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cktとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 《略語》circuit(回路)


機械工学英和和英辞典での「ckt」の意味

ckt (circuit)


C/kT (carrier-to-receiver-noise density)


「ckt」を含む例文一覧

該当件数 : 11



例文

An optical irradiation attack detector comprises a photodiode PD1, a capacitor C1, a voltage preset circuit Pre_Ckt and a voltage detector Det_Ckt for optical irradiation attack detection.例文帳に追加

光照射アタック検出器は、光照射アタック検出のためのフォトダイオードPD1、キャパシタC1、電圧プリセット回路Pre_Ckt、電圧検出器Det_Cktにより構成される。 - 特許庁

Positions of clock terminals CKT formed in the latches 21-2N in which clock signals are inputted are formed also in line in the longitudinal direction.例文帳に追加

ラッチ2_1〜2_N に設けられたクロック信号が入力されるクロック端子CKTの位置も縦方向に一直線にそろえられて形成されている。 - 特許庁

A reception side circuit 20 counts the transfer clock CKT by a counter 22, and separates the transfer data TXD based on the count value.例文帳に追加

受信側回路20では、カウンタ22で転送クロックCKTをカウントし、そのカウント値に基づいて転送データTXDを分離する。 - 特許庁

An A-D conversion circuit 3 comprises an OR circuit 35 which supplies either an output (cyclic clock) of a delay unit DU on a final stage constituting a ring delay circuit 30 or a test clock CKT supplied from the outside to a counter 36 as an operating clock, and is configured to operate the counter 36 according to the test clock CKT without depending upon the ring delay circuit 30.例文帳に追加

A/D変換回路3は、リング遅延回路30を構成する最終段の遅延ユニットDUの出力(周回クロック)、又は外部から供給されるテストクロックCKTのいずれかを、動作クロックとしてカウンタ36に供給する論理和回路35を備え、カウンタ36を、テストクロックCKTによってリング遅延回路30に依存することなく動作できるように構成される。 - 特許庁

The inspecting section 30A contains a combination circuit 32 having a plurality of logic circuits connected in series, a D flip-flop 31 for latching input inspection data Dtin with an inspection clock signal Ckt, and a D flip-flop 33 for latching an output signal 32a from the combination circuit 32 with the inspection clock signal Ckt to generate an output inspection data Dtout.例文帳に追加

検査部30Aは、複数の論理回路を直列に接続した組み合わせ回路32と、入力検査データDtinを検査クロック信号CKtによってラッチするDフリップフロップ31と、組み合わせ回路32の出力信号32aを検査クロック信号CKtでラッチして出力検査データDtoutを生成するDフリップフロップ33とを備える。 - 特許庁

When data is read out from the memory array, data is read out from both sides of the memory array through the input/output control circuit CKT and the switch SWR.例文帳に追加

メモリアレイからデータを読み出す際には、入出力制御回路CKT、スイッチSWRを介してメモリアレイの両側から読み出される。 - 特許庁

例文

A transmission side circuit 10 counts the transfer clock CKT by a counter 18, and performs the time-division multiplexing of the transmission data Si based on the count value for outputting transfer data TXD.例文帳に追加

送信側回路10では、カウンタ18で転送クロックCKTをカウントし、カウント値に基づいて送信データSiを時分割多重化して転送データTXDを出力する。 - 特許庁

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Weblio英語表現辞典での「ckt」の意味

ckt


Wiktionary英語版での「ckt」の意味

ckt

出典:『Wiktionary』 (2016/10/16 22:37 UTC 版)

名詞

ckt

  1. Abbreviation of cocktail.
    ckt table

「ckt」を含む例文一覧

該当件数 : 11



例文

When a change in transmission data Si is detected by an EOR15_i and an OR16, a detection signal DET is outputted for the period of the frequency dividing clock CKD, and the system clock CLK is outputted as a transfer clock CKT.例文帳に追加

EOR15_iとOR16で送信データSiの変化を検出したときに、その分周クロックCKDの期間だけ検出信号DETを出力し、システムクロックCLKを転送クロックCKTとして出力する。 - 特許庁

The semiconductor IC chip is provided with built-in analog circuits DA_St, OP_St, a bias circuit Bias_Ckt, a chip temperature detecting unit 1, a control unit 2 and a chip temperature changing unit 3.例文帳に追加

半導体チップIC chipにアナログ回路DA_St、OP_St、バイアス回路Bias_Ckt、チップ温度検出ユニット1、制御ユニット2、チップ温度変更ユニット3を内蔵する。 - 特許庁

According to this operation, the fluctuation of bias current Iref which flows through the bias circuit Bias_Ckt and the fluctuation of DC bias current which flows through the analog circuits DA_St, OP_St due to the fluctuation of the chip temperature are compensated.例文帳に追加

それにより、チップ温度の変動によるバイアス回路Bias_Cktに流れるバイアス電流Irefおよびアナログ回路DA_St、OP_Stの直流バイアス電流の変動が補償される。 - 特許庁

例文

When testing the A-D conversion circuit 3, an input pulse Pin is inputted to a delay unit DU(1) on a first stage and operated in a test mode during which a sampling term TS is shorter than a real mode (actual use), so that the ring delay circuit 30 is tested and separately, the test clock CKT is inputted and operated to test the counter 36.例文帳に追加

このA/D変換回路3の試験を行う時には、初段の遅延ユニットDU(1)に入力パルスPinを入力し、サンプリング周期TSが実モード(実使用)時より短いテストモードで動作させることで、リング遅延回路30の試験を行い、これとは別に、テストクロックCKTを入力して動作させることで、カウンタ36の試験を行う。 - 特許庁

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