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プラズマ脱離の英語
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英訳・英語 plasma desorption
「プラズマ脱離」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
吸着方法、脱離方法、プラズマ処理方法、静電チャック及びプラズマ処理装置例文帳に追加
ATTRACTION METHOD, RELEASING METHOD, PLASMA PROCESSING METHOD, ELECTROSTATIC CHUCK, AND PLASMA PROCESSING APPARATUS - 特許庁
電荷交換後に高エネルギーイオンがプラズマから離脱する加速器例文帳に追加
an accelerator in which high-energy ions escape from plasma following charge exchange発音を聞く - 日本語WordNet
ガス脱離方法およびその方法を用いたプラズマディスプレイパネルの製造方法例文帳に追加
DEGASSING METHOD AND PLASMA DISPLAY PANEL MANUFACTURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
プラズマディスプレイパネル製造段階において、プラズマディスプレイパネルの中央付近とプラズマディスプレイパネルの外周近傍の温度制御を独立して行うことで、水や二酸化炭素の脱離を適切に行う手段を提供する。例文帳に追加
To provide a means which suitably performs the detachment of water and carbon dioxide by independently performing the temperature control near the center of a plasma display panel and in the outer peripheral vicinity of the plasma display panel at a manufacturing stage of the plasma display panel. - 特許庁
静電吸着で基板の保持を行って処理した後に,基板の脱離を容易に行うことを可能とするプラズマ処理装置およびプラズマ処理方法を提供する。例文帳に追加
To provide a device and a method for processing plasma, which easily conduct a desorption of a substrate after it is held and processed with an electrostatic absorption. - 特許庁
ウエハに対しプラズマ処理が終了した後、逆極性電圧の印加、除電プラズマ処理、除電電圧の印加を順次行い、その後リフトピンを作動させてウエハを静電チャック20から脱離する。例文帳に追加
After plasma processing on the wafer is completed, application of opposite-polarity voltages, demagnetizing plasma processing, and application of a demagnetizing voltage are carried out in order, and then a lift pin is placed in operation to separate the wafer from the electrostatic chuck 20. - 特許庁
速やかにかつ安定に被処理体を離脱可能な、静電吸着構造および静電吸着方法ならびにプラズマ処理装置およびプラズマ処理方法を提供する。例文帳に追加
To provide an electrostatic attracting structure which can rapidly and stably release a material to be processed, and to provide a method for electrostatically attracting, an apparatus and a method for plasma processing. - 特許庁
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「プラズマ脱離」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 40件
(b)プラズマ発生時には、反応ガスイオン94を凹部20の側壁に衝突させて、揮発性化合物を雰囲気中に離脱させることができる。例文帳に追加
(b) When the plasma is generated, reaction gas ions 94 are collided to the sidewall of the recess 20 and a volatile compound can be released into an atmosphere. - 特許庁
プラズマ発生より、未反応の吸着ガスの脱離を促進させて、パージガスの導入時間及び排気時間の短縮を図る。例文帳に追加
By the generation of the plasma, the desorption of unreacted adsorption gas is promoted, and the reduction of the introduction of purge gas and the reduction of exhaust time are attained. - 特許庁
試料の脱離時には、先ず静電チャック4をアースと接続し、試料上方に除電用のプラズマを発生させる。例文帳に追加
When the sample is released, the electrostatic chuck 4 is first connected to the earth to generate a cleaning (discharging) plasma on the upper side of the sample. - 特許庁
プラズマによって機能性部材から脱離された被処理成分を電力を供給することなく所定の方向に移動させる。例文帳に追加
To move a component to be treated, which is released from a functional member by plasma, in a prescribed direction without supplying electric power. - 特許庁
小型で、試料の離脱を速やかに行うことのできる試料台を備えたプラズマ処理装置を提供する。例文帳に追加
To provide a plasma processing apparatus comprising a small sample stage which can quickly mount and dismount a sample thereon and therefrom. - 特許庁
プラズマディスプレイパネル作製の保護層の吸着ガスを効果的に脱離する方法を提供する。例文帳に追加
To provide a degassing method for plasma display panel manufacturing method using the same, which is capable of effectively degassing absorbed gas in a protective layer of a plasma display panel. - 特許庁
これによって、プラズマSiN膜22の成膜時に装置側で設定するプラズマ発生エネルギーを示すRFパワーを700Wから900Wさらにそれ以上に上げるほど、後のシンター処理時にプラズマSiN膜22から低温で離脱する水素量が多くなってシンター処理が確実に行われる。例文帳に追加
As a result, higher the RF power representing plasma generation energy set to the device side is raised, from 700 W to 900 W or higher, when forming the plasma SiN film 22, the larger the amount of hydrogen leaving from the plasma SiN film 22 will be, at a low temperature processing during later sintering treatment, thereby making the sintering treatment sure. - 特許庁
絶縁膜処理装置34では,処理容器内を水分を含まない乾燥雰囲気に維持しながら,クリプトンガスからプラズマを生成し,当該プラズマを基板Wの表面に衝突させて,CF絶縁膜の表面に露出しているフッ素原子を離脱させる。例文帳に追加
The insulating film processing device 34 while forming a water-free dry atmosphere in a processing container produces plasma from krypton gas and causes the plasma to collide against the surface of the substrate W to remove fluorine atoms exposed in the surface of the CF insulating film. - 特許庁
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