low temperature sampleとは 意味・読み方・使い方

The low-temperature device (28) provides a low-temperature background relative to the sample (12) so as to increase the emissions from the sample (12), and also to reduce the background emission.例文帳に追加

この低温デバイス（２８）はサンプル（１２）に対して低温のバックグラウンドを提供するので、サンプル（１２）からの放射を強め、且つバックグラウンドの放射を減少させることができる。 - 特許庁

The sampling of the sample from the specimen S is separated from the thermal decomposition of the sampled sample, and the sample is sampled by a low-temperature probe and the sampled sample is thermally decomposed at a high temperature, thus restraining the heating temperature of the probe to a low temperature for preventing the probe from deteriorating, and reducing the time until thermal decomposition occurs.例文帳に追加

被検体Ｓからのサンプルの採取と採取したサンプルの熱分解とを分離し、低温のプローブでサンプルを採取し採取したサンプルを高温で熱分解することによって、プローブの加熱温度を低温に抑えてプローブの劣化を防ぎ、熱分解が起きるまでの時間を短縮する。 - 特許庁

To bring a sensor closer to a sample at a room temperature by correcting the displacement of the sensor at low temperature by heat shrinkage in cooling.例文帳に追加

冷却時の熱収縮による低温のセンサの変位を補正し、センサと常温の試料を接近させる。 - 特許庁

To provide a sample replacement mechanism capable of preventing damage of a sample-stage support part cooled down to an extremely low temperature at a replacement operation of a sample cooled.例文帳に追加

冷却した試料の交換操作時に、極低温に冷却された試料ステージ支持部の破損を防止できる試料交換機構の提供を目的とする。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

To illustrate, a sample 34 placed at the end 20 of a sample holder 7 can be maintained at a temperature of liquid nitrogen in a low temperature TEM (transparent electron microscope) as its embodimenet.例文帳に追加

例えば、低温ＴＥＭ（透視型電子顕微鏡）において、試料ホルダ７の末端２０に配置される試料３４が、例えば、液体窒素の温度に維持され得る。 - 特許庁

For example, it is required that the sample can be tested by a simple method at room temperature without entirely heating the microscope from a low temperature to a high temperature.例文帳に追加

例えば、顕微鏡を低温から室温に全体的に加熱することなしに、簡単な方法において室温で試料を検査し得る必要がある。 - 特許庁