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boron 11とは 意味・読み方・使い方

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Wiktionary英語版での「boron 11」の意味

boron-11

出典:『Wiktionary』 (2026/01/02 23:26 UTC )

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名詞

boron-11 (uncountable)

  1. (physics) A stable isotope, 5B, having five protons and six neutrons, that makes up about 80% of natural boron.

参考


「boron 11」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 75



例文

The boron-11 compound may be a boron-11 isotope of boron oxide, boron hydride, boron hydroxide, boron carbide, boron nitride, boron trichloride, boron trifluoride, boron metal, or mixtures thereof.例文帳に追加

ホウ素−11化合物は、酸化ホウ素、水素化ホウ素、水酸化ホウ素、炭化ホウ素、窒化ホウ素、三塩化ホウ素、三フッ化ホウ素、ホウ素金属、またはこれらの混合物のホウ素−11同位体からなる。 - 特許庁

(xxv) Boron, boron compounds or boron mixtures, or primary or semi-finished products thereof, comprised of concentrated boron with a boron 10 to boron 10 and boron 11 ratio greater than the ratio in nature, or anything containing such boron発音を聞く 例文帳に追加

二十五 ほう素、ほう素化合物若しくはほう素混合物又はこれらの半製品若しくは一次製品であって、ほう素一〇のほう素一〇及びほう素一一に対する比率が天然の比率を超えて濃縮されたほう素から構成されるもの又はそのほう素を含むもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

The boron concentration of a side channel 16 in the channel region 11 of the n-type thin film transistor 4 is made higher than that of a central portion 17 in the channel region 11.例文帳に追加

n型薄膜トランジスタ4のチャネル領域11のサイドチャネル部16のボロン濃度を、このチャネル領域11のセンタ部17のボロン濃度よりも高濃度にする。 - 特許庁

The thickness of the surface layer 11 is 0.5-1.5 μm, and the rate of cubic boron nitride to the whole boron nitride in the surface layer 11 is 10-70 mol%.例文帳に追加

表面層(11)は、その厚みが0.5〜1.5μmであり、表面層(11)中の全窒化ホウ素に対する立方晶窒化ホウ素の割合が、10〜70mol%である。 - 特許庁

The thickness of the boron doped layer 9 is 1 μm or smaller, and the surface concentration of the boron is 4.0×10^10-3.5×10^11 cm^-2.例文帳に追加

ホウ素ドーピング層9の厚さは1μm以下とし、ホウ素の面濃度は4.0×10^10乃至3.5×10^11cm^−2とする。 - 特許庁

An IGBT 10 comprises a P type collector region 11 containing P type impurity such as boron.例文帳に追加

IGBT10は、ボロン等のP型不純物を含むP型コレクタ領域11を備える。 - 特許庁

例文

Next, an impurity implanting region 11 is formed by implanting boron ions into the surface of the wafer.例文帳に追加

次にウェハ表面にホウ素イオンを注入することにより不純物注入領域11を形成する。 - 特許庁

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「boron 11」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 75



例文

A vapor deposition source of magnesium, a vapor deposition source of boron and a substrate 11 are arranged in a reaction chamber 2, and magnesium and boron are simultaneously evaporated in the reaction chamber 2 to form magnesium diboride on the substrate 11.例文帳に追加

マグネシウムの蒸着源と、ホウ素の蒸着源と、基板11とを反応室2内に配置し、反応室2内で、マグネシウムとホウ素とを同時に蒸着することにより、基板11上に二ホウ化マグネシウムを形成する。 - 特許庁

By heating the semiconductor substrate 11 to reactivate boron, borons in the two diffusion layers are relocated.例文帳に追加

半導体基板11を加熱して、ボロンを再活性化させることにより、2つの拡散層のボロンを再配置させる。 - 特許庁

Therefore, it is possible to remove 11 boron from the ion injection face prior to the lamination with a wafer 20 for a supporting substrate.例文帳に追加

よって、支持基板用ウェーハ20との貼り合わせ前にイオン注入面から11ボロンを除去することができる。 - 特許庁

A high concentration boron-silicon layer 21 and a low concentration boron-silicon layer 22 are formed under the silicon insulating film 11 of an SOI substrate for producing a stencil mask and wet etching is carried out with an alkali solution such as a KOH solution.例文帳に追加

ステンシルマスク作製用のSOI基板のシリコン絶縁膜11の下に高濃度ボロンシリコン層21、低濃度ボロンシリコン層22を構成して、KOH溶液等のアルカリ溶液でウエットエッチングする。 - 特許庁

A cluster ion beam 20 containing boron and germanium is radiated onto the silicon substrate 1 at a bottom part of the contact hole 10, and a silicon layer 11 containing the boron and germanium is formed in the silicon substrate 1.例文帳に追加

次に、コンタクトホール10の底部にあるシリコン基板1に、ホウ素とゲルマニウムを含むクラスターイオンビーム20を照射して、シリコン基板1中にホウ素とゲルマニウムとを含むシリコン層11を形成する。 - 特許庁

In the electron-emitting element 10, a boron nitride material 13 is used as the electron discharge material, and as a substrate 11 to form the boron nitride material, a metal material or a semiconductor material has been used.例文帳に追加

本発明の電子放出素子10では、電子放出材料として窒化ホウ素材料13を用い、該窒化ホウ素材料を形成する基板11として、金属材料または半導体材料を用いた。 - 特許庁

To provide an SiC material that includes a boron-11("11 B") isotope, and a precursor and a method for forming the SiC material, and the SiC material.例文帳に追加

原子力用途のためのホウ素−11(“11B”)同位体を含むSiC材料、並びに前駆体及びSiC材料の形成方法、及びSiC材料の提供。 - 特許庁

例文

In succession, impurity element (e.g. boron) is implanted into the silicon substrate 11 through the opening.例文帳に追加

続いて、イオン注入方法にて、不純物元素(例えばホウ素)をエッチングにて開口した部分のシリコン基板11に注入する。 - 特許庁

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