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平行ビーム法の英語
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英訳・英語 parallel beam method
「平行ビーム法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 36件
マスク3を外し、さらに集中法光学系4を平行ビーム光学系に代えれば、平行ビーム法の測定を行うことができる。例文帳に追加
Accordingly, the measurement according to the parallel beam system can be performed, by removing the mask 3 and by substituting the parallel beam optical system for the concentration method optical system 4. - 特許庁
本発明は、短い光路長、小さいビーム寸法、及び平行ビームを同時に満足する一様照明光学装置を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a uniform illumination optical device simultaneously satisfying short optical path length, small beam dimension and parallel beams. - 特許庁
本発明の一様照明光学装置は、短い光路長、小さいビーム寸法、及び所望の平行ビームの要求を満足する。例文帳に追加
This uniform illumination optical device satisfies a requirement on the short optical path length, the small beam dimension and the desired parallel beams. - 特許庁
平行X線ビームの取り出し方法及び装置並びにX線回折装置例文帳に追加
PARALLEL X-RAY BEAM EXTRACTING METHOD AND APPARATUS, AND X-RAY DIFFRACTION SYSTEM - 特許庁
集中法と平行ビーム法を簡単に切り換え可能にし,かつ,平行ビーム法において放物面多層膜ミラーを使うことで高分解能で十分なX線強度を確保する。例文帳に追加
To enable an X-ray diffractometer to secure a sufficient X-ray intensity with high resolution by making a convergence method and a parallel beam method easily switchable to each other, and using a parabolic multilayered film mirror when the parallel beam method is used. - 特許庁
半導体ウェーハに対して、マスクとの平行を調整した状態でビームを照射することができるビームの照射方法とビーム照射装置を提供する。例文帳に追加
To provide a beam irradiating method and a beam irradiating device that can irradiate a semiconductor wafer with a beam while adjusting the wafer and a mask to be parallel. - 特許庁
反射高速陽電子回折を観測するための陽電子ビームを形成する方法であって、静電気的に加速した一次陽電子ビームをビーム偏向器で偏向させ、平行性の高い近軸陽電子ビームを長軸のコリメータを用いて切り出すことにより、小径の平行陽電子ビームを得ることを特徴とする方法。例文帳に追加
In this method of forming the positron beams for observing the reflected fast positron diffraction on the crystal surface, electrostatically accelerated primary positron beams are deflected by a beam deflector, and paraxial positron beams with high parallelism are brought out using a collimator of a long axis to obtain parallel positron beams small in diameter. - 特許庁
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「平行ビーム法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 36件
本製造方法は、光ビームをレーザ光出射装置4から出射させ、平行度変換レンズ9で光ビームを通過させながら、レーザ光出射装置4から平行度変換レンズ9までの距離を調整することによって、平行度変換レンズ9を出射した光ビームの平行度を調整するステップを有している。例文帳に追加
The method includes a step in which a light beam is emitted from the laser beam emitting device 4, and the parallelism of the light beam emitted from the parallelism adjusting lens 9 is adjusted by adjusting a distance from the laser emitting device 4 to the parallelism adjusting lens 9 while passing the light beam through the parallelism adjusting lens 9. - 特許庁
本発明による方法において、材料の除去中に、サブビームがレーザビームの異なる部分から生じるように、マスクに対して、マスクと実質的に平行な方向にレーザビームを動かすことにより、レーザビームの不均質性が補償される。例文帳に追加
According to the method, inhomogeneity of the laser bema is compensated by moving the laser beam with respect to the mask in a direction substantially parallel to the mask such that the sub beam is generated from different parts of the laser bema during the elimination of the material. - 特許庁
このように,選択スリット装置18を回転させることで集中法と平行ビーム法を切り換えることができる。例文帳に追加
Thus, the convergence method and the parallel beam method can be switched to each other by rotating the slit device 18. - 特許庁
イオン注入に関し、イオンビームの平行度および注入角度を調整するための方法と装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and device to adjust parallelism and implantation angles of an ion beam in ion implantation. - 特許庁
一方向に複数のビームが平行に配列されたマルチビームを用いて画像を記録する際、実際に画像記録を行うことなく、所望の描画解像度を定量的に調整できるように、ビーム間の距離を定量的かつ正確に測定するビーム間隔測定装置およびビーム間隔測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a beam space measuring device and a beam space measuring method, which quantitatively and accurately measure the distance between beams so that desired resolution of drawing can be adjusted without actually recording an image when the image is recorded by using the multi-beams composed of a plurality of beams being arranged parallel to each other in one direction. - 特許庁
光ビーム検出センサは、検出面の向きを維持しつつ、検出面の法線軸を回転中心軸として回転、並びに光ビームの走査方向又は走査方向とは逆方向に平行移動する。例文帳に追加
A light beam detection sensor is turned using a normal line axis of a detection face as a turning center axis and moved in parallel in the scanning direction of the light beams or in the reversed direction thereof while keeping the direction of the detection face constant. - 特許庁
本方法は、コンピュータ断層撮影イメージングシステムを用いて被検体をスキャンして扇状ビームデータセットを得る段階と、扇状ビームデータセットを平行データセットの集合内にリビニングする段階と、平行データセットの集合を用いて画像を再構成する段階とを含む。例文帳に追加
This method includes a stage of providing a fan-shaped beam data set by scanning the subject by using the computer tomographic imaging system, a stage of living the fan-shaped data set in an assembly of a parallel data set, and a stage of reconstituting the image by using the assembly of the parallel data set. - 特許庁
電子ビームをマスク上の各位置に偏向して、マスクを通過した電子ビームで試料に露光を行う電子線露光装置において、偏向量によって変動する電子ビームの平行度及び非点収差を較正する、電子線露光装置及び電子線較正方法を提供する。例文帳に追加
To provide an electron beam exposure apparatus wherein an electron beam is deflected toward each position on a mask and a testpiece is exposed to the electron beam which has passed through the mask and the parallelism and astigmatism of the electron beam which changes according to an amount of deflection is calibrated, and to provide an electron beam calibration method. - 特許庁
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