mounted device testingとは 意味・読み方・使い方

This impact testing device is provided with a testing table 5 mounted with the testing object 3, and an impact applying means 1 for applying an impact on the whole face of a testing objective face 3a of the testing object 3, using a bag (object) 17 having any property out of elasticity, viscosity and viscoelasticity.例文帳に追加

試験対象物３が載置される試験台５と、試験対象物３の試験対象面３ａの全面に、弾性、粘性、粘弾性のうちのいずれかの性質を有する袋（物体）１７を用いて衝撃を与える衝撃付与手段１とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, where a testing unit optimal to a memory macro can be tested on an optimal testing condition in the case of testing the memory macro mounted in the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置に搭載されたメモリマクロの試験の際、メモリマクロに最適な試験単位を最適な試験条件で試験することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

SENSOR HOLDER, HOLDER UNIT IN WHICH BLOOD SENSOR IS MOUNTED TO THE SENSOR HOLDER, AND BLOOD TESTING DEVICE TO WHICH THE HOLDER UNIT IS MOUNTED例文帳に追加

センサホルダと、このセンサホルダに血液センサが装着されたホルダユニットと、このホルダユニットが装着される血液検査装置 - 特許庁

OPTICAL PICKUP DEVICE, ELECTRONIC DEVICE HAVING THE OPTICAL PICKUP DEVICE MOUNTED THEREON, AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE OPTICAL PICKUP DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法 - 特許庁

This testing handler includes a loading device for loading a device on a testing tray, a posture changing device 100 for posture-changing the testing tray, the soaking chamber 10 for storing sequentially the posture-changed testing trays, temperature control means 150, 180 for preheating/precooling the device mounted on the testing tray, and an unloading device for unloading the test-finished device to a user tray.例文帳に追加

ディバイスをテストトレーにロードさせるロード装置と、テストトレーを姿勢変換させる姿勢変換装置１００と、姿勢変換されたテストトレーを順次収納するソークチャンバー１０と、テストトレーに積載されたディバイスを予熱／予冷する温度制御手段１５０、１８０と、テストが終了したディバイスをユーザートレーにアンロードさせるアンロード装置とを包含して構成される。 - 特許庁

This testing device is equipped with a testing device body for applying a prescribed load repeatedly on the test piece having a notch for cracking to develop a crack on the test piece, and an imaging means for imaging the cracking surface of the test piece mounted on the testing device body and served for a fatigue crack test.例文帳に追加

亀裂発生用の切欠きを備えた試験片に所定の負荷を繰り返し加えて該試験片に亀裂を生起する試験装置本体と、この試験装置本体に装着されて疲労亀裂試験に供されている試験片の亀裂発生面を撮像する撮像手段とを備える。 - 特許庁

To detect contact failure when an integrated circuit of a measured device is mounted on a testing device.例文帳に追加

被測定デバイスである集積回路を試験装置に実装した場合の接点不良を検出することができる集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.例文帳に追加

バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁