電場強度の英語

すなわち、高電場強度を有するレーザ光をガラス内部に集光照射し、レーザ光の電場方向に依存した軸を有する異方性領域を形成する。例文帳に追加

That is, laser light having high electric field intensity is focused to irradiate an inner portion of the glass to form an anisotropic region having an axis depending on the electric field direction of the laser light. - 特許庁

室温でも高いＱ値が得られ、高周波電場の強度を減らして感度を向上させ、高周波電場の誘電加熱を軽減して試料の加熱を軽減する。例文帳に追加

To reduce the heating of a sample by obtaining a high Q value, reducing the strength of a high-frequency electric field for improving sensitivity, and reducing the induced heating of the high-frequency electric field. - 特許庁

ディレイステージ８を移動させる毎にテラヘルツ検出器７からテラヘルツパルス波の電場強度に対応する検出信号を取得する。例文帳に追加

At every movement of the delay stage 8, a detection signal corresponding to the electric intensity of terahertz pulse wave is gained from a terahertz detector 7. - 特許庁

検出手段は、電磁波11と遅延手段4からのサンプリングパルスを受けて電磁波11の電場強度の時間波形を検出する。例文帳に追加

The detection means detects a time waveform of electric field intensity of the electromagnetic wave 11 by receiving the electromagnetic wave 11 and the sampling pulse from the delay means 4. - 特許庁

テラヘルツパルス光Ｔ２の電場によって変調されたレーザパルス光Ｌ３をＣＣＤカメラ２７で撮像することにより、テラヘルツパルス光Ｔ２の電場強度分布を反映する試料の画像を取得する。例文帳に追加

The pulsed light L3 modulated by the electric field of the pulsed light T2 is imaged by a CCD camera 27 to acquire an image of the specimen that reflects electric field intensity distribution of the pulsed light T2. - 特許庁

表面プラズモンを利用した蛍光検出において、金属膜１２上に生じる電場増強場Ｅｗの強度に略比例するこの電場増強場Ｅｗの散乱光Ｌｓを用いて、電場増強場Ｅｗの強度に対し、蛍光標識Ｆから発せられる蛍光Ｌｆの蛍光量を規格化して補正する。例文帳に追加

In fluorescence detection utilizing surface plasmon, a fluorescence amount of fluorescence Lf emitted from a fluorescent label F is standardized and corrected relative to the intensity of the electric-field enhanced field Ew by using scattered light Ls of the electric-field enhanced field Ew which is approximately proportional to the intensity of the electric-field enhanced field Ew generated on a metal film 12. - 特許庁

第１のテレセントリック光学系７に導かれたテラヘルツ光の電場強度に応じて電気光学結晶上１１に現れる複屈折の分布状態を検光子１２によって光強度に変換する。例文帳に追加

The state of distribution of double refraction which appears on the electro-optical crystal 11 according to the strength of electric fields of terahertz light guided to the first telecentric optical system 7 is converted into light intensity by an analyzer 12. - 特許庁

対象物体の２次元領域の各部位の全体に渡るテラヘルツパルス光の電場強度の時系列波形の実時間計測を行う。例文帳に追加

To perform the real-time measurement of the time series waveform of field intensity of a terahertz pulse light extending over all portions of the two-dimensional area of an object. - 特許庁