migration testとは 意味・読み方・使い方

The generator also creates a migration file for creating the model's database table,and creates unit test and fixture stubs for writing model tests.例文帳に追加

ジェネレータでは、モデルのデータベース表を作成するためのマイグレーションファイル、単体テスト、およびモデルテストを記述するためのフィクスチャースタブも作成されます。 - NetBeans

To provide an electronic part device capable of efficiently preventing the occurrence of cracks and the failure of Ag migration of a conductor land in a temperature cycle test or the like.例文帳に追加

温度サイクル試験等におけるクラックの発生、及び導体ランドのＡｇのマイグレーション不良を有効に防止できる電子部品装置を提供する。 - 特許庁

The accelerated test process includes a stage for maintaining the temperature of the semiconductor device within a temperature range of plus and minus 40°C of a temperature for mostly accelerating the stress migration for 0.4 hour or longer.例文帳に追加

加速試験工程は、半導体装置の温度をストレスマイグレーションが最も加速される温度の前後４０℃の温度帯で０．４時間以上保持する段階を有する。 - 特許庁

By using such materials for the binding material layer 16 of the fixing tape 9, migration of the copper of the lead 4 can be controlled even if a strict degradation test of environmental degradation conditions is done.例文帳に追加

このような材料を固定用テープ９の接着材層１６に用いることにより、環境劣化条件の厳しい劣化試験を行っても、リード４の銅のマイグレーションが抑制される。 - 特許庁

This method includes an accelerated test process for eliminating initial failure due to stress migration of wires occurring in a semiconductor device having wires made of copper or a copper alloy as the main component.例文帳に追加

銅或いは銅を主成分とする合金から成る配線を有する半導体装置に発生する配線のストレスマイグレーションによる初期不良を除去する加速試験工程を有する。 - 特許庁

This predicting device of the migration resistance of the printed board includes: an acceleration degradation test section for obtaining Cole-Cole plot by applying alternating voltage to the printed board degraded in the acceleration degradation test environment; and a calculating means for predicting the migration resistance of the printed board, based on the presence of Warburg impedance (Fw) on the obtained Cole-Cole plot.例文帳に追加

また、加速劣化試験環境において劣化させたプリント配線板に交流電圧を印加してＣｏｌｅ−Ｃｏｌｅプロットを得る加速劣化試験部、および得られたＣｏｌｅ−Ｃｏｌｅプロット上のワールブルグインピーダンス（Ｆｗ）の存在に基づいて、プリント配線板の耐マイグレーション性を予測する計算手段を具備している、プリント配線板の耐マイグレーション性予測装置とする。 - 特許庁

To provide an evaluation method which enables the simple and rapid evaluation of the insulation reliability of a two-layered flexible substrate easy to produce a microquantity of ion migration in place of a conventional HHBT test method.例文帳に追加

微量のイオンマイグレーションが発生しやすい２層フレキシブル基板の絶縁信頼性について、従来のＨＨＢＴ試験方法に代えて、簡単且つ迅速に実施できる評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting structure for an electronic component with a bump by which the generation of an open defect in a heat cycle test or the like is prevented, and by which a migration defect between electrode pads can be prevented effectively.例文帳に追加

本発明は、温度サイクル試験等におけるオープン不良の発生を防止し、電極パッド間のマイグレーション不良を有効に防止できるバンプ付電子部品の実装構造を提供することにある。 - 特許庁