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元素105の英語
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英訳・英語 element 105
「元素105」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
p型半導体層103とp側電極105との界面(中間層104)には、主要な構成元素として5B族元素が含まれる。例文帳に追加
5B element is contained as a major compound element on an interface (middle layer 104), between the p-type semiconductor layer 103 and the p-side electrode 105. - 特許庁
下部ゲート電極105は、結晶粒界を有する多結晶の金属窒化物で構成されており、当該結晶粒界には金属窒化物を構成する元素とは異なる元素が偏析されている。例文帳に追加
The lower gate electrode 105 is composed of a polycrystalline metal nitride having crystal grain boundaries, and elements different from those constituting the metal nitride segregate in the crystal grain boundaries. - 特許庁
発光領域においては、シリコン細線コア105に、希土類元素であるエルビウムと酸素原子とが添加されている。例文帳に追加
Erbium which is a rare earth element and oxygen atoms are added to the silicon thin line core 105 in the emission region. - 特許庁
この時、雰囲気中にHCl等を添加し、結晶性珪素膜105に残存するニッケル元素のゲッタリングを行う。例文帳に追加
At such a time, HCl or the like is added into an atmosphere and gettering of the nickel element residual in the crystalline silicon film 105 is executed. - 特許庁
絶縁膜105と埋め込み配線115との間には、白金族元素を含む材料からなるバリア膜110が形成されている。例文帳に追加
A barrier film 110 made of a material containing a platinum group element is formed between the insulation film 105 and buried wiring 115. - 特許庁
こうすることで、金属元素の濃度が低く、かつ高い結晶性を有する結晶性珪素膜105を得ることができる。例文帳に追加
Thus, the crystalline silicon film 105 having the low concentration of metal elements and high crystallinity can be provided. - 特許庁
この波高弁別器21から出力される二次処理パルス105を利用して分析試料10の元素分析及び解析を行なう。例文帳に追加
Elements of the analysis sample 10 are analyzed through the use of secondary processed pulses 105 outputted from the pulse-height discriminator 21. - 特許庁
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「元素105」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
ハロゲン元素を含むガス、及び塩基性ガスを基板W上に供給し、シリコン酸化膜にハロゲン元素を含むガス及び塩基性ガスを化学反応させた凝縮層105を生成して、シリコン酸化膜104をエッチングする。例文帳に追加
A halogen-containing gas and a basic gas are supplied onto a substrate W to form a condensation layer 105 in which the silicon oxide film is made to chemically react with the halogen-containing gas and the basic gas, and the silicon oxide film 104 is etched. - 特許庁
本発明は基板上に設けられた結晶構造を有する第1の半導体膜104上にバリア層105と、希ガス元素を含む第2の半導体膜106とを形成し、第1の半導体膜104に含まれる金属元素を加熱処理によりバリア層105を通過させて前記第2の半導体膜106に移動させるゲッタリングを行う。例文帳に追加
The method for removing the metal element comprises the steps of forming a barrier layer 105 on a first semiconductor film 104 having a crystal structure provided on a substrate and a second semiconductor film 106 including a rare gas element, passing the metal element included in the film 104 through the layer 105 by heat treating, and conducting gettering for moving the element to the film 106. - 特許庁
プラズマ処理室105の下方の排気系に繋がるステンレス鋼製の真空容器内の内壁を、シリカ系皮膜119及び高純度アルミナ皮膜120でコーティングすることにより、プラズマ処理室105から広がってきたプラズマによる金属元素の飛散を抑制する。例文帳に追加
The inner wall in the vacuum vessel, that is connected to the lower exhaust system of a plasma treatment chamber 105 and is made of stainless steel, is coated with a silica-based film 119 and a highly pure alumina film 120, thus suppressing the scatter of a metal element, due to plasma spreading from the plasma treatment chamber 105. - 特許庁
窒素濃度が1×10^20(/cm^3)以上およびハロゲン元素が含まれる窒化酸化膜をゲート絶縁膜に用いることを特徴とする絶縁ゲート型トランジスタ。例文帳に追加
This transistor features usage of an oxynitride film having halogens and a nitrogen concentration of 1×1020 (per cm3) or higher as a gate insulating film 105. - 特許庁
非晶質半導体膜103内に触媒元素を導入する際、または導入した後、非晶質半導体膜103の一部を結晶化させる第1加熱処理を行い、半導体膜105を得る。例文帳に追加
In a method for manufacture, when catalyst elements are introduced into an amorphous semiconductor film 103, or after introduction, a first heat treatment for crystallization of a part of the amorphous semiconductor film 103 is performed to obtain a semiconductor film 105. - 特許庁
入射側スラブ導波路コア103と、複数のアレイ導波路コア105と、出射側スラブ導波路コア104とは、屈折率が約1.51のSiONから構成され、かつ、Erなどの希土類元素が添加されている。例文帳に追加
The incident side slab waveguide core 103, a plurality of array waveguide cores 105 and the emission side slab waveguide core 104 comprise SiON with a refractive index of about 1.51, and moreover rare earth elements such as Er are added. - 特許庁
耐熱性の高いTa膜またはTaを主成分とする膜を配線材料に用い、さらに保護膜で覆うことで、高温(400〜700℃)での加熱処理を施すことが可能となり、例えば結晶性珪素膜中の金属元素をゲッタリングする処理等を施すことができる。例文帳に追加
Using a Te film or a film mainly composed of Ta, having high heat resisting property, as a wiring material, and by covering it with a protective film 105, heating treatment can be performed at the high temperature of 400 to 700°C, and gettering treatment, etc., can be performed on the metal element in a crystallizable silicon film. - 特許庁
多重量子井戸活性層105はInGaAsPからなり、第1クラッド層103と、第2クラッド層107と、第3クラッド層109と、第1電流ブロック層112はV族元素としてAsのみを含むIII−V族化合物半導体からなる。例文帳に追加
A multi-quantum well active layer 105 is formed of InGaAsP, and a first clad layer 103, a second clad layer 107, a third clad layer 109, and a first current block layer 112 are formed of III-V compound semiconductor containing only As as a V element. - 特許庁
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