けんとく２ちょうめの英語

狭帯域化エキシマレーザ(20)の中心波長を検出する波長検出器(2) の内部又はその近傍の環境特性として、少なくとも温度Ｔ又は圧力Ｐのいずれか一方を検出し、その環境特性の変化量が予め定められた所定の値を越えたことを検知したときに、中心波長を補正するための補正パラメータを獲得することによって波長検出器(2) を較正する。例文帳に追加

A wavelength detector 2 is calibrated by acquiring a correction parameter for correcting a center wavelength, when at least either temperature or pressure is detected as environmental characteristics inside or near the wavelength detector 2 for detecting the central wavelength of a narrow-band excimer laser 20 and the excess of a predetermined, a specific value by the amount of change in the environmental characteristics is detected. - 特許庁

（２）研磨層とクッション層を積層した後に、研磨層表面を研削することを特徴とする研磨パッドの製造方法。例文帳に追加

(2) A manufacturing method for a polishing pad in which the surface of the polishing layer is ground after a polishing layer and a cushion layer are piled up. - 特許庁

さらに、前記環境特性の変化量が所定の値を越えない場合にも、予め定められた所定時間毎に波長検出器(2) を較正する。例文帳に追加

Furthermore, even if the amount of change in the environmental characteristics does not exceeds a specified value, the wavelength detector 2 is calibrated at each predetermined specified time. - 特許庁

補正前の請求項1に係る発明は「特定成分Ｘ」という特別な技術的特徴を有しているが、補正前の請求項2 に係る発明は当該特別な技術的特徴を有していないため、補正前の請求項1、2 に係る発明は発明の単一性の要件を満たさない。例文帳に追加

Although the invention claimed in claim 1 before the amendment has a special technical feature, that is, "specific component X," the inventions claimed in claims 1 and 2 before the amendment do not meet the requirements of unity of invention since the invention claimed in claim 2 before the amendment does not have said special technical feature.発音を聞く  - 特許庁

また、プリフィルターブロック２に設けられる特徴検出回路４からの特徴パラメータがビットレート設定部５に供給される。例文帳に追加

The feature parameter from a feature detection circuit 4 provided to the pre-filter block 2 is supplied to a bit rate setting part 5. - 特許庁

したがって、請求項1及び2に係る発明は、対応する特別な技術的特徴を有しており、単一性の要件を満たす。例文帳に追加

Accordingly the inventions in claims 1 and 2 have a special technical feature, and they comply with the requirement of unity of invention.発音を聞く  - 特許庁

本発明のディスプレイ用ガラス基板は、未研磨で、表面突起が２ヶ／ｍ^２以下であることを特徴とする。例文帳に追加

In the glass substrate for a display, a surface projection is ≤2 pieces/m^2 in an unpolishing state. - 特許庁

鋼鋳片の試料の断面を研磨し、試料１の研磨面２以外の面を電気絶縁処理して電気絶縁処理面３とし、研磨面２を腐食することを特徴とする鋼の凝固組織検出方法である。例文帳に追加

In the method of detecting the solidification structure of steel, a cross-section of a sample of a steel casting piece is polished, a surface other than a polished surface 2 of a sample 1 is electrically insulated to be an electrically insulated surface 3, and the polished surface 2 is corroded. - 特許庁