欠陥がないの英語

石英ガラス材内部の欠陥検査方法および欠陥検査装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT INSIDE QUARTZ GLASS - 特許庁

第２の欠陥検出では、第２の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出で検出した擬似欠陥を用いて、第２の真のデバイス欠陥を分離して検出する。例文帳に追加

In the second defect detection, since detection is performed in the unseparated state between the second true device defect and a pseudo defect, the second true device defect is detected separately by using a pseudo defect detected by the pseudo defect detection. - 特許庁

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。例文帳に追加

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10. - 特許庁

そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン３の欠陥検査およびモニタパタン５の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン５の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン３の欠陥を修正する。例文帳に追加

The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected. - 特許庁

欠陥の無い部分がない場合は、欠陥の数が最も少ない位置を選択するか、欠陥が全て指定した領域内にある位置を選択する。例文帳に追加

When there are no parts without defects, positions with least defects are selected or positions at which defects are confined to a prescribed area are selected. - 特許庁

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、１台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。例文帳に追加

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices. - 特許庁

本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。例文帳に追加

To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected. - 特許庁

過去に実施された欠陥修正手法を含む複数の欠陥修正手法をデータベースに蓄積し、配線基板の検査対象箇所を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出する。例文帳に追加

A defect-correcting apparatus accumulates in a database many defect correction methods, including those implemented in the past and detects defects, by checking a defect image with captured locations being tested on a wiring board against a defect-free reference image. - 特許庁