「circuits analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A packet analysis section 37 and a host CPU 38 generate an EPG from outputs from the demodulation circuits 34-36.例文帳に追加

パケット解析部３７及びホストＣＰＵ３８は、復調回路３４乃至３６の出力からＥＰＧを作成する。 - 特許庁

The debug circuit includes: trace acquisition circuits (110 and 210) for capturing the instruction execution analysis information and information acquired through the operand busses via their respectively dedicated logical circuits (112, 114, 212, and 214); and trace output circuits (111 and 211).例文帳に追加

上記デバッグ回路は、上記命令実行解析情報と上記オペランドバスから得られる情報とをそれぞれ専用の論理回路（１１２，１１４，２１２，２１４）を介して取り込むトレース取得回路（１１０，２１０）と、トレース出力回路（１１１，２１１）とを含む。 - 特許庁

On the basis of layered structure analysis information obtained by analyzing a multilayer structure of functional circuits in a desired highest layered circuit and first terminal information specifying information relating to terminals of existent circuits which are existent functional circuits, an existent circuit analysis section 22 analyzes a signal connection of the existent circuit in the highest layered circuit.例文帳に追加

既存回路解析部２２は、所望の最上位階層回路内の機能回路の多階層構造を解析した階層構造解析情報と、既存の機能回路である既存回路各々の端子にかかる情報を規定した第１の端子情報と、に基づいて、最上位階層回路内での既存回路の信号接続について解析する。 - 特許庁

First and second partial circuits having connection relation astride a boundary area sectionalizing a space are extracted from a plurality of partial circuits inside the analysis target circuit, and a connection circuit configuration comprising the first and second partial circuits is changed into a non-connection circuit configuration wherein the first and second partial circuits are not connected and are equivalent.例文帳に追加

解析対象回路内の複数の部分回路のうち、空間を区切る境界領域にまたがって接続関係を有する第１および第２の部分回路を抽出し、それら第１および第２の部分回路からなる接続回路構成を、第１および第２の部分回路が非接続でかつ等価な非接続回路構成に変更する。 - 特許庁

To provide a failure analysis apparatus capable of precisely narrowing down locations of failure of semiconductor integrated circuits, on the basis of results of static supply current tests.例文帳に追加

静的電源電流試験の結果に基づき、半導体集積回路の故障箇所の絞り込みを高精度に行える故障解析装置を提供する。 - 特許庁

On the basis of the variation distribution of process sensitivity parameters, the characteristics distribution of the semiconductor integrated circuits is extracted by mathematical analysis using a polynomial equation.例文帳に追加

プロセス感度パラメータのばらつき分布に基づいて、多項式を用いた数学的解析により半導体集積回路の特性分布を抽出する。 - 特許庁

The audio tempo or frequency spectrum in the input audio signal Ax is analyzed, and fundamental wave component extracting circuits 43, 46 and harmonic component extracting circuits 44, 47 are controlled on the basis of a result of analysis.例文帳に追加

入力音声信号Ａｘにおける音声のテンポまたは周波数スペクトルを解析し、その解析結果に応じて基本波成分抽出回路４３，４６および高調波成分抽出回路４４，４７を制御する。 - 特許庁

To provide a failure analysis system which is capable of indicating the fault circuits of a semiconductor device on physical coordinates resting on a test result obtained through a semiconductor test device and making a user easily judge the features of the defective circuits of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置の試験結果に基づく半導体デバイスの故障回路を物理座標上に表示し、ユーザが半導体デバイスの不良の特徴を容易に判断できるようにする不良解析システムを提供する。 - 特許庁

The router between integrated circuits comprises an internal bus having a plurality of debug lines, a plurality of bus ports wherein at least one bus port has a bus port analysis line, and a control logic having a control logic analysis line.例文帳に追加

本発明にかかる集積回路間ルータは、複数のデバッグラインを備える内部バスと、少なくとも１つのバスポートがバスポート分析ラインを備える複数のバスポートと、制御ロジック分析ラインを備える制御ロジックとを備える。 - 特許庁

To provide a method of forming a substrate model which enables potential variation analysis of an integrated circuit substrate for large-scale integrated circuits and an analyzing method and apparatus, using the same.例文帳に追加

大規模な集積回路の集積回路基板の電位変動解析を可能にする基板モデルの作成法，及びそれを用いた解析法及び装置を提供する。 - 特許庁

(2) The effect of a layout-design exploitation right shall not extend to any acts of manufacturing semiconductor integrated circuits utilizing the registered layout-design in the case where it is for the purpose of analysis or evaluation. 例文帳に追加

２　回路配置利用権の効力は、解析又は評価のために登録回路配置を用いて半導体集積回路を製造する行為には、及ばない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).例文帳に追加

半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す（ステップＳ２２）。 - 特許庁

To reduce signal detection circuits and to perform accurate analysis without an influence of other channel components by solving the problem that the circuit scale is made large-sized by providing signal detection circuits for each channel frequency in order to analyze a signal to be tested which has an unknown channel frequency.例文帳に追加

チャネル周波数が不明の被試験信号を解析するために、チャネル周波数毎に信号検出回路を装備すると回路規模が大きくなってしまうので、信号検出回路を削減し、かつ、他のチャネル成分の影響を受けないで正確に解析する。 - 特許庁

To provide a method for performing the photochemical reaction or spectrum analysis of a fluid using a support unit for a microfluid system not receiving the severe restriction of the number or quantity of steps of reaction or analysis, easy to manufacture, and for densely mounting complicated fluid circuits.例文帳に追加

反応や分析のステップ数や量の制限が緩く、製造が容易であり、さらに複雑な流体回路を高密度に実装できるマイクロ流体システム用支持ユニットを用いて、流体の光化学反応または分光分析を行う方法を提供する。 - 特許庁

The trace acquisition circuits include rearrangement logic parts (115 and 215) for rearranging the instruction execution analysis information and the information acquired through the operand busses, allowing accurate tracing.例文帳に追加

上記トレース取得回路には、上記命令実行解析情報と上記オペランドバスから得られる情報とを並べ替える並べ替え論理部（１１５，２１５）を設け、的確なトレースを可能にする。 - 特許庁

The life-diagnosing system and method include a rotating machine 3, an accelerometer 36, analysis frequency data-extracting circuits (37, 4) comprising a frequency analysis apparatus 37 and an analysis frequency- determining means 4, and a life-judging means 6 for judging a life by obtaining the amount of time change in acceleration and comparing the amount of time change with a threshold.例文帳に追加

回転機３と、回転機の振動を測定する加速度計３６と、周波数解析装置３７と解析周波数決定手段４とで構成される解析周波数データ抽出回路（３７、４）と、加速度の時間変化量を求めこの時間変化量と閾値とを比較することにより寿命を判断する寿命判定手段６とを含む。 - 特許庁

Weight coefficient sum circuits 7-1 to 7-M multiply a prescribed weight coefficient with (N) signals from the analysis filter banks 6-1 to 6-N and sum the products and provide an output of the sum.例文帳に追加

荷重係数加算回路７−１乃至７−Ｍは、分析フィルタバンク６−１乃至６−Ｎからの複数Ｎ個の信号を所定の荷重係数で乗算した後加算して出力する。 - 特許庁

Timing analysis of a net list is performed at the time of logical synthesis and when breach of holding time is detected in a path between FF circuits 11, 12, the FF circuit 12 at a rear stage is replaced with an FF circuit 30 for correction.例文帳に追加

論理合成時に、ネットリストのタイミング解析を行ない、ＦＦ回路１１，１２間のパスにおいてホールドタイム違反を検出した場合、後段のＦＦ回路１２を修正用ＦＦ回路３０に置き換える。 - 特許庁

Timing analysis of a net list is conducted, and when a hold time violation is detected in a path between FF circuits 8 and 11, the FF circuit 8 or the FF circuit 11 is replaced by a modifying FF circuit unit 12.例文帳に追加

そして、ネットリストのタイミング解析を行ない、ＦＦ回路８，１１間のパスにおいてホールドタイム違反を検出した場合、ＦＦ回路８又はＦＦ回路１１を修正用ＦＦ回路ユニット１２に置き換える。 - 特許庁

To provide a support unit for a microfluid system not receiving the severe restriction of the number or quantity of steps of reaction or analysis, easy to manufacture, and for densely mounting complicated fluid circuits.例文帳に追加

反応や分析のステップ数や量の制限が緩く、製造が容易であるマイクロ流体システム用支持ユニット、さらに、複雑な流体回路を高密度に実装できるマイクロ流体システム用支持ユニットを提供する。 - 特許庁

The full color slippage data calculation circuits 112b (113b, 114b) consist only of adders and subtractors and employ an algorithm of digital differentiation analysis (DDA) to calculate the color slippage data of all the pixels from the color slippage data at a plurality of the positions.例文帳に追加

全画素色ずれデータ算出回路１１２ｂ（１１３ｂ、１１４ｂ）は、加算器と減算器のみにより構成され、デジタル微分解析（ＤＤＡ）のアルゴリズムを用いて複数箇所の色ずれデータから全画素の色ずれデータを算出する。 - 特許庁

In this case, after circuit design (S101), verification (S102) such as static timing analysis (STA) is performed, and the place and the number of programmable delay circuits to be inserted into the digital system are limited (S103) based on the result of the STA.例文帳に追加

この際に、回路設計後（Ｓ１０１）に静的タイミング解析（ＳＴＡ）などの検証（Ｓ１０２）を行い、このＳＴＡの結果に基づいて、ディジタルシステム内に挿入するプログラマブル遅延回路の場所および数を限定する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

In the case of using a database wherein information related to a plurality of circuits different from one another such as circuits having different parameters for a circuit scale, memory capacity, the number of pins, an operation frequency and the like, the parameters of each circuit are automatically analyzed, and a semiconductor integrated circuit is automatically designed so as to match to a requested specification according to the analysis design.例文帳に追加

回路規模，メモリ容量，ピン数，動作周波数などのパラメータが異なる回路などが互いに異なる複数の回路に関する情報が格納されているデータベースを用いる場合、各回路のパラメータを自動的に解析し、解析結果に応じて、要求仕様に適合するように半導体集積回路の設計を自動的に行なう。 - 特許庁

To provide a simultaneous bi-directional circuit which has the enhanced performance of an analysis of an error occurring when signals are transmitted and received between two information processing apparatuses or large scale integrated circuits via the same transmission line at the same time in bi-directional.例文帳に追加

２つの情報処理装置や大規模集積回路などの間で信号の送信及び受信を同一の伝送線路を介して同時にかつ双方向に行う場合の誤り発生時の解析性を向上させた同時双方向回路を提供する。 - 特許庁

A measurement target circuit analysis means 1c analyzes design circuit information stored in a design information storage means 1a to extract measurement target circuits that each prescribe an operation mode in a circuit block having a common operation mode, and corresponding feature information.例文帳に追加

測定対象回路解析手段１ｃは、設計情報記憶手段１ａに格納される設計回路情報を解析し、動作モードが共通の回路ブロックにおいて動作モードを規定する測定対象回路と、その特徴情報とを抽出する。 - 特許庁

An information analysis apparatus 4 creates function information indicative of a relation between the yield and wiring interval on the basis of the yield obtained by manufacturing products or samples of semiconductor integrated circuits having different wiring intervals in a factory 1.例文帳に追加

工場１で配線間隔の異なる半導体集積回路の製品または試料を製造したことにより得られた歩留まりに関する歩留まり情報２に基づいて、情報解析装置４が歩留まりと配線間隔の関係を表す関数情報を作成する。 - 特許庁

Multi-display circuits 101 receive a control command transferred from a control command issuing part through a control signal bus 01, analyzes the received control command, and generates a set value from an analysis result to set in a corresponding set circuit, thereby allowing the individual multi-display circuits 101 to obtain display data from the same area or different areas to display, resulting in obtaining various display images.例文帳に追加

マルチディスプレイ回路１０１は、制御コマンド発行部から制御信号バス０１を介して転送される制御コマンドを受信し、受信した制御コマンドの解析を行い、解析結果から設定値を生成して該設定回路に設定することで各々のマルチディスプレイ回路１０１が同一または、異なる領域の表示データを取り込み、表示することで、多彩な表示画像を得ることが可能になる。 - 特許庁

In the circuit constant analysis program, the equivalent circuit 1 is constituted of connecting a plurality (p) of unit equivalent circuits 10, in order to approximate the impedance of the equivalent circuit to the conductor surface impedance of a target metal, and a computer is made to function in order to calculate circuit constants (R, L) in the equivalent circuit impedance of the equivalent circuit 1.例文帳に追加

本発明は、対象とする金属の導体表面インピーダンスを近似すべく、単位等価回路１０を複数段（ｐ段）接続して等価回路１を構成し、前記等価回路１の等価回路インピーダンスにおける回路定数（Ｒ、Ｌ）を演算すべく、コンピュータを機能させる、回路定数解析プログラムである。 - 特許庁

A signal analysis section 17 simulates inputting of an electric signal into a specified place of semiconductor integrated circuits displayed on the screen, analyzes signal levels among the respective cells including wiring delay based on the layout corresponding width and wiring length of the wiring, and displays the acquired signal level on the wiring with different colors for the respective levels.例文帳に追加

信号解析部１７は、画面表示された半導体集積回路のうち、指定された箇所に模擬的に電気信号を入力し、各セルの信号処理機能、配線のレイアウト対応幅及び配線長に基づいて、配線遅延を含めて各セル間の信号レベルを解析し、得られた信号レベルを各レベル毎に異なる色で配線上に画面表示させる。 - 特許庁

This voice recognition device includes acquiring circuits (23, 24, and 25) which acquire signals including voice data generated by a user, detecting means (22 and 30) which detect a voice data end signal generated by the intervention of the user, and a voice data analyzing means 26 which can alters the development of analysis as a function of the voice data end signal.例文帳に追加

本発明の音声認識装置はユーザから発生された音声データを含む信号を捕捉する捕捉回路（２３、２４、２５）と、ユーザの介入によって発生される音声データ終了信号を検出する検出手段（２２、３０）と、音声データ終了信号の関数として解析の展開を変更することが可能な音声データを解析する手段（２６）を含む。 - 特許庁