「stack fault」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The detection unit 10 compares impedances and thresholds in circuits for fault detection comprising a stack via 14, and a wiring 11 connected to the stack via 14, etc.例文帳に追加

検出部１０は、スタックビア１４とスタックビア１４に接続される配線１１などから成る故障検出用の回路におけるインピーダンスと閾値を比較する。 - 特許庁

The invention includes a page fault handler to create page table entries and TLB entries in response to a page fault, to determine if the page fault results from stack access, to create a superpage table entry if the page fault results from stack access, and to create a TLB entry for the superpage.例文帳に追加

ページ不良に応じてページテーブルエントリとＴＬＢエントリとを作成し、ページ不良がスタックアクセスから生じたものであるか否かを判断し、ページ不良がスタックアクセスにより生じたものである場合に、スーパページテーブルエントリを作成し、前記スーパページ用のＴＬＢエントリを作成するページ不良ハンドラを含む。 - 特許庁

To provide a fuel cell system capable of preventing the stay of generated water in a fuel cell stack and preventing a ground fault of the fuel cell stack caused by the generated water.例文帳に追加

燃料電池スタック内での生成水の滞留を防ぎ、生成水による燃料電池スタックの地絡を防ぐことができる燃料電池システムを提供する。 - 特許庁

The system then uses those percentages and the actually measured stack voltages to determine whether a fault condition exists.例文帳に追加

システムは、次いで、それらの比率及び実際に測定されたスタックの電圧を用いて、障害状態が存在するか否かを決定する。 - 特許庁

The stack vias 14 for fault detection are connected in a daisy chain by wirings 11, 12 and 13, with a detection unit 10 as a start point and an end point.例文帳に追加

検出部１０を始点及び終点として、故障検出用のスタックビア１４を配線１１，１２，１３によりデイジーチェーン接続している。 - 特許庁

The actual voltage measurement at the positive terminal (32) is compared to the calculated voltage contribution from each stack at the positive terminal (32) in the no-fault condition.例文帳に追加

正端子（３２）における実際の電圧測定値は、障害のない状態の正端子（３２）における各スタックからの計算された電圧寄与と比較される。 - 特許庁

At the time of restarting the system, the stack data stored in the dummy file are copied to a text film and an electronic mail to which the text file is attached is automatically transmitted to a person in charge of fault analysis.例文帳に追加

システム再起動時には、ダミーファイルのスタックデータがテキストファイルにコピーされ、そのテキストファイルが添付された電子メールが障害解析担当者宛に自動送信される。 - 特許庁

Also, the actual voltage measurement at the negative terminal (34) is compared to the calculated voltage contribution from each stack at the negative terminal (34) in the no-fault condition.例文帳に追加

同様に、負端子（３４）における実際の電圧測定値は、障害のない状態の負端子（３４）における各スタックからの計算された電圧寄与と比較される。 - 特許庁

In the fuel cell system 100 having the fuel cell stack 40 for performing power generation by supplying a cathode gas and an anode gas and an air supply system 7 for supplying the cathode gas to the fuel cell stack 40, the cathode gas supplied from the air supply system 7 can be increased when a ground fault sensor 32 detects the ground fault.例文帳に追加

カソードガスとアノードガスとが供給され、発電を行う燃料電池スタック４０と、カソードガスを燃料電池スタック４０に供給するエア供給システム７とを有する燃料電池システム１００において、地絡センサ３２により地絡が検出された際に、エア供給システム７から供給されるカソードガスの増量を行うことを特徴とする。 - 特許庁

When a system crash occurs, a stack data retrieving/sampling part 121 samples fault information not from all data in a main memory 21 but from stack data to be used for the storage of system state information by an operating system 11 and the sampled data are directly written in a dummy file in a disk device 22 without passing a file system.例文帳に追加

システムクラッシュ発生時には、スタックデータ検索／採取部１２１は、主メモリ２１上の全データではなく、オペレーティングシステム１１がシステム状態情報の保存に使用しているスタックデータに限定して障害情報の採取を行い、その採取データをファイルシステムを介さずにディスク装置２２のダミーファイルに直接書き込む。 - 特許庁

to prevent delays on page faults should reserve enough locked stack pages before entering the time-critical section, so that no page fault can be caused by function calls. 例文帳に追加

を使ってページフォールトによる遅延を防ごうとする場合、関数呼び出しによってページフォールトが発生しないように、時間制限の厳しい部分 (time-critical section) に入る前に十分な量のロックされたスタックを確保しておく必要がある。 - JM

When measurement results of internal temperature and voltage of the fuel cell stack 13 are taken in and a grounding fault is assumed to be generated in a module state at that time point, a resistance value R of the variable resistor 15 is controlled enough to be able to suppress the grounding current.例文帳に追加

燃料電池スタック１３の内部温度及び電圧の計測結果を取り込み、その時点でのモジュールの状態の下で地絡が発生したと仮定したときに、十分に地絡電流を抑制できるように、可変抵抗１５の抵抗値Ｒを制御する。 - 特許庁

A path from a memory means 2091 of the boundary scan test circuit 1063 to a flip-flop 213 in the logic block 210 is verified by using a selection circuit 202 for inputting an output of the flip-flop 213 into the boundary scan test circuit 1063, to thereby enable to test a stack fault of an aiming path only by operation control of boundary scan, and to simplify a test pattern.例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト回路１０６３の記憶手段２０９１から論理ブロック２１０内のフリップフロップ２１３へのパスを、前記フリップフロップ２１３の出力をバウンダリスキャンテスト回路１０６３へ入力する選択回路２０２を用いて検証し、バウンダリスキャンの動作制御のみで目的としているパスの縮退故障をテストすることができ、テストパターンを簡略化できる。 - 特許庁