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map testとは 意味・読み方・使い方
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「map test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 57件
DEVICE AND METHOD FOR FABRICATION OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST MAP CHART例文帳に追加
半導体ウエハテストMAP図作成装置及び方法 - 特許庁
A nominal measurement map is created based upon a test video input, and an attention probability map is created based upon a test video input.例文帳に追加
テスト・ビデオ入力に基づいて公称測定マップを作成し、テスト・ビデオ入力に基づいて注視点確率マップを作成する。 - 特許庁
A self-organizing map is created with the clinical test result as learning data.例文帳に追加
臨床検査結果を学習データとして自己組織化マップを作成する。 - 特許庁
METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE例文帳に追加
物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁
This radar is constituted so that a test forbidden area is recorded in a test forbidden map information circuit 85 based on a test forbidden map production instruction from the outside, and that the test forbidden area is compared and collated with detection at the search time, to thereby perform management of the test beam.例文帳に追加
外部からの検定禁止マップ作成指示をもとに、検定禁止エリアを検定禁止マップ情報回路85に記録し、この検定禁止エリアと捜索時の検出とを比較照合して検定ビームのマネージメントを行うように構成した。 - 特許庁
In the MAP chart, the chip IDs are substituted with the quality display information based on the test results.例文帳に追加
MAP図では、チップIDがテスト結果に基づいて品質表示情報に置換されている。 - 特許庁
(3) The film frame is put on a test device, and the test device re-tests the plurality of semiconductor devices based on the information of the first map.例文帳に追加
(3) フィルムフレームをテスト装置に置き、テスト装置が、第1マップの情報に基づき、複数の半導体デバイスに再テストを行う。 - 特許庁
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「map test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 57件
From the wafer map data 30 which shows whether an effective chip area passed a test or not, one of defective chip coordinates is selected with a test data "1".例文帳に追加
有効チップ領域の検査合否を表すウエーハマップデータ30から検査データが“1”である不良チップ座標を1つ選択する。 - 特許庁
The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加
情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁
To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.例文帳に追加
使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるMAP図を作成する半導体ウエハテストMAP図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁
When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加
キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ(106)、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ(108)、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁
To solve a problem that map data are newly prepared in a conventional practice every time a drive range of an automobile being a test target changes because the conventional technique requires map data being information to create a map for the drive range of the automobile.例文帳に追加
従来は、自動車の走行範囲の地図の作成情報である地図データを必要とするため、試験の対象となる自動車の走行範囲が変わる度に地図データを新たに用意しなければならない。 - 特許庁
The test data of a bit map image and a plotting command are held in a storage section 12 of a scanner 100 and when carrying out test printing, these test data are transmitted to a printer 200 via an interface 15.例文帳に追加
スキャナ100の記憶部12にビットマップイメージと描画コマンドのテストデータを保持し、テストプリント実行時にこれらのテストデータをインターフェース15を介してプリンタ200に送信する。 - 特許庁
An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加
車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE例文帳に追加
リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁
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