「map test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an engine control apparatus, reducing burdens of conformance test work and map preparation work, avoiding degradation in controllability caused by mutual interference, and making engine output values get closer to request values even when controlled variables are restricted not to exceed a range of use.例文帳に追加

適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減、及び相互干渉による制御性悪化回避を図るとともに、制御量が使用範囲を超えないよう制限されている場合であっても、エンジン出力値を要求値に近づけることができるエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

With respect to the semiconductor integrated circuit incorporating a data cache and the at-speed test method thereof, decoding is executed without considering fixed bits to map a plurality of addresses of the data cache to one address of a on-chip memory per prescribed address unit when address decoding of the data cache is performed.例文帳に追加

ここに開示されたデータキャッシュが内蔵した半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法は、データキャッシュのアドレスデコーディング時、一定ビットを考慮しなくデコーディングを実行して、データキャッシュの複数個のアドレスを所定のアドレス単位ごとにオンチップメモリの一つのアドレスにマッピングさせる。 - 特許庁

The mass M of the vibration isolated object is stepwise changed in a preset range, and optimum values for feedback control gains Gc corresponding to mass values Mi (i=1 to n) are found through experimental test to create a mass/gain map which is stored in a memory 21 of a controller 20.例文帳に追加

除振対象物の質量Ｍを所定範囲内で段階的に変更し、各質量値Ｍｉ（ｉ＝１〜ｎ）にそれぞれ対応するフィードバック制御ゲインＧcの最適値を実験により求めて質量・ゲインマップを作成し、これをコントローラ２０のメモリ２１に記憶させる。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁