable of reducing the effect of the damage applied to a semiconductor sample and capable of acquiring the sharper data related to the impurity distribution, and a measuring method of the impurity distribution.例文帳に追加

半導体試料に加えられるダメージの影響の低減が可能で、より鮮明な不純物濃度分布に関する情報を取得することが可能な半導体の不純物分布測定用試料の製造方法および不純物分布測定方法を提供すること。 - 特許庁

The interference measuring instrument 10 is equipped with a semiconductor laser 1 which projects laser light on a sample 20, a beam splitter 2 which is arranged the semiconductor laser 1 and sample 20, and a reference mirror 3 and a detector 4 which are arranged on one side and the other side of the beam splitter 2.例文帳に追加

干渉計測装置１０は、試料２０に対してレーザ光を投光する半導体レーザ１と、半導体レーザ１と試料２０との間に配置されたビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２の一側および他側にそれぞれ配置された参照鏡３および検出器４とを備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester that can stabilize a test by suppressing expansion and contraction of probe needles after contact between the probe needles and a sample and setting an appropriate pressure of contact between the probe needles and the sample.例文帳に追加

プローブ針と試料との接触後におけるプローブ針の伸縮を抑制してプローブ針と試料との接触の圧力を好適に設定し、安定した試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 comprises an A/D converter 121 including a sample-and-hold circuit 1211 and an A/D conversion circuit 1212, a central processing unit 21, a clock generation unit 30, and a sample-and-hold signal generation circuit 123.例文帳に追加

半導体集積回路１は、サンプル・ホールド回路1211とＡ／Ｄ変換回路1212とを含むＡ／Ｄ変換器１２１、中央処理ユニット２１、クロック生成ユニット３０、サンプル・ホールド信号生成回路１２３を具備する。 - 特許庁

The 3D sample form can be constructed from the TEM images, which can not be regarded as projection data, and the 3D form of a crystalline sample, with which diffraction contrast can be easily mixed, such as semiconductor device can be constructed as well.例文帳に追加

投影データとは見なせないTEM像からの３次元試料形状構築が可能となり、半導体デバイス等、回折コントラストが混入し易い結晶性試料の３次元形状構築も可能となる。 - 特許庁

To provide a method for measuring the thermoelectric characteristics of a combinatorial sample, rapidly advancing the evaluation of the sample to be measured and effective for the search of a thermoelectric material, the carrier control of a semiconductor or the like, and an apparatus therefor.例文帳に追加

測定試料の評価を迅速に進めるとともに、熱電材料の探索、半導体のキャリア制御等において有効なコンビナトリアル試料の熱電特性測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope by which the impurity concentration of a semiconductor as a sample 3 is detected without a bad influence due to a stray capacitance.例文帳に追加

試料３である半導体の不純物濃度を、浮遊容量の悪影響なしに、検出する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample grasping end effector capable of transferring a semiconductor wafer reliably with fewest scratches or least defacement by particles on the wafer.例文帳に追加

ウエハの引っ掻き傷や粒子による汚損を最少にして半導体ウエハを確実に移送し得る試料把持用端部エフェクタを提供すること。 - 特許庁

To provide a highly sensitive and high-throughput defect inspection apparatus in defect inspection of a sample in which a pattern is formed such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハなどのパターンが形成された試料の欠陥検査において、高感度かつ高スループットの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To accurately measure the length of a pattern or the like, formed on a surface of a semiconductor sample or the like regardless of suppression or reduction in the volume.例文帳に追加

半導体試料等の表面に形成されたパターン等の体積減少を抑制、或いは減少に関わらず正確な測長を行う。 - 特許庁

To provide a jig for polishing, which enables polishing of a material to be polished, such as a semiconductor sample, with as much a desired amount, with high efficiency and high accuracy.例文帳に追加

半導体試料等の被研磨物を所望量だけ高能率かつ高精度で研磨できるようにする研磨用治具を提供する。 - 特許庁

In the probe 3, with the introduction of laser beam resonant with vibration from a semiconductor laser 9, an evernescent field is produced from a minute opening at its tip end and the proximity field interaction between the sample 14 and the probe 3 excites a minor carrier at the sample 14, then the semiconductor evaluating device 1 detects changes in optical excitation current for the evaluation of the sample 14.例文帳に追加

プローブ３は半導体レーザ９から振動に共振したレーザー光が導入されると、その先端の微小開口からエバネッセント場が発生して、試料４とプローブ３との近接場相互作用により試料１４に少数キャリアを励起させ、半導体評価装置１は、当該光励起電流の変化を検出して、試料１４の評価を行っている。 - 特許庁

To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To achieve high-accuracy alignment of a sample and high-sensitivity inspection for a semiconductor wafer having an alignment mark which is under the condition where the alignment mark is hard to be pattern-matched.例文帳に追加

パターンマッチングし難い条件にあるアライメントマークを持つ半導体ウエハについて、高精度な試料の位置合わせ、高感度な検査を実現する。 - 特許庁

A level equalizing tank 10 takes in waste water as sample water from a semiconductor manufacturing process and it adjusts a storage water level so it is a certain level.例文帳に追加

レベル調整槽１０は半導体製造プロセスからの廃水を試料水として取り込み、貯留水位が一定レベルとなるように調整する。 - 特許庁

To provide a composition analyzing method, capable of analyzing the composition of a sample of a semiconductor element or the like, having an arbitrary shape with high spatial resolving power and high precision.例文帳に追加

任意形状の半導体素子などの試料について、高空間分解能かつ高精度の組成分析を可能にする組成分析方法を提供する。 - 特許庁

The surface mobility of minority carriers in the semiconductor wafer or sample 10 is determined as a function of the applied electrical bias and the value of the measured current.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプル１０中の少数キャリアの表面移動度が、印加された電気バイアスと測定電流値の関数として決定される。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analyzer constituted so as to accurately analyze a transition metal such as iron, copper or the like contained in the hafnium-containing film on a semiconductor substrate being a sample 2 as impurities.例文帳に追加

試料２である半導体基板上のハフニウム含有膜に、不純物として含まれる鉄、銅などの遷移金属を、正確に分析すること。 - 特許庁

The device for supporting a semiconductor substrate device is provided with a sample holder 1, which is attached to a treatment room including a cooling system and electrical connection means.例文帳に追加

半導体基板デバイスを支持するデバイスは、冷却システムおよび電気的接続手段を含んだ処理室に取り付けられたサンプルホルダ１を備える。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor sample where no bending distortion is introduced into a thin-film part by pretreatment, namely selective etching.例文帳に追加

前処理である選択エッチングにより薄膜部１６に曲げ歪みが導入されることのない半導体試料１３の製造方法を提供する。 - 特許庁

To keep high throughput in an SEM-type defect review apparatus for automatically collecting a defective image existent on a sample such as a semiconductor wafer or the like.例文帳に追加

半導体ウェーハ等の試料上に存在する欠陥の画像を自動収集するＳＥＭ式欠陥レビュー装置において、高いスループットを提供する。 - 特許庁

A laser diode 1a for emitting light having energy below a band gap of a semiconductor which is a sample is adopted as a light source of the laser beam 2.例文帳に追加

レーザー光２の光源として、試料たる半導体のバンドギャップ未満のエネルギーを有する光を射出するレーザーダイオード１ａを採用する。 - 特許庁

The conductance of the semiconductor substrate can be affected by the interaction of a sample containing an analyte to be detepted and the active layer.例文帳に追加

上記半導体の層のコンダクタンスは、検出するべき被分析物を含んだサンプルと、上記活性層の相互作用によって影響されることができる。 - 特許庁

An AC voltage is supplied from an AC voltage/current source 30 through an inductance 20 to a semiconductor sample 10 for measuring the electric characteristics.例文帳に追加

交流電圧電流源３０からインダクタンス２０を介して電気的特性を測定するための半導体試料１０に交流電圧を供給する。 - 特許庁

The outside of the electron beam scan area of the sample is irradiated with the luminous flux from a light source by using a semiconductor laser 21 as the light source of the exposure optical system 20.例文帳に追加

露光光学系２０の光源として半導体レーザー２１を用い、光源の光束が試料の電子ビーム走査領域外を照射する。 - 特許庁

To provide a measuring method capable of performing CPM measurement with high accuracy even in a sample having low optical responsivity, such as a wide-bandgap semiconductor.例文帳に追加

ワイドバンドギャップ半導体などの光応答性の低い試料においても、精度の高いＣＰＭ測定が可能となる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing method for testing a signal which is inputted or outputted in reality without requiring a reference sample.例文帳に追加

リファレンスサンプルを必要とすることなく、実際に入出力する信号の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To accurately control the laser power of a semiconductor laser beam source even when a sampling signal of the sample holding is not outputted longer than the specified period.例文帳に追加

サンプルホールドのサンプリング信号が所定期間以上出力されない場合でも、半導体レーザ光源のレーザパワー制御を正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a macro inspection apparatus for a sample such as a semiconductor wafer having a pattern formed therein, the macro inspection apparatus being capable of detecting abnormalities in dimension and size with high sensitivity.例文帳に追加

半導体ウェハなどのパターンが形成された試料のマクロ検査装置において、寸法・形状の異常を高感度で検出可能にする。 - 特許庁

The method capable of irradiating semiconductor wafers with ten times of electron beams in conventional irradiation time by irradiating two or more laminated semiconductor wafers with electron beams from the surface side of the uppermost semiconductor wafer or the rear face of the lowermost semiconductor wafer, and improving a dose distribution characteristic in the depth direction of a sample to be irradiated, is obtained.例文帳に追加

二枚以上の半導体ウェハを重ねて最上段の表側または最下段の裏面から，或る強度以上のエネルギーで電子線照射を行うことによって，照射される試料の深さ方向の線量分布特性を改良し従来の時間で１０倍の照射が可能な工法を創案した。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

To provide a needle-like body efficiently performing the APFIM analysis of a flat sheet-like or thin film-like sample, used in a semiconductor process or the development of a semiconductor device, having high reproducibility and reliability.例文帳に追加

半導体プロセスや半導体デバイス開発などで用いられる平板状・薄膜状の試料のＡＰＦＩＭ分析を高い再現性・信頼性で効率よく可能にするような針状体を提供する。 - 特許庁

To provide a sectional sample preparing method which has a means removing easily and effectively a work damaged layer remained on an observation surface of a sectional sample and can accurately perform various measurement for a section of a semiconductor device.例文帳に追加

断面試料の観察面に残存する加工ダメージ層を簡単かつ効果的に除去する手段を備え、半導体デバイスの断面に関する各種測定を精度よく実施することが可能な断面試料を作製する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparation apparatus that can extract only the sample piece which includes a desired specific region from a semiconductor wafer and a device chip, can transfer and fix the piece, and in particular, is suitable for automation by facilitating probe tip positioning at micromanipulation.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみを摘出、搬送、固定が可能で、特にマイクロマニピュレーションにおけるプローブ先端位置決めを容易にすることで自動化に適した試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device capable of taking out only a sample piece containing a desired specified area from a semiconductor wafer or a device chip, to be conveyed and fixed, in particular, suitable for automation by facilitating the positioning of a probe tip in micro-manipulation.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみを摘出、搬送、固定が可能で、特にマイクロマニピュレーションにおけるプローブ先端位置決めを容易にすることで自動化に適した試料作製装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor treating apparatus comprises upper and lower electrodes 13, 12 in a treating tank 11 and a gas feeder 20 for feeding a process gas in the treatment tank 11, to generate a plasma between the electrodes 12, 13 for treating a semiconductor sample 15.例文帳に追加

半導体処理装置の処理槽内に上部電極及び下部電極を備え、また、処理槽内にプロセスガスを供給するためのガス供給器を備え、上記両電極間にプラズマを発生して半導体試料を処理する。 - 特許庁