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イオン温度測定の英語
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イオン温度測定
「イオン温度測定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
ダブルプローブによるイオン温度並びに流速の測定方法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR ION TEMPERATURE AND FLOW VELOCITY BY DOUBLE PROBE - 特許庁
温度測定用部材14にイオンビーム20を照射した状態で該温度測定用部材14の温度を測定するステップと、上記温度からイオンビーム20の加速エネルギを推定するステップとを有するイオンビーム計測方法による例文帳に追加
The ion beam measuring method is provided with a step of measuring temperature of a temperature-measuring member 14 with ion beams 20 kept irradiated on the same 14, and a step of estimating accelerated energy of the ion beams 20 from the above temperature. - 特許庁
リチウムイオン電池3の温度を測定する温度測定部7により、二次電池の温度を測定し、温度に応じて、制御部6が充電制御部4及び放電制御部8を介して充放電制御を行なうことで、二次電池の充電容量の調節を行なう。例文帳に追加
In this device, the temperature of the secondary battery is measured by a temperature measuring part 7 for measuring the temperature of a lithium ion battery 3, and a control part 6 controls charge and discharge through a charge control part 4 and a discharge control part 8, thereby, the adjustment of the charge capacity of the secondary battery is made. - 特許庁
リチウムイオン電池監視半導体装置の温度監視機能において、「温度に依存しない基準電圧」と「温度に依存する素子の電位」を外部から直接測定することができる機能を設けて、任意の温度における温度検出機能の代替測定を可能とする技術を提供する。例文帳に追加
To provide a technology that can substitutionally measure an arbitrary temperature by arranging a function that can directly measure "a reference voltage that does not depend on a temperature" and " the potential of an element that depends on a temperature", in a temperature monitoring function of a semiconductor device for monitoring a lithium-ion battery. - 特許庁
第1イオン注入層を形成する工程および第2イオン注入層を形成する工程におけるウェーハ温度の測定を前記装置の赤外線放射温度計で行う。例文帳に追加
Measurement of the wafer temperatures in the processes of forming the first ion implanting layer as well as the second ion implanting layer is carried out with the infrared thermometer of the above device. - 特許庁
イオン濃度測定において測定対象の温度などを選ぶことなく、その寿命を長くすることができる内部液無補充型の比較電極およびイオン濃度計を提供すること。例文帳に追加
To provide an internal liquid non-filling type comparing electrode capable of being extended in its life without selecting the temperature or the like of a measuring object in the measurement of the concentration of ions, and an ion densitometer. - 特許庁
イオンプレーティング法など、基板ホルダを電極とする真空成膜時においても基板の温度を高精度に測定することができる真空成膜装置での基板温度測定方法、及び該方法に用いることができる真空成膜装置の提供。例文帳に追加
To measure the temperature of a substrate with a high precision even on vacuum film deposition using a substrate holder as an electrode by an ion plating method, or the like. - 特許庁
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「イオン温度測定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
再充電後、リチウムイオン電池を45°Cの環境温度下で所定時間放置し電圧を測定して電圧低下を求めた。例文帳に追加
After the re-charge, the lithium ion battery is left for a predetermined time in an ambient temperature of 45°C, and the voltage is measured to obtain a voltage drop. - 特許庁
イオントラップ型の質量分析計において、広い温度領域において、長時間正確なMS/MS測定を行なう。例文帳に追加
To provide an ion trap type spectrometer which can take MS/MS measurement accurately or a long time and over a wide temperature range. - 特許庁
電解質は、25℃の温度で測定したときに、約0.5〜約80ミリシーメンス/センチメートルのイオン伝導率を有し、pHが約5.0〜約8.0である。例文帳に追加
The electrolyte has an ionic conductivity of approximately 0.5 to 80 mS/cm and approximately 5.0-8.0 pH, when measured at a temperature of 25°C. - 特許庁
集束イオンビームを用いる微細部位解析装置において、イオン種がGaのGa集束イオンビーム3の前照射によって試料4の表面に注入されたGaを、試料4の表面温度の測定のための参照元素とし、分析時の試料4の表面の微細部位の温度を決定する。例文帳に追加
In the minute part analyzer using the focused ion beam, Ga whose ion kind is Ga is poured on a surface of a sample 4 by pre-radiating Ga focused ion beam 3 to make it a reference element for measuring a surface temperature of the sample 4, and the temperature of the minute part on the surface of the sample 4 during analysis is determined. - 特許庁
予め適当な試料4の表面温度毎にGa集束イオンビーム3を一定量試料4に前照射することにより試料4から放出された2次Gaイオンの収量を測定して、試料4の表面温度に対する2次Gaイオンの収量の関係を得る。例文帳に追加
Yield of a secondary Ga ion emitted from the sample 4 is measured by pre-radiating the fixed amount of Ga focused ion beam 3 to the sample 4 at every appropriate surface temperature of the sample 4 in advance to obtain a relation of the yield of the secondary Ga ion with the surface temperature of the sample 4. - 特許庁
前もって、イオン化部のフイラメント2のONまたはOFFの両状態でヒータ3を逐次加熱して、その時の温度センサ4の検出値に対するイオン化室1の内部温度を測定して、この関係を温度較正表として制御器CPUへ記憶させておく。例文帳に追加
A heater 3 is gradually heated in advance with the filament 2 of the ionizing part turned on or off, an internal temperature in the ionizing chamber 1 to the detected value of a temperature sensor 4 at that time is measured, and the relation is memorized in a controller CPU as a temperature calibration table. - 特許庁
温度調整器16は熱電対14を介して熱伝導性材料10の温度を測定しながら、熱伝導性材料10の温度がイオン生成機構内の温度とほぼ同じになるように発熱機構12を制御するようになっている。例文帳に追加
The temperature controller 16 controls the heating mechanism 12 so that the temperature of the heat conductive material 10 becomes almost the same to that in the ion forming mechanism while measuring the temperature of the heat conductive material 10 through a thermocouple 14. - 特許庁
また、第1水素イオン伝導性高分子は、示差走査熱量計で測定する場合に、第2水素イオン伝導性高分子より高い温度範囲で吸熱ピークを示す。例文帳に追加
The first hydrogen ion conductive polymer indicates an endothermic peak at a higher temperature range than that of the second hydrogen ion conductive polymer, when measurement is made with a differential scanning calorimeter. - 特許庁
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