| 例文 |
stisを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 11件
To provide a semiconductor device and a manufacturing method of the same, permitting inter-element separation, without forming STIs and being capable of integration so as to obtain a high density.例文帳に追加
STIを形成することなく素子間の分離を可能にし、高密度に集積化できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
By embedding an insulation material in the recessed parts 2c and the trenches 14, half-embedded insulation films 5 and STIs 7 are formed, and the hard mask material film is removed.例文帳に追加
そして、凹部2c内及びトレンチ14内に絶縁材料を埋め込むことにより半埋込絶縁膜5及びSTI7を形成し、ハードマスク材料膜を除去する。 - 特許庁
A plurality of STIs (shallow trench isolations) 17 are formed on a silicon substrate 11 of a nonvolatile semiconductor memory device 1, and an upper layer of the silicon substrate 11 is divided into a plurality of active areas AA.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置1において、シリコン基板11に複数本のSTI17を形成して、シリコン基板11の上層部分を複数本のアクティブエリアAAに区画する。 - 特許庁
When the high breakdown voltage MOS transistor and a fine low breakdown voltage MOS transistor are mixedly mounted on a same semiconductor substrate, two STIs (shallow trench isolations) are used, an active region, where high concentration impurities are doped in the channel region of a parasitic MOS transistor, is provided between the STIs and current flowing between the source and drain of the parasitic MOS transistor is interrupted.例文帳に追加
同一半導体基板上への高耐圧MOSトランジスタと微細な低耐圧MOSトランジスタの混載において、2つのSTI(Shallow trench isolation)を用い、その間に寄生MOSトランジスタのチャネル領域に高濃度不純物ドープされた活性領域を設け、寄生MOSトランジスタのソース、ドレイン間の電流を遮断した。 - 特許庁
To provide a solid-state imaging apparatus in which STIs are used for element isolation regions, wherein dark current and occurrence of a white blemish are reduced and achieves storage charge amount increase.例文帳に追加
素子分離領域としてSTIを用いた固体撮像装置であって、暗電流及び白キズの発生を低減すると共に、蓄積電荷数の増加を実現する固体撮像装置提供する。 - 特許庁
In the nonvolatile semiconductor memory 1, STIs are formed to the upper layer of a silicon substrate, and the upper layer of the silicon substrate is partitioned into a plurality of active areas AA that extend in the Y direction.例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置1において、シリコン基板の上層部分にSTIを形成し、シリコン基板の上層部分をY方向に延びる複数本のアクティブエリアAAに区画する。 - 特許庁
Then, a block insulating film 19 is formed to be disposed on direct upper sections of both the semiconductor parts 13 and the STIs 12 and a control gate electrode WL and a selection gate electrode SG are formed on it.例文帳に追加
次に、半導体部分13の直上域及びSTI12の直上域の双方に配置されるように、ブロック絶縁膜19を形成し、その上に制御ゲート電極WL及び選択ゲート電極SGを形成する。 - 特許庁
A control circuit 2 allows a time count circuit 7 to start counting a prescribed delay time ST from a point of time when the control circuit 2 receives a zero cross point detection signal from a zero cross point detection circuit 6 and the control circuit 2 superimposes transmission data outputted from a signal source 1 on illumination light when counting the delay btime STis complete by the time count circuit 7.例文帳に追加
制御回路2では、ゼロクロス点検出回路6からゼロクロス点検出信号が入力された時点より計時回路7に所定の遅延時間STの計時を開始させ、計時回路7による遅延時間STの計時が完了したときに信号源1が出力する送信データを照明光に重畳する。 - 特許庁
Then, electrodes 8a and 8b are formed to run on the half-embedded insulation films 5 and the STIs 7, respectively, and an n-type region 3 constituting a photodiode is formed in a region contacting the p-type region 4 in the semiconductor substrate 2 by injecting impurities into the image pickup region A by using the electrode 8a and the half-embedded insulation film 5 as a mask.例文帳に追加
次に、半埋込絶縁膜5及びSTI7にそれぞれ乗り上げるように電極8a及び8bを形成し、電極8a及び半埋込絶縁膜5をマスクとして撮像領域Aに不純物を注入することにより、半導体基板2におけるp型領域4に接する領域に、フォトダイオードを構成するn型領域3を形成する。 - 特許庁
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