controls testedとは 意味・読み方・使い方

A control part (control means) of the component tester 1 controls the heads 48 and 52, so as to convey components in a dephased state, so that the components can be tested continuously at a test head.例文帳に追加

この部品試験装置１の制御部（制御手段）は、テストヘッドにおいて部品の試験が連続的に行われ得るように、ヘッド４８，５２による部品の搬送を位相をずらした状態で行うように制御する。 - 特許庁

To provide electronic equipment, particularly equipment for railway technologies that controls power equipment, that enables dielectrical capabilities of the electronic equipment to be tested in a laboratory and on site, and facilitotes provision of electrical safety connections which conform to a standard.例文帳に追加

本発明は、試験室と現場で電子装置の誘電性能を試験することが可能で、基準に一致する電気的に安全な結線を作ることが簡単な、電子装置、特に電力機器を制御する鉄道技術用の電子装置に関する。 - 特許庁

The testing device that tests devices to be tested comprises a plurality of testing units that test the devices to be tested; a controller that sends commands to the plurality of testing units, respectively and controls the operations of the plurality of testing units, respectively; and a trace memory that receives in sequence the commands sent from the controller to the plurality of testing units, respectively to store the commands.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを順次受信して記憶するトレースメモリとを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験方法は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁

When the semiconductor device 30 is tested, a calibration data acquiring circuit 18 measures the jitter width of each test signal, controls the delay amount of each comparison variable delay circuit 12 and regulates the skew such that the position at a specific ratio of the jitter width overlaps among the test signals.例文帳に追加

半導体装置３０の試験に際して、キャリブレーションデータ取得回路１８は、各テスト信号のジッタ幅を測定し、各比較可変遅延回路１２の遅延量を制御して、各テスト信号のジッタ幅の特定比率位置が信号間で重なるようにスキュー調整を行う。 - 特許庁

The coverage analysis part instructs the control part not to extract coverage information about once tested logic elements, and the control part controls the logic simulation execution part in response to the instruction to stop extracting coverage information from the logic elements excluded from the extraction.例文帳に追加

前記カバレッジ解析部は、一度テストされた論理素子に関するカバレッジ情報は抽出しない旨の指示を前記制御部に出し、前記制御部は、その指示に基づいて、前記論理シミュレーション実行部を制御して抽出しない対象の論理素子からのカバレッジ情報の抽出動作を中止させる。 - 特許庁

A controller unit controls the super-magnetostrictive actuators respectively used for tensile / compressive and torsional operations, based on a tensile / compressive load and a torsional torque on the object to be tested, which are detected by a load / torque sensor, or based on a tensile / compressive displacement and a rotational displacement of the movable chuck, which are detected by a noncontact displacement gauge.例文帳に追加

制御装置は、荷重トルクセンサで検出された供試体の引張圧縮荷重および捻りトルク、または非接触変位計で検出された可動チャックの引張圧縮変位および回転変位に基づいて、超磁歪アクチュエータおよび捻り用超磁歪アクチュエータを制御する。 - 特許庁

The device test equipment 100 includes a stage 40 for mounting the device to be tested 130, a medium supply means 80 which supplies a medium consisting of a liquid or gas on the stage, and a temperature control means 30 which controls the stage temperature below freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験装置（１００）は、被試験デバイス（１３０）を搭載するためのステージ（４０）と、ステージ上に液体もしくは気体からなら媒介物を供給する媒介物供給手段（８０）と、ステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御手段（３０）と、を備える。 - 特許庁