「semiconductor sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Consequently, the electric characteristics of the semiconductor sample 10 can be measured without removing the insulation film 11 bonded to the surface of the semiconductor sample 10.例文帳に追加

これにより、半導体試料１０の表面に接着される絶縁膜１１を取り除くことなく、半導体試料１０の電気的特性を測定することが可能となる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CHIP PLANE GRINDING FIXTURE, GRINDING APPARATUS USING THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの平面研磨治具、該治具を用いた研磨装置及び半導体チップの解析用試料作成方法 - 特許庁

AUTOMATIC PROCESSING METHOD AND SYSTEM OF SAMPLE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR CRYSTAL, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加

半導体結晶の検査用サンプルの自動処理方法及び自動処理システム並びに半導体結晶の検査方法 - 特許庁

According to the present invention, the measurement efficiency of fault analysis of a semiconductor sample is improved.例文帳に追加

本発明により、半導体試料の不良解析の測定効率を向上できる。 - 特許庁

A metal electrode 33 is vapor deposited to a semiconductor substrate 27 as a sample to be tested.例文帳に追加

被検試料としての半導体基板２７に金属電極３３を蒸着させる。 - 特許庁

A sound wave synchronized with a reference signal is emitted to a sample 15 of the nitride semiconductor.例文帳に追加

参照信号に同期した音波を窒化物半導体の試料１５に照射する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE OBSERVED UNDER ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作成方法及び半導体装置の解析方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING RADIOACTIVITY IN VOLUME SAMPLE BY GERMANIUM SEMICONDUCTOR DETECTOR例文帳に追加

体積試料中の放射能をゲルマニウム半導体検出器によって測定する方法 - 特許庁

To provide an evaluation method of a semiconductor test sample capable of nondestructively evaluating the surface state of a semiconductor part, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体部分の表面状態を非破壊で評価できる半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When a P-type silicon semiconductor sample contaminated with iron is continuously irradiated with light, Fe-B in the sample is gradually dissociated.例文帳に追加

鉄に汚染されたＰ型シリコン半導体試料に光を連続的に照射すると，試料内のＦｅ−Ｂが次第に解離される。 - 特許庁

To provide a method and device for evaluating an iron concentration of a silicon semiconductor wherein the ion concentration in a semiconductor sample is easily measured at high precision, while preventing introduction of additional contamination into the semiconductor sample.例文帳に追加

半導体試料への新たな汚染の導入を防止しつつ，半導体試料中の鉄濃度を容易且つ高精度で測定することが可能なシリコン半導体の鉄濃度評価方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a resistivity measuring device of a semiconductor sample capable of reliably measuring a resistivity even in the semiconductor sample generating an electromotive force upon receiving light.例文帳に追加

光を受けると起電力が発生する半導体試料においても、信頼性のある抵抗率測定を行うことができる半導体試料の抵抗率測定装置を提供する。 - 特許庁

(a) An evaluation sample combined thermally with the tested semiconductor laser system and a semiconductor laser system for wavelength monitoring is prepared.例文帳に追加

（ａ）被試験半導体レーザ装置と波長モニタ用半導体レーザ装置とが熱的に結合された評価試料を準備する。 - 特許庁

To provide a sample chuck capable of realizing flatness, electric contact, lightweight, low contamination and cost reduction in holding a semiconductor sample.例文帳に追加

半導体サンプルの保持にあたって、平坦性、電気的接触、低重量、低汚染および低コストが実現できるサンプルチャックを提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparing method for analyzing, observing, and measuring a minute region by separating, or separating and preparing a minute sample including a desired specific region from the sample, such as an electronic component of a semiconductor wafer and a device, without inclining a sample stage, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR MEASURING IMPURITY DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR AND MEASURING METHOD OF IMPURITY DISTRIBUTION例文帳に追加

半導体の不純物分布測定用試料の製造方法および不純物分布測定方法 - 特許庁

IMPURITY ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND SAMPLE MANUFACTURING DEVICE USED FOR THIS METHOD例文帳に追加

半導体ウェーハの不純物分析方法およびこの方法に用いられる試料作製装置 - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING METHOD, PREPARATION OF SAMPLE FOR TEMPERATURE MEASUREMENT AND FABRICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

温度測定方法，温度測定用サンプルの作成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD OF REFORMING SURFACE OF SOLID SAMPLE, IMPURITY ACTIVATING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

固体試料の表面改質方法、不純物活性化方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

HYDROGEN ION IMPLANT DOSE MEASURING METHOD OF SILICON SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND SUBSTRATE FOR STANDARD SAMPLE例文帳に追加

シリコン半導体基板の水素イオン注入量測定方法及び標準試料用基板 - 特許庁

SAMPLE EVALUATING DEVICE USING ELECTRON BEAM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE BY USING THIS DEVICE例文帳に追加

電子ビームを用いた試料評価装置及び該装置を用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁

VACUUM PROCESSING UNIT, SEMICONDUCTOR PRODUCTION LINE EMPLOYING IT AND VACUUM PROCESSING METHOD OF SAMPLE例文帳に追加

真空処理装置およびそれを用いた半導体製造ラインおよび試料の真空処理方法 - 特許庁

To provide an electric characteristics measuring instrument of semiconductor in which electric characteristics of a semiconductor sample and the interface between a semiconductor and an insulation film can be measured accurately.例文帳に追加

半導体試料及び半導体と絶縁膜界面の電気特性を正確に測定することができる半導体の電気特性測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis apparatus for a semiconductor manufacturing system capable of detecting an abnormality of the inner wall of a sample cell easily and accurately without requiring the detachment of the sample cell.例文帳に追加

試料セルの取り外しを要せず、簡単且つ正確に試料セル内壁の異常を検出できる半導体製造システム用分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scribing device which can obtain a sample piece suitable for quality inspection from among semiconductor wafers and which can automate the job of collecting sample pieces.例文帳に追加

半導体ウェーハから品質検査に適したサンプル片を得ることができ、サンプル片を採取する際の自動化を図ることが可能なスクライブ装置を提供する。 - 特許庁

Meanwhile, the sample preparation 31 is irradiated with an exciting light from the semiconductor light-emitting element 32, and fluorescence from the sample is detected and a fluorescence image is acquired.例文帳に追加

他方、半導体発光素子３２から励起光を試料プレパラート３１に照射して、試料からの蛍光を検出して、蛍光画像を取得する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor substrate, into which impurities are introduced, is prepared and a sample is cut from the semiconductor substrate by a cleavage method or a mechanical grinding method so as to expose the inspection surface of the sample (step SP11).例文帳に追加

不純物が導入された半導体基板を準備して、へき開法又は機械研磨法によって、検査面が露出されるように半導体基板から試料を切り出す（ステップＳＰ１１）。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CALIBRATING BOARD, SAMPLE HOLDING METHOD, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION METHOD例文帳に追加

試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置，回路パタ—ン検査装置，荷電粒子線応用装置，校正用基板，試料の保持方法，回路パタ—ン検査方法、および、荷電粒子線応用方法 - 特許庁

The semiconductor manufacturing device is provided with a sample holder, to which a semiconductor substrate is to be mounted, a mask which has at least one or more first openings for selectively growing crystal in the semiconductor substrate, a mask holder which pinches the semiconductor substrate and the mask between the sample holder and itself and is combined with the sample holder, and an elastic body provided between the mask and the mask holder.例文帳に追加

半導体基板が搭載される試料ホルダと、半導体基板に選択的に結晶を成長させるための少なくとも１つ以上の第１の開口を有するマスクと、半導体基板およびマスクを試料ホルダとの間に挟み、試料ホルダと組み合わされるマスクホルダと、マスクとマスクホルダとの間に設けられた弾性体とを有する構成である。 - 特許庁

In this fault analyzer, when analyzing a fault position of a semiconductor device by a liquid crystal analysis, a bias voltage or the like applied to the semiconductor device sample 1 is changed by control of a control part 14 to pinpoint the fault position of the semiconductor device sample 1.例文帳に追加

半導体装置の不良箇所を液晶解析によって行う際、制御部１４の制御により、半導体装置試料１に印加するバイアス電圧等を変更して、半導体装置試料１の不良箇所の絞り込みを行う。 - 特許庁

This means a semiconductor memory sample for the FBM verification, in which the defective position is clear, can be created.例文帳に追加

すなわち、不良位置が明確なＦＢＭ検証用半導体メモリサンプルを作成することができる。 - 特許庁

ANALYSIS SAMPLE GATHERING UNIT FOR SEMICONDUCTOR VAPOR GENERATOR AND ANALYSIS PROCESSING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体用水蒸気生成装置の分析試料採取器具及び該器具を用いた分析処理方法 - 特許庁

INSTRUMENT FOR MEASURING ANGLE OF SAMPLE, AND METHOD OF MEASURING THICKNESS OF DIFFUSION LAYER OF SEMICONDUCTOR WAFER USING THE SAME例文帳に追加

試料の角度測定装置およびこれを用いた半導体ウェーハの拡散層の厚さ測定方法 - 特許庁

A semiconductor laser 1 irradiates laser light which is excitation light toward a sample 6 which is an observation object.例文帳に追加

半導体レーザー１は、観測対象である試料６に励起光であるレーザー光を照射する。 - 特許庁

METHOD FOR CREATING SAMPLE FOR SPECIFYING FAULT PART IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND FAULT PART SPECIFYING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の不良箇所特定用試料の作成方法及び不良箇所特定方法 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence analyzer for semiconductor capable of analyzing a semiconductor sample at a low cost without incurring damage to a circuit pattern.例文帳に追加

低コストで、回路パターンに損傷を与えることなく、半導体試料を分析できる半導体用蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MAKING STANDARD SAMPLE FOR INSPECTION, METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING APPARATUS, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

検査用標準試料の製造方法、半導体集積回路の製造装置の検査方法および半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加

液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparation method for sampling only a sample piece including a desired, specific region from a semiconductor wafer and a device chip for mounting on the sample stage of an analyzer/measuring device without going through the sample preparation process of manual work requiring experience, skill, and time, and to provide a sample preparation apparatus.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample manufacturing method for analyzing of a micro region, observing or measuring by separating or preparing for separation of a minute sample containing a desired specific region from a sample of an electronic components or the like such as a semiconductor wafer or a device without inclining a sample stage, as well as a sample manufacturing device thereof.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

MASK FOR VAPOR DEPOSITION, METHOD FOR PRODUCING VAPOR-DEPOSITION PATTERN USING THE SAME, METHOD FOR PRODUCING SAMPLE OF SEMICONDUCTOR WAFER FOR EVALUATION, METHOD FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

蒸着用マスク、ならびにそれを用いる蒸着パターン作製方法、半導体ウェーハ評価用試料の作製方法、半導体ウェーハの評価方法および半導体ウェーハの製造方法 - 特許庁

To provide a socket device capable of dealing with a semiconductor package based on various specifications in the socket device, for the test of the semiconductor package, on which the semiconductor package as a test sample is mounted.例文帳に追加

被検試料とする半導体パッケージを載置する半導体パッケージのテスト用ソケット装置において、種々の仕様に基づいた半導体パッケージに対応可能なソケット装置を提供する。 - 特許庁

To provide a main system that determines a small-number carrier dispersion length with regard to a sample such as semiconductor wafer and a contamination level in the sample based on this, and a subsystem that detects an electrically defective map of the sample.例文帳に追加

半導体ウェハ等の試料に関する少数キャリア拡散長とこれに基づく試料内の汚染レベルを決定する主システム並びに試料の電気的欠陥マップを検出するサブシステムを提供する。 - 特許庁