「x-ray diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE HOLDER FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT AND SAMPLE FIXING METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折測定用試料ホルダーおよび試料固定方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR HIGHLY ACCURATE X-RAY DIFFRACTION USING LOW-PHOTON-DENSITY X-RAYS例文帳に追加

低フォトン密度Ｘ線を使用する高精度Ｘ線回折方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND IMPLEMENT FOR FIXING SAMPLE IN X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法および試料固定具 - 特許庁

INTENSITY CALCULATION METHOD OF DIFFRACTION SPOT IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS例文帳に追加

Ｘ線構造解析における回折斑点の強度算出方法 - 特許庁

STRESS EVALUATION METHOD AND STRESS EVALUATION DEVICE BY X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折による応力評価方法及び応力評価装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR OBSERVING CRYSTAL BY USING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの制御方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR METAL SURFACE OXIDE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

金属材表面酸化物の測定方法およびＸ線回折装置 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加

Ｘ線源として放射光源ではなくＸ線管を用い、波長変調回折法を実施できるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

SIMPLE METHOD FOR DETERMINING ZIRCONIA CRYSTAL PHASE RATIO BY X-RAY DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加

Ｘ線回折パターンによるジルコニア結晶相割合の簡易定量法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF GONIOMETER, GONIOMETER, FOUR-AXIS GONIOMETER AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ゴニオメータの制御方法、ゴニオメータ、４軸ゴニオメータ、およびＸ線回折装置 - 特許庁

STRUCTURE FACTOR TENSOR ELEMENT DETERMINATION METHOD, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE UTILIZATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

構造因子テンソル要素決定法及びそのためのＸ線回折装置利用法 - 特許庁

To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。 - 特許庁

DETERIORATION DIAGNOSING METHOD OF NI-BASED HARD METAL BY X-RAY DIFFRACTION METHOD AND FUTURE LIFETIME EVALUATION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法によるＮｉ基超合金の劣化診断法および余寿命評価法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MEASURING DATA OF CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの測定データ取得方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加

入射部での散乱Ｘ線の影響を極力排して試料で生じた回折Ｘ線を検出できる透過型のＸ線回折装置とＸ線回折方法とを提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ALLOY PHASE ADHESION IN PLATED LAYER USING X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - 特許庁

FRESNEL ZONE PLATE, AND INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

フレネルゾーンプレートおよびＸ線回折測定装置ならびにＸ線回折測定方法 - 特許庁

The X-ray diffraction measurement of the measuring objective sample is performed with a transmission method.例文帳に追加

この測定対象試料に対して透過法によるＸ線回折測定を行う。 - 特許庁

POWDER X-RAY DIFFRACTION DATA MEASURING METHOD USING ONE-DIMENSIONAL OR TWO-DIMENSIONAL DETECTOR例文帳に追加

１次元または２次元検出器を用いた粉末Ｘ線回折データ測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE EQUIPPED WITH TWO-DIMENSIONAL DETECTOR, AND DELETION METHOD OF ITS BLANK INTENSITY例文帳に追加

２次元検出器を備えたＸ線回折装置とそのブランク強度の削除方法 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction measuring instrument equipped with a Debye-Scherrer optical system eliminating the shading due to a conventional analyzer and excellent in resolving power, and a X-ray diffraction measuring method therefor.例文帳に追加

従来のナライザによるけられ（遮蔽）を解消し、分解能に優れたデバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのための方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR OBLIQUELY INCIDENT X-RAY DIFFRACTION AND APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING OBLIQUELY INCIDENT X-RAY DIFFRACTION USING THE SAME例文帳に追加

斜入射Ｘ線回折用試料ホルダ及びこれを用いた斜入射Ｘ線回折測定装置、並びに、これを用いた斜入射Ｘ線回折測定方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY GENERATING APPARATUS AND ITS GENERATING METHOD, AS WELL AS POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETER USING HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY例文帳に追加

高次高調波エックス線発生装置及びその発生方法、並びに高次高調波エックス線を利用したエックス線干渉計測装置 - 特許庁

To provide a method and device for X-ray transmission diffraction analysis remarkably improved in particle statistics.例文帳に追加

粒子統計が著しく改善されたＸ線透過回折分析方法および装置の提供。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and/or an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び／又は振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the evaluation method for evaluating a silicon wafer that has been subjected to heat treatment, the X-ray diffraction intensity of the silicon wafer is measured by an X-ray diffraction method, thus evaluating the IG capability of the silicon wafer.例文帳に追加

熱処理後のシリコンウェーハの評価方法であって、Ｘ線回折法によりシリコンウェーハのＸ線回折強度を測定することによって当該シリコンウェーハのＩＧ能力を評価するようにした。 - 特許庁

To provide an X-ray photographing apparatus and X-ray photographing method capable of photographing an image with high accuracy regardless of misalignment of diffraction grating.例文帳に追加

回折格子のずれに拘わらず、高精度の撮影画像を得ることが可能なＸ線撮影装置およびＸ線撮影方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus where an x-ray diffraction and a computed tomography are combined, and to provide a method.例文帳に追加

Ｘ線回折（ＸＲＤ）及びコンピュータトモグラフィ（ＣＴ）を組み合わせた装置及び方法に関する。 - 特許庁

The X-ray diffraction measurement method for a water-containing crystal includes a process of encapsulating a crystal in a water-soluble polymer.例文帳に追加

結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のＸ線回折測定方法。 - 特許庁

A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

To calibrate the intensity of X-rays with high accuracy for a short time in quantitative analysis by an X-ray diffraction method using a monochromator.例文帳に追加

モノクロメータを用いたＸ線回折法での定量分析において、短時間で高精度なＸ線強度の較正を実現する。 - 特許庁

The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加

絶縁層のＸ線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、０．６以上とする。 - 特許庁

It is desirable that the crystallite diameter of the magnetite as measured by an X-ray diffraction method is 60-90 nm.例文帳に追加

Ｘ線回折法で測定されたマグネタイトの結晶子径が６０〜９０ｎｍであることが好適である。 - 特許庁

Further, the inspection method of the crystal axis in the screening step is one utilizing an X-ray diffraction phenomenon.例文帳に追加

更に、選別工程における結晶軸の検査方法は、Ｘ線の回折現象を利用した方法とする。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction quantifying device capable of performing extremely accurate calibration, by obtaining accurate diffraction, ray strength information from a base plate in a quantitation method by a base reference absorption diffraction method.例文帳に追加

基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

Specifically, an optimum ageing condition is determined while a change of Ta-N coupling is observed by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、Ｘ線回折法によりＴａーＮ結合の変化を観察しながら、最適なエージング条件を決める。 - 特許庁

To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁