overcurrent testとは 意味・読み方・使い方

To test an overcurrent interrupting function of a circuit breaker, in a state with the supply of a load current maintained.例文帳に追加

負荷電流の供給を維持した状態で、配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施する。 - 特許庁

To provide an electronic ground-fault interrupter having an overcurrent determination function and a ground fault determination function which are integrated into a CPU that can suppress a tripping operation based on ground fault determination during a test of overcurrent characteristics for each pole unit of the interrupter through unipolar energization, and conducting a correct test of the overcurrent characteristics.例文帳に追加

過電流判定機能と漏電判定機能とを一つのＣＰＵに集約した電子式漏電遮断器において、単極通電による遮断器各極単位での過電流特性試験時に漏電判定に基づくトリップ動作を抑制し、過電流特性試験を正しく行うことができる電子式漏電遮断器を得る。 - 特許庁

By sharing a guard ring of an ESD protective element, and a cathode of a latch-up protection diode for protecting from the overcurrent noise in a latch-up test, an internal circuit is protected from both the overcurrent noise of an ESD and the overcurrent noise in a latch-up test, and the size of the electrostatic protection circuit device can be reduced.例文帳に追加

ＥＳＤ保護素子のガードリングとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護するラッチアップ保護ダイオードのカソードを共有することにより、ＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズの両方のノイズから、内部回路を保護しつつ、静電保護回路装置のサイズ縮小を図ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system not making an unnecessary evaluation of a device by immediately identifying a defect cause in a semiconductor test system having an overcurrent protective device in a control signal output circuit of a test head.例文帳に追加

テストヘッドの制御信号出力回路に過電流保護装置を備えた半導体試験システムにおいて、不良原因が即座に特定され、無駄なデバイス判定を行うことのない半導体試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tester particularly applied to avalanche breakdown test in a discrete element so that an overcurrent is properly prevented.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特にディスクリート素子におけるアバランシェ破壊試験に適用して、適切に過電流を防止することができるようにする。 - 特許庁

A means is also provided, for cutting-off a current supply to the semiconductor device when detecting the overcurrent flow in the semiconductor device during the test.例文帳に追加

また試験中に半導体装置に過電流が流れたことが検知されたときに当該半導体装置への通電を遮断する手段を有する。 - 特許庁

To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.例文帳に追加

配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor wafer, when the wafer is tested, a semiconductor device in which overcurrent flows is detected among a plurality of semiconductor devices formed on the semiconductor wafer, and then power supply to the semiconductor device in which the overcurrent flows is shielded automatically.例文帳に追加

ここに開示された半導体ウェーハ及びそれのテスト方法は、テスト時、半導体ウェーハ上に形成された複数個の半導体装置のうち過電流が流れる半導体装置を検出し、 過電流が流れる半導体装置の電源供給を自動的に遮断する。 - 特許庁