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Illuminated Defectとは 意味・読み方・使い方
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「Illuminated Defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
To provide an OCB(optically compensated bend) made type liquid crystal display element having display quality with less illuminated defect caused by thermal fluctuation due to a backlight or the like.例文帳に追加
バックライト等の熱ムラに対して、光ヌケの少ない表示品位を有するＯＣＢモード型液晶表示素子を提供する。 - 特許庁
Here, a perfect crystal means a parallel-sided slab of defect-free crystalline material, which produces an ideal point diffraction pattern when illuminated by a plane wave.発音を聞く 例文帳に追加
ここで、「完全結晶」とは欠陥がない結晶性の平行平板を意味し、これは平面波で照らされるとき理想的な「点状の」回折図形を作る。 - 科学技術論文動詞集
The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4.例文帳に追加
複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。 - 特許庁
To provide a lighting system for a moving sidewalk and escalator installation and to provide well-illuminated moving sidewalk or escalator installation capable of avoiding a defect of a conventional lighting system.例文帳に追加
動く歩道およびエスカレータ設備のための照明システム、さらには、従来の照明システムの欠点が回避される、良好に照明がなされた動く歩道またはエスカレータ設備を提案する。 - 特許庁
This tool defect inspection device has a support device 18 for supporting the work 12 by a chucking member 16, a ring illumination 32 for illuminating an inspection face of the work 12, and a camera 26 for imaging the illuminated work 12.例文帳に追加
ワーク１２をチャック用部材１６により支持する支持装置１８と、ワーク１２の検査面を照明するリング照明３２と、照明されたワーク１２を撮像するカメラ２６を有する。 - 特許庁
The device for inspecting the defect of the tools has a support part 14 for rotatably supporting the workpieces 12 being the tool chips used for a blade edge of the tool and a camera 22 for imageably forming the workpieces 12 illuminated by a lighting system 20.例文帳に追加
工具の刃先に用いる工具チップであるワーク１２を回転自在に支持する支持部１４と、照明装置２０により照明されたワーク１２を撮像可能に形成されたカメラ２２を有する。 - 特許庁
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「Illuminated Defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
To realize an illuminated defect repair using an ion beam device in which the deterioration in the quality in the periphery of a repair region due to a Ga ion diffusion in cleaning after post treatment of a halo component by a laser beam repair machine does not occur.例文帳に追加
レーザー修正機によるハロー成分のポストトリートメント後の洗浄時にGaイオン拡散に起因する修正領域周辺の品質劣化の起こらないイオンビーム装置を用いた白欠陥修正を実現する。 - 特許庁
To provide an epitaxial substrate for a back-illuminated image sensor and a manufacturing method thereof, capable of suppressing metal contaminations and reducing occurrence of a white spot defect of the image sensor, by maintaining a sufficient gettering performance in a device process.例文帳に追加
デバイス工程中、十分なゲッタリング能力を維持することで、金属汚染を抑制し、イメージセンサの白傷欠陥の発生を低減させることができる裏面照射型イメージセンサ用エピタキシャル基板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
A same defect is lit in plural times in a single inspection by an illumination optical system performing linear lighting and a detection optical system dividing illuminated region by a line sensor and performing detection, and scattering light is added, and thereby, the detection sensitivity is improved.例文帳に追加
線状照明を行う照明光学系、被照明領域をラインセンサで分割して検出する検出光学系により、一度の検査で同一欠陥を複数回照明し、それらの散乱光を加算することにより検出感度を向上させる。 - 特許庁
When a display failure such as line defect is found during a turn-on inspection after a driver LSI 3 is installed, YAG laser is illuminated from the substrate back surface side to a cross section 12 of the wiring 4 and the wiring 5 where a failure is generated so as to connect the wiring 4 and the wiring 5.例文帳に追加
ドライバーＬＳＩ３搭載後の点灯検査にて線欠陥等の表示不良が発生した場合、不良発生箇所のソース配線４とクロス配線５との交差部１２に基板裏面側からＹＡＧレーザーを照射しソース配線４とクロス配線５を接続させる。 - 特許庁
In this defect inspection device 1, a lens 2 supported on an inspection axis L is sequentially illuminated by reflection type dark-field illumination devices 5_1-5_4 having LEDs 6_1-6_4 for irradiating light at different irradiation angles to the lens 2 one by one, and is imaged by a camera 4.例文帳に追加
欠陥検査装置１においては、検査軸線Ｌ上に支持されたレンズ２は、レンズ２に対して異なる照射角度で光を照射するＬＥＤ６_１〜６_４を有する反射型暗視野照明装置５_１〜５_４よって１装置ずつ順次照明され、カメラ４によって撮像される。 - 特許庁
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