「map test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.例文帳に追加

使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるＭＡＰ図を作成する半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁

From the wafer map data 30 which shows whether an effective chip area passed a test or not, one of defective chip coordinates is selected with a test data "1".例文帳に追加

有効チップ領域の検査合否を表すウエーハマップデータ３０から検査データが“１”である不良チップ座標を１つ選択する。 - 特許庁

(3) The film frame is put on a test device, and the test device re-tests the plurality of semiconductor devices based on the information of the first map.例文帳に追加

(３) フィルムフレームをテスト装置に置き、テスト装置が、第１マップの情報に基づき、複数の半導体デバイスに再テストを行う。 - 特許庁

In the MAP chart, the chip IDs are substituted with the quality display information based on the test results.例文帳に追加

ＭＡＰ図では、チップＩＤがテスト結果に基づいて品質表示情報に置換されている。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE例文帳に追加

リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁

The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加

情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁

The test data of a bit map image and a plotting command are held in a storage section 12 of a scanner 100 and when carrying out test printing, these test data are transmitted to a printer 200 via an interface 15.例文帳に追加

スキャナ１００の記憶部１２にビットマップイメージと描画コマンドのテストデータを保持し、テストプリント実行時にこれらのテストデータをインターフェース１５を介してプリンタ２００に送信する。 - 特許庁

To provide the wafer map display device of a semiconductor test device, which can display a chip and a character in sizes corresponding to the window size of wafer map display.例文帳に追加

ウエハマップ表示のウィンドウサイズに対応した大きさでチップと文字を表示可能とする半導体試験装置のウエハマップ表示装置を提供する。 - 特許庁

The bit map plotted by the pattern creation and display processing section 3 is displayed on the display 5 as test pattern.例文帳に追加

パターン作成表示処理部３により描画したビットマップを、テストパターンとしてディスプレイ５に表示させる。 - 特許庁

A failure bit map (FBM) 11 is displayed on the basis of failure address information 10 provided by a TEST 3.例文帳に追加

ＴＥＳＴ３により得られた不良アドレス情報１０に基づき不良ビットマップ（ＦＢＭ）表示１１を行う。 - 特許庁

These image data and the bit map image are test-printed from an output section 26 under printing control due to a printing control section 22.例文帳に追加

このイメージデータとビットマップイメージを印刷制御部２２で印刷制御して出力部２６からテストプリントする。 - 特許庁

To solve a problem that map data are newly prepared in a conventional practice every time a drive range of an automobile being a test target changes because the conventional technique requires map data being information to create a map for the drive range of the automobile.例文帳に追加

従来は、自動車の走行範囲の地図の作成情報である地図データを必要とするため、試験の対象となる自動車の走行範囲が変わる度に地図データを新たに用意しなければならない。 - 特許庁

The holding tray is operated using an obtained map to align each individual die, with respect to a test probe, in order to execute testing, by bringing the individual die into contact with the test probe.例文帳に追加

個別ダイと試験プローブとを接触させて試験を実施するために、各個別ダイを試験プローブに相対させるよう、得られたマップを用いて保持トレイを操作する。 - 特許庁

When a sub-test in the test flow is executed, a map 800 of linked data nodes 802-814 is indexed by using a key 500a formed from (1) a numerical value identifier of the sub-test and (2) the array of the context values.例文帳に追加

テストフロー内のサブテストを実行すると、リンクされたデータノード８０２〜８１４のマップ８００は、（１）サブテストの数値識別子と（２）コンテキスト値のアレイとから形成されたキー５００ａを使用して索引を付けられる（１０４）。 - 特許庁

In the printer 200 where the test data are received, the test data of the plotting command are converted into image data by an image processing section 21 and rasterized to be converted into image data of a bit map format.例文帳に追加

受信したプリンタ２００では、描画コマンドのテストデータを画像処理部２１でイメージデータに変換してラスタライズ処理することによりビットマップ形式のイメージデータに変換する。 - 特許庁

The electron beam device irradiates primary electron beams generated by an electron gun on a test piece and forms the secondary electrons emitted from the test piece on a detector by a map projection optical system.例文帳に追加

電子銃により発生させた一次電子ビームを試料に照射し、試料から放出される二次電子を写像投影光学系により検出器に結像させる電子線装置。 - 特許庁

An image forming system processor can compare the color of the predicted test patch after the stabilizing with a desired color of a test patch in order to calibrate a color map to be used in the image forming system.例文帳に追加

画像形成システムプロセッサは、画像形成システムによって使用されるカラーマップを較正するため、予測された安定後のテストパッチカラーを所望のテストパッチカラーと比較することができる。 - 特許庁

An imagery processing section 2 processes imagery data generated by imaging of the test object to determine whether a domain on the test object exists corresponding to the domain on the map.例文帳に追加

画像処理部２は、検査対象物の撮像により生成された画像データを処理し、マップ上の領域と対応する検査対象物上の領域が存在するか否かを判断する。 - 特許庁

An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.例文帳に追加

車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁

To provide a map information generation device, a map information generation method, a map information generation program, and a recording medium for recording the map information generation program capable of organizing a GIS having the optimum response performance even if a test using a geographic information database of an actually-used actual scale level can not be performed.例文帳に追加

実際に使われている実規模レベルの地理情報データベースを用いてテストを実施することができなくても、応答パフォーマンスが最適なＧＩＳを構築し得る地図情報作成装置、地図情報作成方法、地図情報作成プログラム、地図情報作成プログラムを記録する記録媒体を提供する。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス／フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A calculation processing part 240 creates a fail bit map on the basis of the test result and the calculation expression selected by the calculation expression selection part 238.例文帳に追加

計算処理部２４０は、試験結果と、計算式選択部２３８によって選択された計算式と、に基づいてフェイルビットマップを作成する。 - 特許庁

In a system comprising a test system 20 and a manufacture system, the yield of the MEMS gyro usable per wafer can be heightened by production of a motor bias map and production of the MEMS gyro based on the motor bias map.例文帳に追加

テストシステム２０と製造システムからなるシステムにおいて、モータバイアスマップの生成と該モータバイアスマップに基づいてMEMSジャイロを生成することにより、ウェハ当たりの使用可能なMEMSジャイロの歩留まりを高めることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a transformation table for transforming fail bit map data in the test process of a semiconductor memory into physical coordinates using design data.例文帳に追加

半導体メモリのテスト工程におけるフェイルビットマップデータを物理座標に変換するテーブルを設計データを利用して作成する方法を提供する。 - 特許庁

To calibrate a channel gain map using only dark image data obtained in a test mode in a digital imaging system, and to automatically calibrate the channel gain map in a non-operation time of the system to cope with an influence of an environment.例文帳に追加

ディジタル・イメージング・システムにおいて、試験モード時に得られる暗画像データのみを用いてチャネル・ゲイン・マップを較正し、また環境の影響に対処するようにシステムの非稼働時間にチャネル・ゲイン・マップを自動的に較正する。 - 特許庁

Then fuel consumption in a fuel consumption reference test and fuel consumption based on the virtual map are compared, and correction processing of CO2 discharging specific consumption is executed so that an error becomes small.例文帳に追加

更に、燃費基準試験の燃費と仮想マップに基づく燃費とを比較し、誤差が小さくなるように、ＣＯ２排出原単位の修正処理を実行する。 - 特許庁

Further, the driver's aid auxiliary device 5b causes the auxiliary display device 4b to display the travel route for travel test which is superposed with a map data corresponding to the travel route.例文帳に追加

さらに、ドライバーズエイド補助装置５ｂは、補助表示装置４ｂに走行試験を行う走行経路と、この走行経路に対応する地図データを重ねて表示させる。 - 特許庁

After the similarity degree is calculated concerning a plurality of features recorded in the map data MD, a threshold calculating part 104 obtains a threshold from the statistic distribution of the similarity degrees by a Welch test.例文帳に追加

地図データＭＤに記録された複数の地物について類似度を算出した後、閾値算出部１０４は、類似度の統計分布からウェルチ検定により閾値を求める。 - 特許庁

An AND region is calculated overlapping the position of a chip that becomes defective in a measurement test for a semiconductor wafer to be tested, and the latent defective region map.例文帳に追加

被検査対象の半導体ウェハの実測テストで不良となったチップの位置と、前記潜在不良領域マップとが重なったＡＮＤ領域を算出する。 - 特許庁

A controller 6 generates a map indicating positional relation of a plurality of domains on a test object, for which a predefined pattern is formed, according to predetermined conditions.例文帳に追加

制御部６は、所定のパターンが形成された検査対象物上の複数の領域の位置関係を示すマップを、予め設定された条件に従って生成する。 - 特許庁

Secondary electron emitted from a test piece by irradiation of primary electron beam in a rectangular field of view on the test piece 9 is magnified by a map projection optical system and guided to a plane detector or a linear detector by a secondary electron optical system.例文帳に追加

試料９上に長方形の視野で１次電子ビームが照射されることにより試料から放出された２次電子は、２次電子光学系により、写像投影光学系で拡大しかつ面検出器又は線検出器に導かれる。 - 特許庁

To provide a verification method and a verification device for a control map for forced reproduction of a DPF (Diesel Particulate Filter), which verifies through a simple technique the adaptability of a map created analytically or a map created by a test, and verifies even if the performance of DOC (Diesel Oxidation Catalyst) deteriorates due to aging.例文帳に追加

解析的に作成されたマップや試験によって作成されたマップに対して、マップの適合性を簡単な手法で検証できるとともに、経年変化によってＤＯＣの性能劣化が生じた場合においても、検証ができるＤＰＦの強制再生用制御マップの検証方法および検証装置を提供すること。 - 特許庁

An input vector composed of the value of the clinical test result of a subject is inputted to the completed self-organizing map to display the medical examination and treatment support information corresponding to an fired cell.例文帳に追加

完成された自己組織化マップに被験者の臨床検査結果の値からなる入力ベクトルを入力し、発火したセルに対応する診療支援情報を表示させる。 - 特許庁

On the undersurface of a map substrate 200 used for manufacturing a lower stage side package of a POP-type semiconductor device, a plurality of lands 107 for balls and a plurality of lands 108 for test are formed.例文帳に追加

ＰＯＰ型半導体装置の下段側パッケージの製造に用いるマップ基板２００の下面には、複数のボール用ランド１０７と複数のテスト用ランド１０８とが形成されている。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.例文帳に追加

一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁

To shorten the time required for displaying, by simplifying operation for displaying a physical map from a result of a memory test of a semiconductor integrated circuit device(IC), mixed in plural memory blocks.例文帳に追加

複数のメモリブロックが混在する半導体集積回路装置（ＩＣ）のメモリテストの結果から、物理マップを表示するための作業を簡略化し、表示までの時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

An inverted drawing 2a in a form with the position (feature point coordinate of each line) of road boundary line, facility line, leader line, etc., in a real drawing 1a obtained from the existing large scale map/facility database inverted in the north-south direction of the area is generated, and the map/facility application is tested based on this inverted drawing data for test.例文帳に追加

既存の大規模な地図・設備データベースから得られる実図面１ａの道路境線，設備線や引出線などの位置（各線の特徴点座標）を当該エリアの南北方向に反転させた形の反転図面２ａを作成し、このテスト用の反転図面データに基づいて地図・設備用アプリケーションのテストを行なう。 - 特許庁

The plurality of lands 108 for test are arranged on the peripheral portion side (the side close to a dicing region DA) of the undersurface of the map substrate 200, and an Au plating layer is formed on the surface thereof by electrolytic plating.例文帳に追加

複数のテスト用ランド１０８は、マップ基板２００の下面の周縁部側（ダイシング領域ＤＡに近い側）に配置されており、それらの表面には電解メッキ法によってＡｕメッキ層が施される。 - 特許庁

When an operator designates test print by operating an operating section 5, a CPU 1 reads in the set values of various setting items stored in an EEPROM 13 and generates bit map image data corresponding to the set values of various setting items.例文帳に追加

オペレータが操作部５を操作してテスト印字を指示すると、ＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ１３に記憶されている各種設定項目の設定値を読み込み、各種設定項目の設定値に対応するビットマップイメージデータを生成する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam lithography method and a charged particle beam lithography apparatus, capable of creating a map even when any measurement error occurs and accurately converge a charged particle beam on the surface of a test piece on the basis of the results.例文帳に追加

測定エラーが生じた場合であってもマップを作成し、その結果を基に荷電粒子ビームを試料の表面に正確に収束させることが可能な荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

When clutter map data 10 prepared without using CFAR processing are referred to detect the target, the radar signal processor has processing changing parts 11, 12 for being changed into the CFAR processing when an object is a clutter region, and fixing threshold test when it is a clutter-free region.例文帳に追加

ＣＦＡＲ処理を用いずに作成したクラッタマップデータ１０を参照して目標検出するときに、対象がクラッタ領域のときはＣＦＡＲ処理に、クラッタフリー領域のときは固定スレッショルド検定に切替える処理切替部１１、１２を備える。 - 特許庁

To provide an engine control device, in which burdens of conformance test work requiring the huge numbers of tests and map preparation work are reduced and controllability of simultaneous matching of a plurality of sorts of engine output values with request values is improved.例文帳に追加

膨大な試験点数を要する適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減を図るとともに、複数種類のエンジン出力値を同時に要求値に一致させることに対する制御性向上を図ったエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁