accumulation patternとは 意味・読み方・使い方

To accurately correct a fixed pattern of an imaging element without losing an image signal from an imaging element nor providing a constraint to accumulation time.例文帳に追加

撮像素子からの画像信号を欠落させず且つ蓄積時間にも制約を与えずに、精度良く撮像素子の固定パターンを補正する。 - 特許庁

To prevent a color temperature sensor from being affected by correction operation for removing fixed pattern noise before accumulation of an AF sensor.例文帳に追加

色温度センサがAF用センサの蓄積前の固定パターンノイズを除去する補正動作の影響を受けないようにする。 - 特許庁

A downward transmission power accumulation threshold determining algorithm unit 131 is designed to determine which pattern of the downward transmission power accumulating pattern is suitable, based on the downward transmission power accumulation threshold determining algorithm, based on outputted information from the traffic analyzing unit 12.例文帳に追加

下り送信電力積み上げ閾値アルゴリズム部１３１はトラヒック分析部１２の出力情報を基に、下り送信電力積み上げパターンのどのパターンがふさわしいかを下り送信電力積み上げ閾値決定アルゴリズムにしたがって決定する。 - 特許庁

The control part 10 reads frequency of the specified action pattern and frequency of an action pattern approximate to the action pattern from an accumulation information table 13a.例文帳に追加

制御部１０は、特定した行動パターンの頻度と、この行動パターンに近似する行動パターンの頻度とを蓄積情報テーブル１３ａから読み出す。 - 特許庁

A communication state transition pattern management means 101 for servers and a communication state transition pattern management means 301 for terminals of a managing common communication state transition pattern are provided to a picture accumulation server 100 and a picture display device 300.例文帳に追加

画像蓄積サーバ１００と画像表示装置３００とに、共通の通信状態遷移パターンを管理するサーバ用通信状態遷移パターン管理手段１０１と端末用通信状態遷移パターン管理手段３０１とを設ける。 - 特許庁

A constitutive unit 341 constituting the pattern of the heat accumulation part may be formed to make an area or a volume thereof inverse-proportional to the intensity distribution of the laser beam.例文帳に追加

前記蓄熱部のパターンを構成する構成単位３４１は、その面積又は体積と前記レーザー光の強度分布とが反比例するように形成することができる。 - 特許庁

The amount of the displacement of each node 11 is obtained from the difference between the internal stress applied to each node 11 before the pattern aperture 3 exists and the force acting on each node 11 after the accumulation.例文帳に追加

パターン開口３が存在する前の各節点１１にかかる内部応力と累積後の各節点１１に作用する力との差から、各節点１１の変位量を求める。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent the melted pattern destruction of a via chain caused by accumulation of charged particles and can diagnose a nonconduction failure location.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子の蓄積によるビアチェーンのパターン溶融破壊を防止することができ、非導通不良の箇所の不良診断を行うことができる半導体素子を提供することを目的とする。 - 特許庁