contrast testとは 意味・読み方・使い方

To detect a failure in contact chain by effectively utilizing a testing pattern to conduct the voltage contrast test.例文帳に追加

ボルテージコントラスト検査を行う場合における検査パターンを有効に利用してコンタクトチェーンの不良を検出する。 - 特許庁

There are backgrounds (background) 11-1 to 11-4 and contrast areas 12-1 to 12-4 in the test patterns 21 to 24.例文帳に追加

テストパタン２１乃至２４には、バックグランド（背景）１１−１〜１１−４とコントラスト領域１２−１〜１２−４とが存在する。 - 特許庁

However, when there is an unexpected pattern of voltage potentials during the voltage contrast inspection, this indicates that a defect is present within the test structure.例文帳に追加

しかし電圧コントラスト検査中に予期されないパターンの電位が存在するとき、これは欠陥がテスト構造内に存在することを示す。 - 特許庁

To change the size of an aperture hole of an aperture member, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材の絞り開口の大きさを変更することを目的とする。 - 特許庁

Although pixel values of the backgrounds are different among the test patterns 21 to 24, the shapes of the contrast areas are the same.例文帳に追加

テストパタン２１乃至２４間では、バックグランドの画素値は異なっているが、コントラスト領域の形状は同じである。 - 特許庁

Such correction that makes the difference of the test object image and the reference image small is carried out in accordance with a contrast of the images.例文帳に追加

検査対象画像と参照画像の差異が小さくなるような補正を画像のコントラストに応じて行う。 - 特許庁

A test print 1 is generated (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential for forming an image is optimized based on density information obtained in the step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential in image formation is optimized by density information obtained in step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain a contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁