Statistical variationとは 意味・読み方・使い方

analytical model to evaluate the CDV introduced by statistical multiplexing in ATM networks発音を聞く 例文帳に追加

ATMネットワークにおける統計的多重化によって導入されたセル遅延変動(CDV<cell delay variation>)を評価するための解析モデル - コンピューター用語辞典

A voltage value Vb of a battery 10 is sampled and a voltage variation rate α with time is calculated by statistical processing.例文帳に追加

バッテリ１０の電圧値Ｖb をサンプリングし、時間に対する電圧の電圧変動率αを統計処理により算出する。 - 特許庁

To provide a statistical SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) model parameter calculation method for creating a high-accuracy and size-dependent variation model.例文帳に追加

高精度かつサイズ依存性を持ったばらつきモデルを作ることができる統計ＳＰＩＣＥモデルパラメータ算出方法の提供。 - 特許庁

The statistical timing analysis device 30 is provided with a circuit net list part 1, a timing asserting part 2, a delay mode part 3, a variable factor statistical information part 4, an SSTA execution part 5, a variation reference specification generating part 6, and a comparison and determination part 7.例文帳に追加

統計的タイミング解析装置３０には回路ネットリスト部１、タイミングアサーション部２、遅延モデル部３、変動要因統計情報部４、ＳＳＴＡ実行部５、バラツキ基準仕様作成部６、及び比較判定部７が設けられる。 - 特許庁

The result of the statistical amount of the input parameter is fed back and compared to the variation width of input conditions which are set when the RSF library is created.例文帳に追加

入力変数の統計量の結果をフィードバックして、ＲＳＦライブラリの作成時に設定された入力条件の変動幅と比較する。 - 特許庁

Further, the monitor part 4 finds a statistical protection buffer from the variation quantity and the buffer control part 5 computes an offset value set to the buffer according to the protection buffer.例文帳に追加

更に、バッファ蓄積量変動監視部４は、変動量から統計的な保護バッファを求め、バッファ制御部５が保護バッファを基にバッファに設定するオフセット値を算出する。 - 特許庁

For the collected data, the data processing unit 124 calculates statistical data for calculating the variation trend of the plurality of data, for each of the plurality of data that are continuous in time series.例文帳に追加

データ加工部１２４は、収集データに対して、時系列に連続した複数のデータ毎に、該複数のデータの変動傾向を算出可能な統計データを計算する。 - 特許庁

The SSTA executing part 5 inputs the information from the circuit net list part 1, the timing asserting part 2, the delay model part 3, and the variable factor statistical information part 4, executes statistical timing analyses, and calculates the defect probability of the semiconductor integrated circuit chip, from a variation reference specification table, generated in advance.例文帳に追加

ＳＳＴＡ実行部５は回路ネットリスト部１、タイミングアサーション部２、遅延モデル部３、及び変動要因統計情報部４から情報を入力し、統計的タイミング解析を実行し、予め作成されたバラツキ基準仕様表から半導体集積回路チップの不良確率を算出する。 - 特許庁