| 例文 (10件) |
temperature dependence measurementの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 10件
To provide such an adjustment method of the flow rate measurement circuit of a flowmeter that reduces the temperature dependence of flow rate measurement value even if the element characteristic of a flow rate measurement circuit depends on temperature.例文帳に追加
流量測定回路の素子特性に温度依存があっても流量測定値に温度依存が少なくなるような流量計の流量測定回路調整方法を提供する。 - 特許庁
To reduce temperature dependence of a current measured value and also to suppress the effect of a noise component contained in the light used for measurement.例文帳に追加
電流測定値の温度依存性を低減させるとともに、測定に用いる光に含まれる雑音成分の影響を抑制する。 - 特許庁
To provide fiber-optic current sensor which measures current by utilizing Faraday effect and the current measurement method for reducing temperature dependence of the current measurement value.例文帳に追加
ファラデー効果を利用して電流を測定する光ファイバ電流センサおよび電流測定方法において、電流測定値の温度依存性を低減させる。 - 特許庁
To provide a high-performance, high-reliability and long-life optical voltage sensor whose temperature dependence is reduced to a minimum, which suppresses measurement errors due to temperature change in the circumference, and whose damage by a gas can be prevented.例文帳に追加
温度依存性を最小にし、周囲の温度変化による測定誤差を抑えると共に、ガスによるダメージを回避できる、高性能・高信頼性・長寿命の光電圧センサを提供する。 - 特許庁
The device for compensating temperature dependence comprises a lighting unit 1, an incident slit 2, an imaging grid 3, a detector 4, a control/evaluation unit 5, a first temperature feeler 6, a temperature control unit 7, a second temperature feeler 8 for ambient temperature measurement.例文帳に追加
照明ユニット１、入射スリット２、結像格子３、検出器４および制御・評価ユニット５から成り、第１温度フィーラ６および調温ユニット７に加え周辺温度測定用の第２温度フィーラ８も装備されている。 - 特許庁
To provide a system and method for testing electrification, capable of evaluating the temperature dependence of electrification characteristic and capable of performing the measurement of exposure and potential.例文帳に追加
帯電特性の温度依存性を評価することができ、また、露光と電位測定とを同時に行うことができる帯電試験システムおよび帯電試験方法を提供する。 - 特許庁
To enhance and stabilize measurement accuracy by eliminating components changing due to temperature dependence of a detection value of a base grounded type detection circuit of a capacity-change displacement gauge.例文帳に追加
容量変化型変位計のベース接地型検波回路の検出値の温度依存により変化する成分を除去して計測精度を向上し安定させる。 - 特許庁
To provide a laser diode drive circuit capable of generating a high-speed optical pulse train of a uniform optical output level and to provide an optical time-domain reflection measurement instrument capable of highly precise measurement by suppressing variations in an optical output level by laser diode temperature dependence.例文帳に追加
一様な光出力レベルの高速光パルス列を生成し得るレーザダイオード駆動回路、並びに、レーザダイオードの温度依存性による光出力レベルのバラツキを抑制して高精度測定を可能とした光時間領域反射測定器を提供する。 - 特許庁
Then, the light- emitting type calibrating apparatus 3 is removed, and a light-emitting portion is attached to the upper portion of the substrate heat-treatment apparatus 1 to perform heat treatment of a substrate with similar characteristics to the reference substrate SW, together with its temperature measurement based on the obtained temperature dependence of its effective reflectance.例文帳に追加
発光式校正装置３を除去し、基板熱処理装置１の上部に発光部を取り付けて、基準基板ＳＷと同様の特性を有する基板の加熱処理を、得られた実効反射率の温度依存性を基に温度計測とともに行う。 - 特許庁
To provide a method for calculating impurity metal concentration by conducting correction considering relationship of dependence, if it exists, among minority carrier diffusing length to be measured, passage time up to measurement from activation, resistivity and temperature in the measurement of concentration of impurity metal included in a silicon wafer using electromotive force at the surface of light.例文帳に追加
光表面起電力を用いたシリコンウエハに含まれる不純物金属濃度の測定において、測定される少数キャリア拡散長とアクティベーションから測定までの経過時間、抵抗率及び温度との間に依存関係がある場合に、それらを考慮した補正を行うことによって、不純物金属濃度を算出する方法を提供する。 - 特許庁
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