circuits analysisとは 意味・読み方・使い方

On the basis of layered structure analysis information obtained by analyzing a multilayer structure of functional circuits in a desired highest layered circuit and first terminal information specifying information relating to terminals of existent circuits which are existent functional circuits, an existent circuit analysis section 22 analyzes a signal connection of the existent circuit in the highest layered circuit.例文帳に追加

既存回路解析部２２は、所望の最上位階層回路内の機能回路の多階層構造を解析した階層構造解析情報と、既存の機能回路である既存回路各々の端子にかかる情報を規定した第１の端子情報と、に基づいて、最上位階層回路内での既存回路の信号接続について解析する。 - 特許庁

First and second partial circuits having connection relation astride a boundary area sectionalizing a space are extracted from a plurality of partial circuits inside the analysis target circuit, and a connection circuit configuration comprising the first and second partial circuits is changed into a non-connection circuit configuration wherein the first and second partial circuits are not connected and are equivalent.例文帳に追加

解析対象回路内の複数の部分回路のうち、空間を区切る境界領域にまたがって接続関係を有する第１および第２の部分回路を抽出し、それら第１および第２の部分回路からなる接続回路構成を、第１および第２の部分回路が非接続でかつ等価な非接続回路構成に変更する。 - 特許庁

To provide a failure analysis apparatus capable of precisely narrowing down locations of failure of semiconductor integrated circuits, on the basis of results of static supply current tests.例文帳に追加

静的電源電流試験の結果に基づき、半導体集積回路の故障箇所の絞り込みを高精度に行える故障解析装置を提供する。 - 特許庁

On the basis of the variation distribution of process sensitivity parameters, the characteristics distribution of the semiconductor integrated circuits is extracted by mathematical analysis using a polynomial equation.例文帳に追加

プロセス感度パラメータのばらつき分布に基づいて、多項式を用いた数学的解析により半導体集積回路の特性分布を抽出する。 - 特許庁

The audio tempo or frequency spectrum in the input audio signal Ax is analyzed, and fundamental wave component extracting circuits 43, 46 and harmonic component extracting circuits 44, 47 are controlled on the basis of a result of analysis.例文帳に追加

入力音声信号Ａｘにおける音声のテンポまたは周波数スペクトルを解析し、その解析結果に応じて基本波成分抽出回路４３，４６および高調波成分抽出回路４４，４７を制御する。 - 特許庁

To provide a failure analysis system which is capable of indicating the fault circuits of a semiconductor device on physical coordinates resting on a test result obtained through a semiconductor test device and making a user easily judge the features of the defective circuits of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置の試験結果に基づく半導体デバイスの故障回路を物理座標上に表示し、ユーザが半導体デバイスの不良の特徴を容易に判断できるようにする不良解析システムを提供する。 - 特許庁

The router between integrated circuits comprises an internal bus having a plurality of debug lines, a plurality of bus ports wherein at least one bus port has a bus port analysis line, and a control logic having a control logic analysis line.例文帳に追加

本発明にかかる集積回路間ルータは、複数のデバッグラインを備える内部バスと、少なくとも１つのバスポートがバスポート分析ラインを備える複数のバスポートと、制御ロジック分析ラインを備える制御ロジックとを備える。 - 特許庁

To provide a method of forming a substrate model which enables potential variation analysis of an integrated circuit substrate for large-scale integrated circuits and an analyzing method and apparatus, using the same.例文帳に追加

大規模な集積回路の集積回路基板の電位変動解析を可能にする基板モデルの作成法，及びそれを用いた解析法及び装置を提供する。 - 特許庁