X marksとは 意味・読み方・使い方

Related to an x-y rectangular coordinate system parallel to the surface of the wafer, two x-axis marks for alignment are arranged at different positions of the x-coordinates on the wafer surface, while two y-axis marks are arranged at different positions of y-coordinates.例文帳に追加

ウエハの表面に平行なｘｙ直交座標系を考えたとき、ウエハの表面上のｘ座標の異なる位置に、位置合わせ用の２つのｘ軸用マークが配置され、ｙ座標の異なる位置に２つのｙ軸用マークが配置されている。 - 特許庁

The first mark consists of first and second X marks for detecting the position in the X direction, and a first Y mark for detecting the position in the Y direction wherein the first and second X marks are provided oppositely while being spaced apart by a specified distance in the Y direction.例文帳に追加

第１のマークは、Ｘ方向の位置を検出するための第１第２のＸマークと、Ｙ方向の位置を検出するための第１のＹマークとからなり、第１第２のＸマークはＹ方向に所定距離離れて対向して設けられる。 - 特許庁

Then, marks indicating the roles of the disk position X and the disk position Y are set in the recording of the history state.例文帳に追加

次いで、履歴状態の記録内に、ディスク位置Ｘおよびディスク位置Ｙの役割を示す標識を設定する。 - 特許庁

(2) For the purpose of paragraph (1), references in section 3 and Part X of the Act and in the Trade Marks (Border Enforcement Measures) Rules to a registered trade mark shall be treated as references to a protected international trade mark (Singapore).例文帳に追加

(2)(1)の適用上，商標法第3条及び第X部並びに商標(国境強制措置)規則にいう登録商標は，保護国際商標(シンガポール)として扱われる。 - 特許庁

Description: For example, on Mac OS X 10.4. when using System. out.println in the Java code,the strings containing Japanese characters display correctly in the source code, but are displayed as question marks in the output window.発音を聞く 例文帳に追加

説明: たとえば Mac OS X 10.4 で、Java コードに System.out.println を使用している場合、日本語の文字を含む文字列は、ソースコードでは正しく表示されますが、「出力」ウィンドウではクエスチョンマーク (?) で表示されます。 - NetBeans

Markers 1c-1 and 1c-2 are spherical so as to be marks when the marker image of the X-ray resection marker 1 is extracted from an X-ray three-dimensional tomographic image.例文帳に追加

マーカ１ｃ−１，１ｃ−２は、球形状とすることにより、Ｘ線立体断層像からＸ線切除マーカ１のマーカ像を抽出する際の目印とすることができる。 - 特許庁

Reference marks 50, 51 formed on a core substrate 60 of a substrate 5 are image-formed on a fluorescent plate 12 by being irradiated with X rays from an X-ray generator 11, and this is imaged by a visible light CCD camera 13 to simultaneously detect positions of the reference marks 50, 51.例文帳に追加

基板５のコア基板６０に形成された基準マーク５０、５１をＸ線発生器１１からのＸ線照射により蛍光板１２上に像を結び、これを可視光ＣＣＤカメラ１３で撮像して基準マーク５０、５１の位置を同時に検出する。 - 特許庁

Both of the left and right vertical strip-like marks 1a and both of the front and rear horizontal strip-like marks 1b are used as scales for visual measurement of shift amounts in X and Y directions respectively to control the shift amounts, whereby positional relations in X and Y directions between the COF and the liquid crystal cell are freely adjusted.例文帳に追加

左右両側の縦帯状マーク１ａと前後両側の横帯状マーク１ｂを、それぞれＸ方向とＹ方向のシフト量を目測する目盛として目合わせでシフト量をコントロールし、ＣＯＦと液晶セルのＸ・Ｙ方向の位置関係を自由に調整する。 - 特許庁