Ion Mass Resolutionとは 意味・読み方・使い方

To provide a mass spectrometer capable of detecting ion with high resolution and high sensitivity.例文帳に追加

質量分析装置において高分解能かつ高感度でのイオン検出を可能にすること。 - 特許庁

Hereby, an ion yield of a time-of-flight mass spectrometer is improved and a resolution is raised.例文帳に追加

これにより、飛行時間型質量分析計のイオン収率が向上し、分解能が高くなる。 - 特許庁

To enhance analytic sensitivity by improving the residual efficiency of ion while ensuring high mass resolution in selecting specific ion.例文帳に追加

特定イオンの選別を行う際に、高い質量分解能を確保しつつイオンの残留効率を改善して分析感度を高める。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope capable of nearly maximizing ion trapping efficiency, mass resolution, and CID efficiency simultaneously, constructed by non-axially combining an ion trap with a time-of-flight mass spectrometer.例文帳に追加

イオン捕捉効率、質量分解能、及び、ＣＩＤ効率を同時にほぼ最大にし得る、イオントラップと飛行時間型質量分析計を非同軸に結合した質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion trap mass spectrometry solving on narrowness of a mass range of a multi-revolution type and capable of measuring mass with a high mass resolution without wasting ion captured by an ion trap.例文帳に追加

本発明はイオントラップ型質量分析方法に関し、多重周回型の質量範囲の狭さを解決し、イオントラップで捕獲したイオンを無駄にすることなく高質量分解能で質量測定をすることができるイオントラップ型質量分析方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To realize uniform mass resolution regardless of the mass of a sample ion scattered from a sample irradiated with measuring beams, and to achieve high mass resolution by securing long flight distance regardless of a compact device and allowing the sample ion to fly for a long time.例文帳に追加

測定用ビームば照射された試料から散乱した試料イオンの質量にかかわらず均一な質量分解能を実現し，且つ，コンパクトな装置でありながら長い飛行距離を確保して長時間試料イオンを飛行させることにより高い質量分解能を実現すること。 - 特許庁

To provide a time-of-flight type mass spectrometer for tandem mass spectrometry, utilizing advantages of an orbital time-of-flight type mass spectroscope, eliminating the upper limit of a parent ion mass range, providing high resolution in ion selection, and not abandoning the ions other than parent ions initially selected.例文帳に追加

周回型飛行時間型質量分析計の利点を生かし、親イオンの質量範囲に上限がなく、イオン選別の分解能が高く、しかも、最初に選択された親イオン以外のイオンを捨てることなく、タンデム質量分析を行なうことのできる飛行時間型質量分析計を提供する。 - 特許庁