実加圧試験の英語

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。例文帳に追加

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit. - 特許庁

被試験物に加圧されるトルク値を精度よく簡易に管理することができ、試験中の任意ステップにて生じ得る目標ねじりトルク値と実測値との偏差を次のステップにて容易に解消することのできるねじり試験装置およびねじり試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a twist-testing machine, capable of precisely and simply controlling the torque value applied to a test target and capable of easily eliminating deviation between a target twist torque value, capable of being produced in an arbitrary step during a test and an actual measured value in a next step, and to provide a twist-testing method. - 特許庁

過電圧印加試験をより簡単に実施することができるワンチップマイクロコンピュータを提供する。例文帳に追加

To provide a one-chip microcomputer capable of executing simply an overvoltage impression test. - 特許庁

原子力発電プラントの建設途上で、その原子炉発電プラントに採用されたABWRの原子炉圧力容器１内を制御棒駆動系駆動水ポンプで加圧し耐圧試験範囲に対して最高使用圧力を超える試験圧力を加えて一度に耐圧試験を実施する。例文帳に追加

In the construction process of a reactor power plant, a reactor pressure vessel 1 inside of a ABWR employed for the reactor power plant is pressure-tested by adding pressure with a control rod drive system driving water pump and adding test pressure exceeding maximum working pressure to the pressure test region at once. - 特許庁

そして、ＩＣメモリ２６に記憶させる圧力センサ個体差情報を、試験時に圧力センサ２０ａに実際に加えた試験圧力の変化量ΔＰ１と、その試験圧力の変化に伴い生じる検出信号の変化量ΔＶ１との関連を表した情報とする。例文帳に追加

The pressure sensor individual difference information stored in the IC memory 26 is set as information of expressing the relationship between a variation ΔP1 of test pressure actually applied to the pressure sensor 20a in the examination and a variation ΔV1 in the detection signal caused in response to a change in its test pressure. - 特許庁

接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。例文帳に追加

To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization. - 特許庁

液晶駆動回路の高階調化ならびに出力端子数の増加に対しても、さらなる階調電圧試験時間の短縮を実現し、試験の高速化、さらには低コスト化を実現することができる液晶駆動回路を有する半導体装置およびその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device having a liquid crystal driving circuit which further shortens the gradation voltage test time regardless of the increase of gradations of the liquid crystal driving circuit and the number of output terminals, increases the test speed, and reduces the cost, and a test method therefor. - 特許庁

切替部１５７はＤＣパラメトリック試験実行部１４８から信号ピンに印加される試験信号を電圧源１５２及び純抵抗１５３、電圧源１５４及び純抵抗１５５、入力純抵抗１５６のいずれかに印加する。例文帳に追加

A switching part 157 applies a test signal applied to the signal pin from a DC parametric test executing part 148 to any of the source 152, the resistance 153, the source 154 and the resistances 155 and 156. - 特許庁