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英訳・英語 test sequence
「テスト系列」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 30件
集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト例文帳に追加
GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST - 特許庁
圧縮テストプランに各回路要素のテストパターンを代入することで、テスト系列を生成する。例文帳に追加
A test series is generated by substituting the test pattern of each circuit element into the compression test plan. - 特許庁
実動作速度機能テストにおけるテスト品質の高いテスト系列をコンパクトに生成する。例文帳に追加
To compactly generate a test series of high test quality for an actual working speed function test. - 特許庁
最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。例文帳に追加
Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8). - 特許庁
学習用時系列データから作成した多層ネットワークモデルと、テスト時系列データから作成した多層ネットワークモデルとの類似度を計算して、テスト時系列データが１以上のカテゴリに属するか否かを判定する。例文帳に追加
Similarity is computed between a multilayer network model created from learning time series data and a multilayer network model created from test time series data to determine whether the test time series data belong to one or more categories. - 特許庁
状態遷移にマッピングされた有効テストパターンが生成されたテスト系列にすべて被覆されるまで（ｓｔｅｐ５）、所定の基準に従ってテストパターンを被覆する所定長の状態遷移系列を決定してテスト系列に追加し（ｓｔｅｐ７）Ｘ抽出する操作（ｓｔｅｐ）を繰り返す。例文帳に追加
Until entirely covered with a test pattern with effective test patterns mapped to the state transition (step 5), the operation of determining a state transition series having a predetermined length for covering the test patterns according to a predetermined standard, and of adding them to the test series (step 7) and performing X-extraction (step) is repeated. - 特許庁
テスト用時系列データと、参照用正常時系列データの各々について、先ず相関係数行列を作成する。例文帳に追加
First of all, each correlation coefficient matrix is generated, relative to each of time-series data for a test and normal time-series data for reference. - 特許庁
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「テスト系列」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 30件
時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。例文帳に追加
To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data. - 特許庁
強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。例文帳に追加
To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method. - 特許庁
ＲＴＬ回路のコントローラのテスト容易化にあたり、テスト系列長および付加回路の面積を削減する。例文帳に追加
To reduce a test series length and an area of an additional circuit when facilitating a test of a controller for a PTL circuit. - 特許庁
テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。例文帳に追加
A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5). - 特許庁
精度行列が得られると、テスト用時系列データと参照用正常時系列データの各々について、好適には多変量ガウスモデルによって近傍性の確率分布が記述できる。例文帳に追加
When the accuracy matrix is acquired, a neighborhood probability distribution can be described preferably by a multivariate Gauss model, relative to each of the time-series data for the test and the normal time-series data for reference. - 特許庁
テストデータ入力時系列圧縮回路１−３は、フラグレジスタ、データレジスタ、及び演算器を有する。例文帳に追加
Test data input time series compression circuit 1-3 has a flag register, a data register and a computing unit. - 特許庁
テストベクタにて検証されていない時系列変化Ｄを自動で求めることができ、検証漏れをなくすことができる。例文帳に追加
It is possible to automatically determine the time-series variations D not verified by test vectors and eliminate verification omissions. - 特許庁
大きさの順に並べられた記録パワーの系列を、大きさが隣り合う記録パワーが不連続となるように並び替えた記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行い、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定して最適記録パワーの算出を行う。例文帳に追加
A test recording operation is carried out to the optical disk by using a recording power series obtained by rearranging a recording power series arranged in order of its magnitude, so that the adjacent recording powers are discontinuous, and an optimum recording power is calculated by measuring a recording performance value of the position where the test recording is carried out. - 特許庁
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