film lotとは 意味・読み方・使い方

In a thin film magnetic head indentified based on a lot number of a plurality of digits given to the particular position of a slider, a check code for error correction which is given to each lot number by a prescribed rule is formed near the lot number.例文帳に追加

スライダの特定位置に付与された複数桁のロット番号に基づき個体識別される薄膜磁気ヘッドにおいて、ロット番号の近傍に、各ロット番号に対して所定のチェックルールで与えられる誤り検出用のチェックコードを形成する。 - 特許庁

As the coating film formed with cyclodextrin is extremely thin, a lot of pores can be uniformly coated with a small amount of cyclodextrin.例文帳に追加

シクロデキストリンの形成する被膜は極めて薄いため、少ない含浸量でより多くの気孔を均一に被覆することができる。 - 特許庁

The whole filter medium is preferably not formed in a film, and a lot of irregularities are formed by majolica pleating.例文帳に追加

好ましくは濾過材全体がフィルム化しておらず、多数の凹凸がマジョリカプリーツ加工により形成されている。 - 特許庁

To provide a releasing film, which improves the productivity of a resin mold molding process, the yield of products, the mark visibility of the lot number of product or the like.例文帳に追加

樹脂モールド成形工程の生産性、製品歩留まり、製品のロット番号のマーク視認性等を向上する離型フィルムを提供する。 - 特許庁

Further, an ink of the same color family as this oxide film 40 is injected on the end face 21 by an ink jet method and a lot number 25 is printed.例文帳に追加

さらに端面２１にはこの酸化膜４０と同系色のインクをインクジェット方式によって噴射してロット番号２５を印字する。 - 特許庁

Consequently, the sudden change of the composition of the paste P before and after the switching of the production lot, can be inhibited and thereby, the coating of the paste P in a stable film thickness can be achieved.例文帳に追加

したがって、ロット切り替え前後でのペーストＰの急激な組成の変化を抑制でき、安定した膜厚でペーストを塗工できる。 - 特許庁

Accordingly, a lot of dopants can be taken in the epitaxially grown film of the P wafer Wp by intentionally evaporating a lot of dopants from the As wafer Wa, when the epitaxial film is grown in vapor phase in the P wafer Wp together with the As wafer Wa.例文帳に追加

このため、ＡｓウェハＷａとともにＰウェハＷｐにエピ膜を気相成長させるときに、ＡｓウェハＷａから多量のドーパントを意図的に蒸発させることで、ＰウェハＷｐのエピ成長膜に多量のドーパントを取り込ませることができる。 - 特許庁

In other words, one substrate is extracted to be made a substrate for evaluation among a plurality of substrates for film deposition obtained from the same manufacturing lot, and by measuring the stress in the substrate for evaluation, the direction of the residual stress in the front and back faces of the substrate for film deposition in the manufacturing lot can be estimated.例文帳に追加

すなわち、同一の製造ロットで得られる複数の成膜用基板から、あらかじめ１枚を抜き取って評価基板とし、この評価基板の応力測定を行うことによって、その製造ロット内の成膜用基板の表裏両面の残留応力方向を事前に見積もることができる。 - 特許庁