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atomic targetとは 意味・読み方・使い方
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「atomic target」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
The X-ray target 5 can be formed of metal with an atomic number of 20-30.例文帳に追加
X線ターゲット5は、原子番号が20から30までの金属で形成することができる。 - 特許庁
A sputter target is comprised of cobalt (Co), greater than 0 and as much as 24 atomic percent chromium (Cr), greater than 0 and as much as 20 atomic percent platinum (Pt), greater than 0 and as much as 20 atomic percent boron (B), and greater than 0 and as much as 10 atomic percent gold (Au).例文帳に追加
スパッタターゲットは、コバルト(Co)、0より多く24原子%以下のクロム(Cr)、0より多く20原子%以下の白金(Pt)、0より多く20原子%以下のホウ素(B)及び0より多く10原子%以下の金(Au)を含む。 - 特許庁
In this X-ray target which comprises a target and a target- support member, the target is made to have a cross section as small as possible and is composed of a material with a great atomic number for increasing the brightness of X-ray.例文帳に追加
ターゲットとターゲット支持部材からなるX線ターゲットにおいて、前記ターゲットは、X線の輝度を上げるために、ターゲットの断面積をなるべく小さく、かつ原子番号の大きな物質で構成したことを特徴とするX線ターゲット。 - 特許庁
The effective amount of Cr in the above target is, by atomic %, 5% or more, preferably 10% or more.例文帳に追加
前記ターゲットにおけるCr量は、原子%で5%以上、好ましくは10%以上の場合が特に効果的である。 - 特許庁
Measuring light is reflected by the reflecting surface of the probe 22 and the atomic force acting across the probe 22 and a measuring target 1 is utilized to measure the surface shape of the measuring target 1.例文帳に追加
プローブ22の反射面で計測光を反射させ、プローブ22と被測定物1の間に作用する原子間力を利用して被測定物1の表面形状を測定する。 - 特許庁
A compound with a specific structure comprises an oligonucleotide having a labeled atomic group and a sequence hybridizable to a target.例文帳に追加
標識された原子団を有し、標的とハイブリッド形成可能な配列を持つオリゴヌクレオチドを含む、特定の構造を有する化合物。 - 特許庁
When the target is irradiated with laser beams, the noble metal source and the NOx storage material source are mixed with each other on the atomic levels in ionized states or neutral particle states and the obtained mixture is then mixed with the carrier oxide source on the atomic levels.例文帳に追加
レーザー照射によって貴金属源とNO_x 吸蔵材源とはイオン状態あるいは中性粒子状態で原子レベルで混合され、それが原子レベルで担体酸化物源と混合されることになる。 - 特許庁
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「atomic target」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
By sputtering the sputtering target in the argon atmosphere, a protective film for an optical disk in which the atomic ratio of O and C is in a range of 1.0 : 0.5 to 1.7 : 0.17 when the atomic ratio of Si is set to be 1.0.例文帳に追加
このスパッタリングターゲットをアルゴン雰囲気中でスパッタリングすることにより、Siの原子数比を1.0としたとき、O及びCの原子数比が1.0:0.5〜1.7:0.17の範囲にある光ディスク用保護膜を得ることができる。 - 特許庁
This Ta target for film-forming a barrier material is the one in which the powder of one or ≥ two kinds among (C, B, Ir, W, Ge, CeO2 and RuO2) of ≤49 atomic% and Ta powder of ≥51 atomic% are sintered.例文帳に追加
本発明は、49原子%以下の(C、B、Ir、W、Ge、CeO__2、RuO_2)の1種または2種以上の粉末と、51原子%以上のTa粉末とが焼結してなるバリア材成膜用Ta系ターゲットである。 - 特許庁
Moreover, the sputter target is further comprised of 0 to 7 atomic percent X_3, wherein X_3 is an element selected from the group consisting of Ti, V, Zr, Nb, Ru, Rh, Pd, Hf, Ta, and Ir.例文帳に追加
スパッタターゲットは、更に0〜7原子パーセントまでのX_3を含み、前記X_3が、Ti,V,Zr,Nb,Ru,Rh,Pd,Hf,Ta及びIrからなるグループから選択された1つの元素である。 - 特許庁
As the target material is formed by the metal silicon mixed with the metal whose atomic number is ≤11 like this, the resistivity can be decreased.例文帳に追加
このように、原子番号が11以下の金属が混合された金属シリコンでターゲット材が形成されているため、抵抗率を低下させることができる。 - 特許庁
One manufacturing method of the InSbO_4-contained transparent conductive membrane is to sputter simultaneously a target comprising a sintered compact consisting of In, Sb, and O with an atomic ratio of 1:0.9 to 1.1 for In:Sb, and a target consisting of Sb.例文帳に追加
InとSbとOからなり原子比In:Sbが1:0.9〜1.1である焼結体からなるターゲットとSbからなるターゲットとを同時にスパッタすることによるInSbO_4含有導透明電性膜の製造方法。 - 特許庁
Further, another manufacturing method of the INSbO_4-contained transparent conductive membrane is to sputter simultaneously a target consisting of Sn and/or Hf, In, Sb and O with an atomic ratio of 1:0.9 to 1.1 for In:Sb, and a target consisting of Sb.例文帳に追加
Snおよび/またはHfとInとSbとOからなり原子比In:Sbが1:0.9〜1.1であるターゲットとSbからなるターゲットを同時にスパッタするInSbO_4含有導透明電性膜の製造方法。 - 特許庁
The target is provided with a target material 11 containing at least one kind among the groups consisting of Ni, Cu, Sn, Ag, Al and Co by 0.01 to 1 atomic %, and the balance substantially Si and a backing plate 12 supporting the target material 11.例文帳に追加
Ni、Cu、Sn、Ag、Al、Coからなる群のうちの少なくとも1種を0.01原子%以上1原子%以下含有し残部が実質的にSiからなるターゲット材11と、前記ターゲット材11を支持するパッキングプレート12とを具備する事を特徴とするターゲット。 - 特許庁
The high-strength sputtering target has a composition containing, by atomic %, 10 to 30% Ge, 10 to 25% Sb, and 0.5 to 5% Ti, and consists of the balance Te and inevitable impurities.例文帳に追加
原子%でGe:10〜30%、Sb:10〜25%、Ti:0.5〜5を含有し、残部がTeおよび不可避不純物からなる組成を有する高強度スパッタリングターゲット。 - 特許庁
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